表面污染测量仪制造技术

本申请涉及一种表面污染测量仪，包括辐射探测器、固定件及数据采集系统；辐射探测器的个数为多个，多个辐射探测器在同一平面内设置，一同组成探测器组；固定件整体固定探测器组；每个辐射探测器均与数据采集系统通信连接；数据采集系统适用于整合处理每个辐射探测器的数据，定位辐射源的位置。将多个辐射探测器通过固定件牢固的置于同一平面内，进行模块式整合，拼接成探测器组，增加该设备的探测面积，更利于扩展。每个辐射探测器通过数据线将数据独立传输给数据采集系统，数据采集系统结合各个探测器给出灵敏面积内辐射水平及其分布，便于本领域测试人员快速地得出辐射源所处的位置及辐射大致强度。的位置及辐射大致强度。的位置及辐射大致强度。

【技术实现步骤摘要】
表面污染测量仪


[0001]本申请涉及辐射检测
，尤其涉及一种表面污染测量仪。

技术介绍

[0002]现有的表面污染测量仪通常是应用一个整体的探头，对探测灵敏面积内的辐射水平给出一个整体估量，本领域实施人员在实际使用时，需要不断的调整仪器的位置，通过不同位置时的仪器计数率差异来对辐射源位置进行判断，无法对辐射源进行快速定位，对本领域技术人员造成不必要的麻烦。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本申请提出了一种表面污染测量仪，包括辐射探测器、固定件及数据采集系统；所述辐射探测器的个数为多个，多个所述辐射探测器在同一平面内设置，一同组成探测器组；所述固定件整体固定所述探测器组；每个所述辐射探测器均与所述数据采集系统通信连接；所述数据采集系统适用于整合处理每个所述辐射探测器的数据，定位辐射源的位置。
[0004]在一种可能的实现方式中，所所述辐射探测器包括闪烁晶体、光导器件及光电转换器件；所述光导器件为方体结构，所述闪烁晶体贴附在所述光导器件上，所述光电转换器件固定设置在所述光导器件表面。
[0005]辐射探测器在一种可能的实现方式中，多个所述辐射探测器在横向与纵向的排列数量为M
×
N。
[0006]在一种可能的实现方式中，所述固定件包括上结构件与下结构件；所述上结构件与所述下结构件分别设置在所述探测器组相对两侧，且所述上结构件与所述下结构件相对的两侧设置有结构相同的阻挡框，所述阻挡框分别向相对侧延伸，所述阻挡框围设在所述探测器组外侧。
[0007]在一种可能的实现方式中，所述上结构件、所述下结构件对应位置均开设有多个大小相同的方孔，每个所述辐射探测器的顶部、底部分别对应一个所述方孔。
[0008]在一种可能的实现方式中，所述下结构件的阻挡框内部设置有多道凸棱，所述凸棱设置在所述方孔的间隔处，所述凸棱纵横交叉设置，呈网格状，且每一格与所述辐射探测器的结构相匹配。
[0009]在一种可能的实现方式中，所述上结构件与所述下结构件的两侧设置有外延耳，所述外延耳上等间隔开设有安装孔。
[0010]在一种可能的实现方式中，所述光导器件邻近所述上结构件的一侧开设有通孔，每个所述辐射探测器的输出口连接有数据线，所述数据线的另一端穿过所述通孔及方孔连接至所述数据采集系统相应的接口。
[0011]在一种可能的实现方式中，所述上结构件与所述下结构件为螺栓连接。
[0012]本技术的有益效果：将多个辐射探测器通过固定件牢固的置于同一平面内，
进行模块式整合，拼接成探测器组，增加该设备的探测面积，更利于扩展。每个辐射探测器通过数据线将数据独立传输给数据采集系统，数据采集系统结合各个探测器给出灵敏面积内，便于本领域测试人员快速地得出辐射源所处的位置及辐射大致强度。
[0013]根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明，本申请的其它特征及方面将变得清楚。
附图说明
[0014]包含在说明书中并且构成说明书的一部分的附图与说明书一起示出了本申请的示例性实施例、特征和方面，并且用于解释本申请的原理。
[0015]图1示出本申请实施例的表面污染测量仪的立体结构示意图。
具体实施方式
[0016]以下将参考附图详细说明本申请的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面，但是除非特别指出，不必按比例绘制附图。
[0017]其中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术或简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0018]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0019]在这里专用的词“示例性”意为“用作例子、实施例或说明性”。这里作为“示例性”所说明的任何实施例不必解释为优于或好于其它实施例。
[0020]另外，为了更好的说明本申请，在下文的具体实施方式中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解，没有某些具体细节，本申请同样可以实施。在一些实例中，对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件和电路未作详细描述，以便于凸显本申请的主旨。
[0021]图1示出根据本申请一实施例的表面污染测量仪的立体结构示意图。如图1所示，该表面污染测量仪包括：辐射探测器1、固定件及数据采集系统。其中，辐射探测器1的个数为多个，多个辐射探测器1在同一平面内设置，一同组成探测器，固定件整体固定探测器组，辐射探测器1与数据采集系统之间连接有数据线，数据采集系统整合处理每个辐射探测器1的数据，定位辐射源的位置。
[0022]在此实施例中，将多个辐射探测器1进行模块式整合，拼接成探测器组，增加该设备的探测面积，且更利于扩展。对于固定件的具体结构此处未做出具体限定，只需确保固定件能够将探测器组牢固的置于同一平面内，便于多个辐射探测器1得到更准确的数据即可，降低高度落差对定位放射源造成不必要的影响。每个辐射探测器1独立工作，实际测量时，通过数据线将数据独立传输给数据采集系统，数据采集系统结合各个探测器给出灵敏面积
内，每个探测单元内的计数以及总计数，即完成探测辐射分布和对辐射总体水平的探测，本领域测试人员能够快速地得出辐射源所处的位置及辐射大致强度，在保证现有性能的前提下，快速对放射源进行定位，数据线不仅用于将数据传输至信息采集系统，还为辐射探测器1供电。
[0023]这里还需要指出，数据采集系统对多个辐射探测器1传输的数据可以采用高斯拟合的处理方法，辐射探测器1计数率最大的，位于高斯面顶部附近，其余辐射探测器1的计算按照放射源的距离由近至远顺序在高斯面上快速下降，即对单个放射源作出快速准确的定位。
[0024]在其中一个具体实施例中，辐射探测器1包括闪烁晶体、光导器件及光电转换器件。其中，光导器件为方体结构，闪烁晶体贴附在光导器件下部，光电转换器件固定设置在光导器件表面。
[0025]在此实施例中，辐射探测器1的光导器件设置为方体结构，方体结构的辐射探测器1更利于模块化拼接，且方体结构相较于其他规则形状又更便于批量化生产，不会无故增加成本。
[0026]进一步的，辐射探测器1为现有技术，本文中只作出简要说明，光导器件底面贴附双闪晶体，其余各面贴附反光层，光电转换器件为硅光电倍增器，α、β射线进入或者穿过双闪晶体，并且在双闪晶体中沉积能本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种表面污染测量仪，其特征在于，包括辐射探测器、固定件及数据采集系统；所述辐射探测器的个数为多个，多个所述辐射探测器在同一平面内设置，一同组成探测器组；所述固定件整体固定所述探测器组；每个所述辐射探测器均与所述数据采集系统通信连接；所述数据采集系统适用于整合处理每个所述辐射探测器的数据，定位辐射源的位置。2.根据权利要求1所述的表面污染测量仪，其特征在于，所述辐射探测器包括闪烁晶体、光导器件及光电转换器件；所述光导器件为方体结构，所述闪烁晶体贴附在所述光导器件上，所述光电转换器件固定设置在所述光导器件表面。3.根据权利要求2所述的表面污染测量仪，其特征在于，多个所述辐射探测器在横向与纵向的排列数量为M
×
N。4.根据权利要求2所述的表面污染测量仪，其特征在于，所述固定件包括上结构件与下结构件；所述上结构件与所述下结构件分别设置在所述探测器组相对两侧，且所述上结构件与所述下结构件相对的两侧设置有结构相同的阻挡框，所述阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑永男，张小彬，
申请(专利权)人：北京海阳博创科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：