本发明专利技术公开一种胶路的检测方法、装置及设备，所述方法包括：根据预先确定的光照方案，对待测样品的边缘轮廓进行照射，以在所述待测样品的边缘轮廓外围形成轮廓投影；所述待测样品的边缘轮廓上包括点胶胶路；对所述轮廓投影进行图像采集，获得相应的待分析图像；所述待分析图像中，包括所述轮廓投影的投影形状；基于所述待分析图像中的投影形状的图像分析结果，确定并输出所述待测样品边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果；通过对待分析图像进行图像分析，实现了自动的胶路检测，避免了现有技术中人工检测耗费人力，效率低下，且准确性差的技术问题；从而提高了检测效率和准确率。从而提高了检测效率和准确率。从而提高了检测效率和准确率。
【技术实现步骤摘要】
一种胶路的检测方法、装置及设备
[0001]本专利技术涉及机电
，尤其涉及一种胶路的检测方法、装置及设备。
技术介绍
[0002]目前很多电子设备上下盖的合盖，是采用点胶工艺来实现。即利用点胶机沿电子设备的轮廓进行点胶，进而使电子设备的上下盖通过胶剂紧密粘合。而为了确保电子设备合盖的稳定性和密封性，在点胶工艺中一般要求点胶胶量分布均匀适量，且点胶形成的胶路如围栏般闭合，构成所谓的“胶路围栏”。这样在粘合之后，电子设备的上下盖之间可完全密闭，不留缝隙，且不点胶不溢出。也就是说在此工艺要求下，点胶的胶路围栏必须完全闭合，不能存在断点。
[0003]因此，在实施当中还需要配合点胶工艺的检测技术，来确定胶路中是否有断点存在。在现有技术中，往往是通过工作人员人眼观察的方式，来判断点胶胶路是否连续均匀，是否存在断点。则很显然，上述方式需要耗费大量的人力，效率低下，且准确性难以保障。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供一种胶路的检测方法、装置及设备，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。
[0005]第一方面，本专利技术提供一种胶路的检测方法，所述方法包括：
[0006]根据预先确定的光照方案，对待测样品的边缘轮廓进行照射，以在所述待测样品的边缘轮廓外围形成轮廓投影；所述待测样品的边缘轮廓上包括点胶胶路；
[0007]对所述轮廓投影进行图像采集，获得相应的待分析图像；所述待分析图像中，包括所述轮廓投影的投影形状；
[0008]基于所述待分析图像中的投影形状的图像分析结果，确定并输出所述待测样品边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
[0009]优选地，在所述根据预先确定的光照方案，对待测样品的边缘轮廓进行照射之前，所述方法还包括：
[0010]根据所述待测样品的边缘轮廓的形状，确定光照方案。
[0011]优选地，所述确定光照方案包括：
[0012]根据所述待测样品的边缘轮廓的形状，确定照明组件中各发光单元在照射过程中开启或关闭；
[0013]以及，确定各所述开启的发光单元的发光光路。
[0014]优选地，所述确定各所述开启的发光单元的发光光路包括：
[0015]利用光路控制组件，确定各所述开启的发光单元的发光光路；
[0016]所述光路控制组件包括，光圈、遮挡结构和/或光纤。
[0017]优选地，所述确定光照方案还包括：
[0018]根据所述待测样品的放置位置，确定所述照明组件的照射高度和位置。
[0019]优选地，所述对所述待分析图像中投影形状进行图像分析，以确定所述待测样品的边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果包括：
[0020]基于图像分析技术，根据所述待分析图像中投影形状，确定所述边缘轮廓的点胶胶路的断点位置。
[0021]第二方面，本专利技术提供一种胶路的检测装置，所述装置包括：
[0022]光照模块，用于根据预先确定的光照方案，对待测样品的边缘轮廓进行照射，以在所述待测样品的边缘轮廓外围形成轮廓投影；所述待测样品的边缘轮廓上包括点胶胶路；
[0023]图像采集模块，用于对所述轮廓投影进行图像采集，获得相应的待分析图像；所述待分析图像中，包括所述轮廓投影的投影形状；
[0024]胶路检测模块，用于基于所述待分析图像中的投影形状的图像分析结果，确定并输出所述待测样品边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
[0025]第三方面，本专利技术提供一种胶路的检测设备，所述设备包括：照明组件、摄像头和处理器；
[0026]所述照明组件包括多个发光单元，各所述发光单元响应于所述处理器的控制开启或关闭，以对待测样品的边缘轮廓进行照射，形成轮廓投影；
[0027]所述摄像头响应于所述处理器的控制，以针对所述待测样品的轮廓投影进行图像采集，获得相应的待分析图像；
[0028]所述处理器用于确定照明方案，基于所述照明方案控制所述照明组件进行照射；并控制所述摄像头进行图像采集，获得所述待分析图像；对所述待分析图像进行图像分析，确定所述边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
[0029]优选地，还包括：光路控制组件，
[0030]所述光路控制组件用于控制各所述开启的发光单元的照射角度；
[0031]所述光路控制组件包括，光圈、遮挡结构和/或光纤。
[0032]优选地，所述照明组件还包括：调节结构；
[0033]所述调节结构用于调节所述照明组件的照射高度和位置。
[0034]与现有技术相比，本专利技术提供的一种胶路的检测方法、装置及设备，
[0035]通过对待分析图像进行图像分析，实现了自动的胶路检测，避免了现有技术中人工检测耗费人力，效率低下，且准确性差的技术问题；从而提高了检测效率和准确率。
附图说明
[0036]图1为本专利技术一实施例提供的一种胶路的检测方法的流程示意图；
[0037]图2为本专利技术一实施例提供的一种胶路的检测方法中待测样品的放置示意图；
[0038]图3为本专利技术一实施例提供的另一种胶路的检测方法的流程示意图；
[0039]图4为本专利技术一实施例提供的一种胶路的检测装置的结构示意图；
[0040]图5为本专利技术一实施例提供的一种胶路的检测设备的结构示意图；
[0041]图6为本专利技术一实施例提供的一种胶路的检测设备中光路控制组件的结构示意图。
具体实施方式
[0042]为使本专利技术的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0043]申请概述
[0044]为了确保电子设备合盖的稳定性和密封性，在点胶工艺中一般要求点胶胶量分布均匀适量，且点胶形成的胶路如围栏般闭合，构成所谓的“胶路围栏”。这样在粘合之后，电子设备的上下盖之间可完全密闭，不留缝隙，且不点胶不溢出。也就是说在此工艺要求下，点胶的胶路围栏必须完全闭合，不能存在断点。
[0045]在现有技术中，往往是通过工作人员人眼观察的方式，来判断点胶胶路是否连续均匀，是否存在断点。则很显然，上述方式需要耗费大量的人力，效率低下，且准确性难以保障。
[0046]示例性方法
[0047]因此，本专利技术实施例将提供一种胶路的检测方法，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。如图1所示，本实施例中方法包括以下步骤：
[0048]步骤101、根据预先确定的光照方案，对待测样品的边缘轮廓进行照射，以在待测样品的边缘轮廓外围形成轮廓投影。
[0049]待测样品具体可以是电子设备(如手机、平板电脑等)的上盖或下盖。在检测开始时，通常待测样品已放置于测试台上。并且待测样品的边缘轮廓上已经利用点胶工艺注成了点胶胶路。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种胶路的检测方法，所述方法包括：根据预先确定的光照方案，对待测样品的边缘轮廓进行照射，以在所述待测样品的边缘轮廓外围形成轮廓投影；所述待测样品的边缘轮廓上包括点胶胶路；对所述轮廓投影进行图像采集，获得相应的待分析图像；所述待分析图像中，包括所述轮廓投影的投影形状；基于所述待分析图像中的投影形状的图像分析结果，确定并输出所述待测样品边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。2.根据权利要求1所述方法，在所述根据预先确定的光照方案，对待测样品的边缘轮廓进行照射之前，所述方法还包括：根据所述待测样品的边缘轮廓的形状，确定光照方案。3.根据权利要求2所述方法，所述确定光照方案包括：根据所述待测样品的边缘轮廓的形状，确定照明组件中各发光单元在照射过程中开启或关闭；以及，确定各所述开启的发光单元的发光光路。4.根据权利要求3所述方法，所述确定各所述开启的发光单元的发光光路包括：利用光路控制组件，确定各所述开启的发光单元的发光光路；所述光路控制组件包括，光圈、遮挡结构和/或光纤。5.根据权利要求3所述方法，所述确定光照方案还包括：根据所述待测样品的放置位置，确定所述照明组件的照射高度和位置。6.根据权利要求1～5任意一项所述方法，所述对所述待分析图像中投影形状进行图像分析，以确定所述待测样品的边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果包括：基于图像分析技术，根据所述待分析图像中投影形状，确定所述边缘轮廓的点胶胶路...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘永华，刘云明，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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