足迹图像检测方法及装置制造方法及图纸

一种足迹图像检测方法及装置，所述方法包括：获取待测足迹图像；根据所述待测足迹图像获取足迹标识参数；检测所述足迹标识参数与预设标识参数是否匹配，其中，所述预设标识参数为标准足迹图像数据库内的标准足迹参数；当所述足迹标识参数与所述预设标识参数匹配时，向监控系统发送匹配成功信号。通过将采集到的待测足迹图像与标准足迹图像数据库内的预设标识参数匹配，根据具有特征性的足迹标识参数的匹配结果，快速区分出待测足迹图像是否为所需要的图像，降低了对足迹检测的难度，提高了足迹比对的效率。迹比对的效率。迹比对的效率。

【技术实现步骤摘要】
足迹图像检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及一种图像处理
，特别是涉及一种足迹图像检测方法及装置。

技术介绍

[0002]根据足迹的形状特征进行足迹辨别，是作为刑事侦查的一种手段方法，其中，通过采用足型特征的方法，从而研究足迹产生人员的身高、体重以及年龄等信息，便于对足迹遗留者的身份判断。
[0003]但是，传统的步法检验技术、鞋底磨损特征检验技术和动力形态特征检验技术，都是在足型特征的基础上从足迹形成的某一个侧面去研究，对足迹中各部位特征的标识主要由具有十年甚至二十年以上工作年限的足迹专家进行，依靠的是专家个人长期积累的丰富实践经验。这样，同一枚现场足迹不同专家标识出不同图谱、同一名专家不同时段标识出不同图谱，使得足迹分析检验技术的使用难度较大，不利于该技术的推广应用。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种解决上述技术问题的足迹图像检测方法及装置。
[0005]本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：
[0006]一种足迹图像检测方法，包括：获取待测足迹图像；根据所述待测足迹图像获取足迹标识参数；检测所述足迹标识参数与预设标识参数是否匹配，其中，所述预设标识参数为标准足迹图像数据库内的标准足迹参数；当所述足迹标识参数与所述预设标识参数匹配时，向监控系统发送匹配成功信号。
[0007]在其中一个实施例中，所述根据所述待测足迹图像获取足迹标识参数，包括：根据所述待测足迹图像获取足迹介质密度分布图像；根据所述足迹介质密度分布图像获取足迹标识参数。
[0008]在其中一个实施例中，所述根据所述足迹介质密度分布图像获取足迹标识参数，包括：根据所述足迹介质密度分布图像获取至少一个区域形态图像；根据所述区域形态图像获取对应的形态标识参数。
[0009]在其中一个实施例中，所述根据所述区域形态图像获取对应的形态标识参数，包括：根据所述区域形态图像获取足迹中心线参数；根据所述足迹中心线参数以及所述区域形态图像，获取足长度以及对应区域形态图像的宽度，其中，区域形态图像的宽度为沿足迹中心线方向的宽度。
[0010]在其中一个实施例中，所述向监控系统发送匹配成功信号，之后还包括：根据所述区域形态图像的宽度获取年龄值。
[0011]在其中一个实施例中，所述根据所述足迹介质密度分布图像获取足迹标识参数，包括：根据所述足迹介质密度分布图像获取至少三个支撑区域图像；根据所述至少三个支撑区域图像获取支撑标识参数。
[0012]在其中一个实施例中，所述根据所述至少三个支撑区域图像获取支撑标识参数，包括：根据所述至少三个支撑区域图像获取各所述支撑区域图像的突点参数；根据各所述突点参数获取支撑标识参数。
[0013]在其中一个实施例中，所述支撑标识参数包括：相邻两个所述支撑区域图像的突点之间的间距。
[0014]在其中一个实施例中，所述支撑标识参数包括：每一所述支撑区域图像的突点与其相邻两个所述支撑区域图像的突点形成的夹角。
[0015]一种足迹图像检测装置，包括：采集模块、解析模块以及处理模块，所述采集模块的输出端与所述解析模块的输入端连接，所述解析模块的输出端与所述处理模块的输入端连接，所述处理模块的输出端用于与监控系统连接；所述采集模块，用于获取待测足迹图像；所述解析模块，用于根据所述待测足迹图像获取足迹标识参数；所述处理模块，用于检测所述足迹标识参数与预设标识参数是否匹配，其中，所述预设标识参数为标准足迹图像数据库内的标准足迹图像；当所述足迹标识参数与所述预设标识参数匹配时，向监控系统发送匹配成功信号。
[0016]与现有技术相比，本专利技术至少具有以下优点：
[0017]通过将采集到的待测足迹图像与标准足迹图像数据库内的预设标识参数匹配，根据具有特征性的足迹标识参数的匹配结果，快速区分出待测足迹图像是否为所需要的图像，降低了对足迹检测的难度，提高了足迹比对的效率。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0019]图1为一实施例中足迹图像检测方法的流程图；
[0020]图2为一实施例中足迹分区图；
[0021]图3为一实施例中足迹标识图a；
[0022]图4为一实施例中足迹标识图b；
[0023]图5为一实施例中支撑区域图；
[0024]图6为一实施例中支撑区标识图；
[0025]图7为一实施例中赤足足迹标识图；
[0026]图8为一实施例中穿鞋足迹标识图；
[0027]图9为一实施例中不同鞋的足迹标识图；
[0028]图10为一实施例中足长度以及年龄分析图；
[0029]图11为另一实施例中年龄分析图；
[0030]图12为一实施例中足迹图像检测装置的模块示意图。
具体实施方式
[0031]为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中
给出了本专利技术的较佳实施方式。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本专利技术的公开内容理解的更加透彻全面。
[0032]需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0033]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0034]本专利技术涉及一种足迹图像检测方法。在其中一个实施例中，所述足迹图像检测方法包括：获取待测足迹图像；根据所述待测足迹图像获取足迹标识参数；检测所述足迹标识参数与预设标识参数是否匹配，其中，所述预设标识参数为标准足迹图像数据库内的标准足迹参数；当所述足迹标识参数与所述预设标识参数匹配时，向监控系统发送匹配成功信号。通过将采集到的待测足迹图像与标准足迹图像数据库内的预设标识参数匹配，根据具有特征性的足迹标识参数的匹配结果，快速区分出待测足迹图像是否为所需要的图像，降低了对足迹检测的难度，提高了足迹比对的效率。
[0035]请参阅图1，其为本专利技术一实施例的足迹图像检测方法的流程图，所述足迹图像检测方法包括以下步骤的部分或全部。
[0036]请一并参阅图1至图11。
[0037本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种足迹图像检测方法，其特征在于，包括：获取待测足迹图像；根据所述待测足迹图像获取足迹标识参数；检测所述足迹标识参数与预设标识参数是否匹配，其中，所述预设标识参数为标准足迹图像数据库内的标准足迹参数；当所述足迹标识参数与所述预设标识参数匹配时，向监控系统发送匹配成功信号。2.根据权利要求1所述的足迹图像检测方法，其特征在于，所述根据所述待测足迹图像获取足迹标识参数，包括：根据所述待测足迹图像获取足迹介质密度分布图像；根据所述足迹介质密度分布图像获取足迹标识参数。3.根据权利要求2所述的足迹图像检测方法，其特征在于，所述根据所述足迹介质密度分布图像获取足迹标识参数，包括：根据所述足迹介质密度分布图像获取至少一个区域形态图像；根据所述区域形态图像获取对应的形态标识参数。4.根据权利要求3所述的足迹图像检测方法，其特征在于，所述根据所述区域形态图像获取对应的形态标识参数，包括：根据所述区域形态图像获取足迹中心线参数；根据所述足迹中心线参数以及所述区域形态图像，获取足长度以及对应区域形态图像的宽度，其中，区域形态图像的宽度为沿足迹中心线方向的宽度。5.根据权利要求4所述的足迹图像检测方法，其特征在于，所述向监控系统发送匹配成功信号，之后还包括：根据所述区域形态图像的宽度获取年龄值。6.根据权利要求2所述的足迹图像检测方法，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁国平，
申请(专利权)人：袁国平，
类型：发明
国别省市：