一种深孔高度差的测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种深孔高度差的测量装置，包括安装板和支撑架，支撑架固定在安装板两侧；安装板上设有直线导轨；滑块可移动地安装在直线导轨上；安装板下部还设有安装块；滑块上还设有电子百分表；电子百分表下端设有测针，滑块上还设有多个对中元件；司筒安装在下侧的对中元件内；滑块侧边还设有顶杆；顶杆可在安装板上设有的滑槽内滑动。本实用新型专利技术提出的一种深孔高度差的测量装置，其测量精确、使用简单、安装便捷，可以实现对孔深高度差的测量。测量。测量。

【技术实现步骤摘要】
一种深孔高度差的测量装置


[0001]本技术属于测量装置
，具体涉及一种深孔高度差测量装置。

技术介绍

[0002]在工业生产过程中，对器件孔的深度往往有很高的精度要求，这就需要对孔深进行精确的测量。目前常见的测量孔深的方法，都是采取间接测量的手段，由于每次测量都存在一定误差，误差累计导致最终的测量结果精度降低。
[0003]如公布号为CN207923099U公开了一种工件深度测量装置，该装置包括测量仪、伸缩式检测针、固定治具、固定基座、连接柱、环形限位凸台、限位缺口、横向调节块、第一固定螺丝、安装薄块、卡柱。该装置通过固定治具将深度测量仪直接架设于设备机架上，直接对工件进行深度测量，由横向调节块实现对深度测量仪与固定基座之间距离的快速调整。此装置虽然将测量仪安装在设备机架上，省去安装时间，但是其测量方法本质还是采取间接测量，且测量仪不能调节竖直方向的行程。
[0004]针对以上情况，现需求一种深孔高度差的测量装置，具有测量精确、使用简单、安装便捷的优点。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供一种深孔高度差的测量装置，具有测量精确、使用简单、安装便捷的优点，可以实现对孔深高度差的测量。
[0006]本技术提供了如下的技术方案：
[0007]一种深孔高度差的测量装置，包括安装板和支撑架：所述支撑架固定在安装板两侧；所述安装板上设有直线导轨；滑块可移动地安装在直线导轨上；所述安装板下部还设有安装块；所述滑块上还设有电子百分表；所述电子百分表下端设有测针，所述滑块上还设有多个对中元件；司筒安装在对中元件内；所述滑块侧边还设有顶杆；所述顶杆可在安装板上设有的滑槽内滑动。
[0008]优选的，所述滑槽上设有用于限位销插入的凹槽。
[0009]优选的，所述安装块上设有用于安装工件的卡槽。
[0010]本技术的有益的效果：
[0011]本技术可移动地将顶杆安装在滑槽内，使得电子百分表在竖直方向的位置可调，便于测量不同高度的工件；所添加的限位销，使得移动后的顶杆的位置可以固定，避免产生偏差；在滑块上添加的对中元件，使得电子百分表的测针以及司筒始终与直线导轨平行，避免由测量时偏心产生的误差；且本装置一次校正后，可以重复多次测量，不用重复校正清零。本技术做到了测量精确、使用简单、安装便捷，可以实现对孔深高度差的测量。
附图说明
[0012]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用
新型的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：
[0013]图1是本技术的结构示意图；
[0014]图2是本技术的测量方法示意图。
[0015]附图标记说明：
[0016]1、电子百分表；2、安装板；3、顶杆；4、滑槽；5、限位销；6、对中元件； 7、安装块；8、司筒；9、滑块；10、测针；11、直线导轨；12、支撑架。
具体实施方式
[0017]如图所示，一种深孔高度差的测量装置，包括安装板2和支撑架12，支撑架12固定在安装板2两侧；安装板2上设有直线导轨11；滑块9可移动地安装在直线导轨11上；安装板2下部还设有安装块7；安装块7上设有用于安装工件的卡槽。
[0018]滑块9上还设有电子百分表1，电子百分表1还设有用于显示测量数值的显示屏；滑块9上还设有多个对中元件6，在安装电子百分表1时，使测针10穿过上侧的对中元件6；插入到安装在下侧的对中元件6内的司筒8内，使得测针 10始终保持与直线导轨11平行，避免测量时由于偏心产生误差。
[0019]滑块9侧边还设有顶杆3；顶杆3可在安装板2上设有的滑槽4内滑动；滑槽4上设有用于限位销5插入的凹槽，限位销5抵在顶杆3表面，在顶杆3位置确定后，通过拧紧限位销5保证顶杆3位置得到固定。
[0020]本技术的工作方式：测量工件孔深时，存在两个高度差数值，将深孔底部与上表面的高度差称为H2；深孔底部与下表面的高度差值称为H1。
[0021]1)测量H2时，将顶杆3放至滑槽4内下端，拧紧限位销5，用校正块校正、电子百分表1清零后，将工件卡入安装块7的卡槽内，让测针10自由滑落至产品深孔内，电子百分表1显示数值即为H2值；
[0022]2)测量H1时，将顶杆3向上推至滑槽4上端，拧紧限位销5，让测针10 自由滑落至最底端，清零电子百分表1，将工件卡入安装块7的卡槽内，让测针 10自由滑落至产品深孔内，百分表显示数值即为H1值。
[0023]此H1、H2即为所测量工件的深孔高度差数值。
[0024]以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种深孔高度差的测量装置，包括安装板(2)和支撑架(12)，其特征在于：所述支撑架(12)固定在安装板(2)两侧；所述安装板(2)上设有直线导轨(11)；滑块(9)可移动地安装在直线导轨(11)上；所述安装板(2)下部还设有安装块(7)；所述滑块(9)上还设有电子百分表(1)；所述电子百分表(1)下端设有测针(10)，所述滑块(9)上还设有多个对中元件(6...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗砚，冯岩，
申请(专利权)人：苏州诺蒂斯微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：