一种多路并行老化测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种多路并行老化测试装置，包括外壳，所述外壳上表面并排设有若干弹簧压紧限位结构(2)，所述外壳侧面设有开关、计时器和蜂鸣器，外壳内部设有控制器。上述技术方案通过装有计时器、蜂鸣器直观及时判断待测制冷片是否达到使用寿命，实现多枚半导体制冷片同时老化检测，检测效率高，且使用半导体制冷片弹簧压紧限位结构进行测试，测试可靠性高。测试可靠性高。测试可靠性高。

【技术实现步骤摘要】
一种多路并行老化测试装置


[0001]本专利技术涉及半导体制冷片生产
，尤其涉及一种多路并行老化测试装置。

技术介绍

[0002]半导体制冷片是一种由半导体所组成的冷却装置，利用半导体材料的特性，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端分别吸收热量和放出热量，实现制冷的目的。半导体致冷片是由陶瓷片和焊接在陶瓷片上的多颗晶粒组成的。半导体制冷片的体积小巧，可靠性比较高，通常应用在空间受到限制的场所。
[0003]有资料显示，在半导体制冷片生产加工过程中，为了确保其出厂后的性能稳定，按工艺要求需要对致冷片进行老化测试，以判断致冷片是否满足出厂条件。在现有技术中，半导体制冷片老化装置多为单枚进行老化，且限位固定效果差，导致老化效率低且测试精度差等问题。
[0004]中国专利文献CN210720611U公开了一种“基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具”。包括：恒温平台、电源、温度监控记录仪和电控装置，所述半导体制冷片设置在恒温平台上，所述电控装置线性连接在电源与半导体制冷片之间，进行半导体制冷片的间歇性供电，所述温度监控记录仪的探头与半导体制冷片的表面相连接进行温度监测。上述技术方案对单枚进行老化半导体制冷片，且限位固定效果差，导致老化效率低且测试精度差等问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术主要解决原有的原有的测试装置只能对单枚半导体制冷片进行老化测试，并且老化效率低且测试精度差的技术问题，提供一种多路并行老化测试装置，通过装有计时器、蜂鸣器直观及时判断待测制冷片是否达到使用寿命，实现多枚半导体制冷片同时老化检测，检测效率高，且使用半导体制冷片弹簧压紧限位结构进行测试，测试可靠性高。
[0006]本专利技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：本专利技术包括外壳，所述外壳上表面并排设有若干弹簧压紧限位结构(2)，所述外壳侧面设有开关、计时器和蜂鸣器，外壳内部设有控制器。
[0007]作为优选，所述的控制器分别与开关、计时器、蜂鸣器、继电器、传感器相连，所述开关经过继电器与制冷片相连。计时器用于控制器记录待测半导体致冷片的寿命时长，蜂鸣器用于提醒检测是否完成，继电器用于控制开关电源与待测制冷片的电流。
[0008]作为优选，所述的弹簧压紧限位结构包括散热器、压板和垂直于散热器的压杆，所述压板一端与压杆固定连接，压板另一端设有压头，所述压头与压板之间设有弹簧。
[0009]作为优选，所述的弹簧压紧限位结构内部设有用于测试的制冷片，所述制冷片设于压头与散热器之间。压头将制冷片压紧避免晃动，并且使制冷片紧贴散热器，确保散热器有效工作，降低制冷片温度。
[0010]作为优选，所述的散热器下方设有散热风扇，所述散热风扇对应的外壳下表面和
侧面设有散热孔。制冷片老化测试过程中产生大量热量，散热器、散热风扇和散热孔配合实现迅速散热。
[0011]作为优选，所述的传感器包括温度传感器和电流传感器，所述温度传感器、电流传感器与制冷片相连。控制回路中装有温度传感器和电流传感器，温度传感器用于检测半导体制冷片温度，并将温度信息反馈给控制器，电流传感器用于检测半导体致冷片的电流值，并将电流信息反馈给控制器。
[0012]作为优选，所述的散热孔包括散热风扇对应的外壳下表面的圆孔散热孔和外壳侧面的格栅散热孔。
[0013]作为优选，所述的每个弹簧压紧限位结构旁设有接线座。工作时，将需要进行老化度检测的弹簧压紧限位结构旁的接线座连通，避免空闲的弹簧压紧限位结构导电，资源浪费。
[0014]本专利技术的有益效果是：
[0015]1.通过装有计时器、蜂鸣器直观及时判断待测制冷片是否达到使用寿命，实现多枚半导体制冷片同时老化检测，检测效率高，
[0016]2.使用半导体制冷片弹簧压紧限位结构进行测试，测试可靠性高。
附图说明
[0017]图1是本专利技术的一种结构示意图。
[0018]图2是本专利技术的一种电路原理连接结构图。
[0019]图3是本专利技术的弹簧压紧限位结构的结构示意图。
[0020]图中1外壳，2弹簧压紧限位结构，2.1压杆，2.2压板，2.3散热器，2.4压头，2.5弹簧，3制冷片，4接线座，5开关，6计时器，7蜂鸣器，8控制器，9继电器，10传感器。
具体实施方式
[0021]下面通过实施例，并结合附图，对本专利技术的技术方案作进一步具体的说明。
[0022]实施例：本实施例的一种多路并行老化测试装置，如图1所示，包括外壳1，外壳1上表面并排设有若干弹簧压紧限位结构2，每个弹簧压紧限位结构2旁设有接线座4，工作时，将需要进行老化度检测的弹簧压紧限位结构旁的接线座连通，避免空闲的弹簧压紧限位结构导电，资源浪费。如图3所示，弹簧压紧限位结构2包括散热器2.3、压板2.2和垂直于散热器2.3的压杆2.1，压板2.2一端与压杆2.1固定连接，压板2.2另一端设有压头2.4，压头2.4与压板2.2之间设有弹簧2.5，制冷片3设于压头2.4与散热器2.3之间。
[0023]散热器2.3下方设有散热风扇，散热风扇对应的外壳1下表面设有圆孔散热孔，散热风扇对应的外壳1侧面设有格栅散热孔。制冷片老化测试过程中产生大量热量，散热器、散热风扇和散热孔配合实现迅速散热。
[0024]如图2所示，外壳1侧面设有开关5、计时器6和蜂鸣器7，外壳内部设有控制器8，控制器8分别与开关5、计时器6、蜂鸣器7、继电器9、传感器10相连，开关5经过继电器9与制冷片3相连。计时器6用于控制器记录待测半导体致冷片的寿命时长，蜂鸣器7用于提醒检测是否完成，继电器8用于控制开关电源与待测制冷片的电流。传感器10包括温度传感器和电流传感器，温度传感器、电流传感器与制冷片3相连。温度传感器和电流传感器安装在控制器8
的控制回路中，温度传感器用于检测半导体制冷片温度，并将温度信息反馈给控制器，电流传感器用于检测半导体致冷片的电流值，并将电流信息反馈给控制器。
[0025]使用时，将多个制冷片3分别放置于并排的弹簧压紧限位结构2的压头2.4与散热器2.3之间，将需要进行老化度检测的弹簧压紧限位结构旁的接线座连通。借助压杆2.1、压板2.2、压头2.4和弹簧2.5对制冷片3进行固定。打开开关5，继电器9控制开关5电源与待测制冷片3的电流，进行冷片3老化测试，计时器6开始计时。测试过程中温度传感器检测半导体制冷片温度，并将温度信息反馈给控制器8，电流传感器检测半导体致冷片的电流值，并将电流信息反馈给控制器8。测试完成后，控制器8通过计时器6记录待测半导体致冷片的寿命时长，蜂鸣器7提醒检测是否完成。
[0026]本文中所描述的具体实施例仅仅是对本专利技术精神作举例说明。本专利技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本专利技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
[0027]尽管本文较多地使用了弹簧压紧限位结构、控制器等术语，但并本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多路并行老化测试装置，其特征在于，包括外壳(1)，所述外壳(1)上表面并排设有若干弹簧压紧限位结构(2)，所述外壳(1)侧面设有开关(5)、计时器(6)和蜂鸣器(7)，外壳内部设有控制器(8)。2.根据权利要求1所述的一种多路并行老化测试装置，其特征在于，所述控制器(8)分别与开关(5)、计时器(6)、蜂鸣器(7)、继电器(9)、传感器(10)相连，所述开关(5)经过继电器(9)与制冷片(3)相连。3.根据权利要求1所述的一种多路并行老化测试装置，其特征在于，所述弹簧压紧限位结构(2)包括散热器(2.3)、压板(2.2)和垂直于散热器(2.3)的压杆(2.1)，所述压板(2.2)一端与压杆(2.1)固定连接，压板(2.2)另一端设有压头(2.4)，所述压头(2.4)与压板(2.2)之间设有弹簧(2.5)。4.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾扬扬，
申请(专利权)人：杭州大和热磁电子有限公司，
类型：发明
国别省市：