触控屏的校准方法及装置、终端和存储介质制造方法及图纸

本公开是关于一种触控屏的校准方法及装置、存储介质。该方法应用于终端，包括：检测作用于触控屏的触控压力，并检测反应所述触控压力作用于所述触控屏时的所述触控屏形变状况的触控数据；在所述触控压力撤销后，根据所述触控数据和所述触控压力，校准所述触控屏的基准数据；其中，所述基准数据为所述触控屏确认未检测到触控操作时对应的触控数据。通过本公开实施例的技术方案，可以在触控压力导致触控屏产生轻微变形而使得触控传感器的检测数据发生变化时，能够通过校准使得触控屏将变形后检测的触控数据调整至基准数据，从而减少由于触控屏的形变产生的触控屏数据变化带来的误检测以及触控不灵敏的情况。检测以及触控不灵敏的情况。检测以及触控不灵敏的情况。

【技术实现步骤摘要】
触控屏的校准方法及装置、终端和存储介质


[0001]本公开涉及电子技术，尤其涉及一种触控屏的校准方法及装置、终端和存储介质。

技术介绍

[0002]随着电子技术的发展，触控屏被广泛应用于各种终端电子设备，并且逐渐发展为大尺寸的全面屏、曲面屏甚至环绕屏等等。在用户使用电子设备的过程中，也更加容易触碰或者挤压到触控屏的表面。由于触控屏往往使用电容感应原理检测触控操作，因此在触控屏受到挤压或者碰撞而发生形变时容易产生电容的变化，造成触控检测不准确，以及触控操作不灵敏的情况。

技术实现思路

[0003]本公开提供一种触控屏的校准方法及装置、终端和存储介质。
[0004]根据本公开实施例的第一方面，提供一种触控屏的校准方法，所述方法应用于终端，包括：
[0005]检测作用于触控屏的触控压力，并检测反应所述触控压力作用于所述触控屏时的所述触控屏形变状况的触控数据；
[0006]在所述触控压力撤销后，根据所述触控数据和所述触控压力，校准所述触控屏的基准数据；其中，所述基准数据为所述触控屏确认未检测到触控操作时对应的触控数据。
[0007]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0008]根据所述触控数据和所述触控压力，确定所述触控屏的形变系数；
[0009]所述在所述触控压力撤销后，根据所述触控数据和所述触控压力，校准所述触控屏的基准数据，包括：
[0010]根据所述触控数据，确定触控位置；
[0011]在所述触控压力撤销后，根据所述形变系数，调整所述触控位置的基准数据。
[0012]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0013]确定所述形变系数是否在预存的形变系数范围内；
[0014]所述在所述触控压力撤销后，根据所述形变系数和所述触控位置，调整所述触控位置的基准数据，包括：
[0015]如果所述形变系数在所述形变系数范围内，则在所述触控压力撤销后，根据所述形变系数，调整所述触控位置的基准数据。
[0016]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0017]如果所述形变系数在所述形变系数范围以外，则在所述触控压力撤销后，根据所述触控屏上的触控传感器检测到的触控数据，调整所述触控屏全部的基准数据。
[0018]在一些实施例中，所述根据所述触控数据和所述触控压力，确定所述触控屏的形变系数，包括：
[0019]在检测到触控屏上的触控压力的时段内，确定所述触控压力和触控数据的关系曲
线；
[0020]根据所述关系曲线的变化率，确定所述形变系数。
[0021]根据本公开实施例的第二方面，提供一种触控屏的校准装置，所述装置应用于终端，包括：
[0022]检测模块，用于检测作用于触控屏的触控压力，并检测反应所述触控压力作用于所述触控屏时的所述触控屏形变状况的触控数据；
[0023]校准模块，用于在所述触控压力撤销后，根据所述触控数据和所述触控压力，校准所述触控屏的基准数据；其中，所述基准数据为所述触控屏确认未检测到触控操作时对应的触控数据。
[0024]在一些实施例中，所述装置还包括：
[0025]第一确定模块，用于根据所述触控数据和所述触控压力，确定所述触控屏的形变系数；
[0026]所述校准模块，包括：
[0027]第一确定子模块，用于根据所述触控数据，确定触控位置；
[0028]调整子模块，用于在所述触控压力撤销后，根据所述形变系数，调整所述触控位置的基准数据。
[0029]在一些实施例中，所述装置还包括：
[0030]第二确定模块，用于确定所述形变系数是否在预存的形变系数范围内；
[0031]所述调整子模块，具体用于：
[0032]如果所述形变系数在所述形变系数范围内，则在所述触控压力撤销后，根据所述形变系数，调整所述触控位置的基准数据。
[0033]在一些实施例中，所述装置还包括：
[0034]调整模块，如果所述形变系数在所述形变系数范围以外，则用于在所述触控压力撤销后，根据所述触控屏上的触控传感器检测到的触控数据，调整所述触控屏全部的基准数据。
[0035]在一些实施例中，所述第一确定模块，包括：
[0036]第二确定子模块，用于在检测到触控屏上的触控压力的时段内，确定所述触控压力和触控数据的关系曲线；
[0037]第三确定子模块，用于根据所述关系曲线的变化率，确定所述形变系数。
[0038]根据本公开实施例的第三方面，提供一种终端，所述终端至少包括：处理器和用于存储能够在所述处理器上运行的可执行指令的存储器，其中：
[0039]处理器用于运行所述可执行指令时，所述可执行指令执行上述任一项触控屏的校准方法中的步骤。
[0040]根据本公开实施例的第四方面，提供一种非临时性计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被处理器执行时实现上述任一项的触控屏的校准方法中的步骤。
[0041]本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：通过本公开实施例的技术方案，在检测触控数据的同时检测触控压力，并且在触控压力撤销后对触控屏的基准数据进行校准。这样，可以在触控压力导致触控屏产生轻微变形而使得触控传感器的电容发
生变化时，能够通过校准使得触控屏将变形后检测的触控数据调整至基准数据，从而减少由于触控屏的形变产生的触控屏数据变化带来的误检测以及触控不灵敏的情况。
[0042]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
[0043]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。
[0044]图1是根据一示例性实施例示出的一种触控屏的校准方法的流程图一；
[0045]图2是根据一示例性实施例示出的一种触控屏的校准方法的流程图二；
[0046]图3是根据一示例性实施例示出的一种触控屏的校准方法的流程图三；
[0047]图4是根据一示例性实施例示出的一种触控屏的校准装置的结构框图；
[0048]图5是根据一示例性实施例示出的一种终端的实体结构框图。
具体实施方式
[0049]这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本专利技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本专利技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0050]图1是根据一示例性实施例示出的一种触控屏的校准方法的流程图，如图1所示，该方法应用于终端，包括以下步骤：
[0051]步骤S101、检测作用于触控屏的触控压力，并检测反应所述触控压力作用于所述触控屏时的所述触控屏形变状况的触控数据；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触控屏的校准方法，其特征在于，所述方法应用于终端，包括：检测作用于触控屏的触控压力，并检测反应所述触控压力作用于所述触控屏时的所述触控屏形变状况的触控数据；在所述触控压力撤销后，根据所述触控数据和所述触控压力，校准所述触控屏的基准数据；其中，所述基准数据为所述触控屏确认未检测到触控操作时对应的触控数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述触控数据和所述触控压力，确定所述触控屏的形变系数；所述在所述触控压力撤销后，根据所述触控数据和所述触控压力，校准所述触控屏的基准数据，包括：根据所述触控数据，确定触控位置；在所述触控压力撤销后，根据所述形变系数，调整所述触控位置的基准数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：确定所述形变系数是否在预存的形变系数范围内；所述在所述触控压力撤销后，根据所述形变系数和所述触控位置，调整所述触控位置的基准数据，包括：如果所述形变系数在所述形变系数范围内，则在所述触控压力撤销后，根据所述形变系数，调整所述触控位置的基准数据。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：如果所述形变系数在所述形变系数范围以外，则在所述触控压力撤销后，根据所述触控屏上的触控传感器检测到的触控数据，调整所述触控屏全部的基准数据。5.根据权利要求2至4任一所述的方法，其特征在于，所述根据所述触控数据和所述触控压力，确定所述触控屏的形变系数，包括：在检测到触控屏上的触控压力的时段内，确定所述触控压力和触控数据的关系曲线；根据所述关系曲线的变化率，确定所述形变系数。6.一种触控屏的校准装置，其特征在于，所述装置应用于终端，包括：检测模块，用于检测作用于触控屏的触控压力，并检测反应所述触控压力作用于所述触控屏时的所述触控屏形变状况的触控数据；校准模块，用于在所述触控压力撤销后...

【专利技术属性】
技术研发人员：慕伟虎，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，
类型：发明
国别省市：