【技术实现步骤摘要】
一种羽流等离子体中性粒子测量装置
[0001]本专利技术涉及等离子体科学参数测量
，尤其是涉及一种羽流等离子体中性粒子测量装置。
技术介绍
[0002]离子推力器、霍尔推力器等电推力器因其比冲高、寿命长和系统质量较小等优点而广泛应用于航天器的姿态和轨道控制。准确获取电推力器真空羽流参数对于评估电推力器和航天器性能是至关重要的。
[0003]电推力器真空羽流是等离子体，电子温度和电子数密度是等离子羽流流场的基本参数，获取电子温度和电子数密度是研究等离子体性质的重要前提。通常使用朗缪尔探针诊断等电推进真空羽流流场的电子温度和电子数密度。
[0004]现有光学诊断方式和探针方式存在几个突出的问题：
[0005]其一，现有的光学诊断方式，往往需要添加示踪粒子，但是示踪粒子对羽流流场环境和推力器工作状态存在一定影响。且示踪粒子随流性与真实电子有很大差距，也不能用于推力器室内中性粒子测量，而推力室内中性粒子的运动轨迹以及运动速度，直接关系到电离效率以及粒子输运，因此，十分有必要发展一种基于非光学方式诊断中性
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种羽流等离子体中性粒子测量装置，用于诊断电推力器真空羽流中的中性粒子，其特征在于，包括离子收集组件、电离室、轨道以及探针组件，其中：所述离子收集组件、所述电离室、所述轨道以及所述探针组件顺次首尾相接，所述离子收集组件用于收集羽流中的粒子，同时用于将带电粒子和中性粒子分离，所述电离室用于将中性粒子电离形成带电粒子；所述轨道内部安装轨道电极，所述轨道电极可被施加电压，所述带电粒子在电场中沿所述轨道运动至所述轨道出口，所述探针组件用于检测所述带电粒子。2.根据权利要求1所述的羽流等离子体中性粒子测量装置，其特征在于，所述离子收集组件包括准直管和准直管电极，所述准直管电极沿着所述准直管的轴向安装于所述准直管的内部，所述准直管电极用于分离收集的带电粒子和非带电粒子，使所述非带电粒子通过。3.根据权利要求2所述的羽流等离子体中性粒子测量装置，其特征在于，所述准直管包括准直管外管和准直管内管，所述准直管外管的内壁上设置沿轴向的第一条形槽，所述准直管电极安装于所述第一条形槽内，所述准直管内管套入所述准直管外管中。4.根据权利要求3所述的羽流等离子体中性粒子测量装...
【专利技术属性】
技术研发人员：贺碧蛟，唐欢，韩木天，唐菡，蔡国飙，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：
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