本发明专利技术属于一种检验装置，具体是涉及到一种电子器件检验装置，包括测试模块、机架和设置在机架上的支撑架，机架上设置有托盘槽，支撑架上设置有可朝向托盘槽滑动的下压杆,下压杆靠近托盘槽一侧设置有与托盘槽对应的托盘，托盘朝向托盘槽一侧设置有与待测电子器件结构一致的电子器件安装槽，托盘槽朝向电子器件安装槽一侧以及电子器件安装槽内侧设置有与待测电子器件连接触点对应的连接触头，托盘和托盘槽上还对应设置有电连接结构，电连接结构与连接触头以及测试模块电连接，本发明专利技术对多侧有连接触点的电子器件进行测试时，可一次性对应电子器件的所有功能、单元进行测试，很好的模拟电子器件的应用环境，极大的提高了测试效率。率。率。
【技术实现步骤摘要】
一种电子器件检验装置
[0001]本专利技术属于一种检验装置，具体是涉及到一种电子器件检验装置。
技术介绍
[0002]目前有些传统电子器件，例如芯片、主板等的检验方法是人工或者半自动检验方式，每一检验项目都需要人工操作，有些电子器件是新兴的技术，需要对检验人员有较高的技术素养，并且人工或者半自动的检测存在很大的不确定性因素，从而导致产品可能在检验后遗漏检验项目，导致产品存在质量隐患，同时，目前有很多电子器件的接线端口位于电子器件的多个面上，目前普通的检验装置需要多次翻转电子器件进行多次检验才能对其进行全面检查，测试效率低，耗时长。
技术实现思路
[0003]本专利技术要解决的技术问题是提供一种适配多种电子器件检验以及检验效率高的电子器件检验装置。
[0004]本专利技术的内容包括测试模块、机架和设置在机架上的支撑架，所述机架上设置有托盘槽，支撑架上设置有可朝向托盘槽滑动的下压杆,下压杆靠近托盘槽一侧设置有与托盘槽对应的托盘，托盘朝向托盘槽一侧设置有与待测电子器件结构一致的电子器件安装槽，所述托盘槽朝向电子器件安装槽一侧以及电子器件安装槽内侧设置有与待测电子器件连接触点对应的连接触头，所述托盘和托盘槽上还对应设置有电连接结构，所述电连接结构与连接触头以及测试模块电连接。
[0005]更进一步地，所述托盘与下压杆可拆卸连接。
[0006]更进一步地，所述支撑架上还设置有导向板，导向板内设置有导向孔，所述下压杆与支撑架和导向板滑动连接。
[0007]更进一步地，所述下压杆位于导向板与支撑架之间设置有复位弹簧。
[0008]本专利技术还包括用于检测托盘与托盘槽是否嵌合的检测开关，所述检测开关设置在机架或托盘上。
[0009]更进一步地，所述托盘位于电子器件安装槽外侧还设置有用于固定待测电子器件的卡扣，所述托盘槽内设置有卡扣容置槽。
[0010]更进一步地，所述电连接机构为金属触头和金属触点。
[0011]更进一步地，所述测试模块设置在机架内，所述机架上设置测试按钮以及有用于显示测试结构的指示灯或者显示器。
[0012]更进一步地，所述机架上还设置有与测试模块连接的网络接口或无线传输模块。
[0013]更进一步地，所述机架上还设置有接口，所述测试模块通过接口与电连接结构连接。
[0014]本专利技术的有益效果是，本专利技术设置托盘槽和可朝向托盘槽移动的托盘，并且在托盘槽朝向电子器件安装槽一侧以及电子器件安装槽内侧设置有与待测电子器件连接触点
对应的连接触头，在对多侧有连接触点的电子器件进行测试时，可一次性对应电子器件的所有功能、单元进行测试，很好的模拟电子器件的应用环境，极大的提高了测试效率，同时，托盘通过电连接结构与托盘槽上的连接触头电连接，可以将测试模块或者接口仅设置在机架或者支撑架上，降低结构复杂性，极大的简化了线路布局。
附图说明
[0015]图1为本专利技术的第一角度结构示意图。
[0016]图2为本专利技术的第二角度结构示意图。
[0017]在图中，1-机架；2-托盘槽；3-支撑架；4-下压杆；5-托盘；51-电子器件安装槽；6-导向板；7-下压手柄；8-检测开关；9-电流监控模块；10-网络接口；11-串口接口。
具体实施方式
[0018]如图1-2所示，本专利技术包括测试模块、机架1和设置在机架1上的支撑架3，所述机架1上设置有托盘槽2，支撑架3上设置有可朝向托盘槽2滑动的下压杆4，下压杆4靠近托盘槽2一侧设置有与托盘槽2对应的托盘5，托盘5朝向托盘槽2一侧设置有与待测电子器件结构一致的电子器件安装槽51，所述托盘槽2朝向电子器件安装槽51一侧以及电子器件安装槽51内侧设置有与待测电子器件连接触点对应的连接触头，所述托盘5和托盘槽2上还对应设置有电连接结构，所述电连接结构与连接触头以及测试模块电连接。
[0019]本专利技术设置托盘槽2和可朝向托盘槽2移动的托盘5，并且在托盘槽2朝向电子器件安装槽51一侧以及电子器件安装槽51内侧设置有与待测电子器件连接触点对应的连接触头，在对多侧，例如四侧均有连接触点的电子器件进行测试时，可一次性对应电子器件的所有功能、单元进行测试，很好的模拟电子器件的应用环境，极大的提高了测试效率，同时，托盘5通过电连接结构与托盘槽2上的连接触头电连接，可以将测试模块或者接口仅设置在机架1或者支撑架3上，降低结构复杂性，以测试模块设置在机架1内为例，托盘5通过电连接结构与机架1上的测试模块电连接，无需另外设置电缆沿支撑架3与测试模块电连接，极大的简化了线路布局，本专利技术所指的电子器件主要指主板和芯片。
[0020]所述托盘5与下压杆4可拆卸连接，本实施例中，可通过更换托盘5适应不同型号的电子器件，由于托盘5通过电连接结构与机架1连接，即无需单独设置线路，仅通过电连接结构实现电力和信号的传送，极大的简化了整体结构，降低成本和安装难度。
[0021]为了提高下压杆4的滑动平稳性和准确度，所述支撑架3上还设置有导向板6，导向板6内设置有导向孔，所述下压杆4与支撑架3和导向板6滑动连接。
[0022]所述下压杆4位于导向板6与支撑架3之间设置有复位弹簧，在安装好待测电子器件后，仅直接松开下压杆4即可是托盘5与托盘槽2紧密配合，提高测试效果，本实施例中，下压杆4背离托盘5一侧设置有下压手柄7，便于用于操作下压杆4。
[0023]本专利技术还包括用于检测托盘5与托盘槽2是否嵌合的检测开关8，所述检测开关8设置在机架1或托盘5上，便于在安装完毕后自动化开启测试，本实施例中，检测开关8有限设置在托盘槽2的侧壁。
[0024]为了使待测电子器件安装在电子器件安装槽51后连接紧固，防止脱落，所述托盘5位于电子器件安装槽51外侧还设置有用于固定待测电子器件的卡扣，所述托盘槽2内设置
有卡扣容置槽。
[0025]具体地，电连接结构可以为触点和触头、插头和接口、触头和金手指等可实现通电和信号连接的连接结构，本实施例中，所述电连接机构优选采用金属触头和金属触点，简化结构，降低成本，同时便于进行接触连接。
[0026]为了提高效率，所述测试模块设置在机架1内，所述机架1上设置测试按钮以及有用于显示测试结构的指示灯或者显示器。
[0027]所述机架1上还设置有与测试模块连接的网络接口或无线传输模块，便于将测试数据发送至云端备份，方便检测结果和追踪。
[0028]所述机架1上还设置有接口，所述测试模块通过接口与电连接结构连接，本实施例中，测试模块可以为计算机或者其它测试装置，接口可以为串口接口11，托盘槽2和托盘5上的连接触头分别通过电连接结构、串口接口11和线缆连接至计算机或其它测试装置内，为测试提供数据，本实施例便于直接观察测试过程，简化检验装置的结构和成本。
[0029]以测试NB-IoT物联网表模块为例，接口包括用于连接计算机的串口接口11和用于将每块检验的NB-IoT物联网表模块测试数据上传至云端的网络接口10，另外还包括电流监控模块9本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子器件检验装置，其特征是，包括测试模块、机架(1)和设置在机架(1)上的支撑架(3)，所述机架(1)上设置有托盘槽(2)，支撑架(3)上设置有可朝向托盘槽(2)滑动的下压杆(4),下压杆(4)靠近托盘槽(2)一侧设置有与托盘槽(2)对应的托盘(5)，托盘(5)朝向托盘槽(2)一侧设置有与待测电子器件结构一致的电子器件安装槽(51)，所述托盘槽(2)朝向电子器件安装槽(51)一侧以及电子器件安装槽(51)内侧设置有与待测电子器件连接触点对应的连接触头，所述托盘(5)和托盘槽(2)上还对应设置有电连接结构，所述电连接结构与连接触头以及测试模块电连接。2.如权利要求1所述的电子器件检验装置，其特征是，所述托盘(5)与下压杆(4)可拆卸连接。3.如权利要求1所述的电子器件检验装置，其特征是，所述支撑架(3)上还设置有导向板(6)，导向板(6)内设置有导向孔，所述下压杆(4)与支撑架(3)和导向板(6)滑动连接。4.如权利要求3所述的电子器件检验装置，其特征是，所述下压杆(4...
【专利技术属性】
技术研发人员：王湘明，贺厅，
申请(专利权)人：湖南常德牌水表制造有限公司，
类型：发明
国别省市：
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