一种随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置及使用方法制造方法及图纸

本发明专利技术一种随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置及使用方法，该装置中箱体为空心的长方体，用于盛装水或有机玻璃，底盖的端面成内凹设置，搭接在仪器外径上并覆盖探测区域，仪器顶部与水或有机玻璃上表面的距离≥25cm；仪器搭接在第一支架上表面的凹槽中，箱体前后的第二支架固定搭接在仪器的外径上，使箱体在的仪器上水平设置。使用时仪器对箱体进行传值，得到短源距的计数率N

【技术实现步骤摘要】
一种随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置及使用方法


[0001]本专利技术属于石油天然气钻探
，具体为一种随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置及使用方法。

技术介绍

[0002]随钻中子孔隙度测井仪是随钻放射性仪器之一，其响应主要反映岩石中的氢元素含量。随钻中子孔隙度测井仪利用自身的化学中子源和长、短源距两个探测器，测量尚未被地层俘获的超热中子密度随源距的衰减率，并把衰减率转换成刻度过的孔隙度值。该仪器受井眼的影响很小，能够准确、可靠的获取孔隙度参数。在地质向导钻井过程中，为系统实施精确向导提供保障。随钻中子孔隙度测井仪使用的放射源包括化学源Am-Be、可控源D-T中子发生器，探测器使用氦3中子探测器或Li玻璃探测器，通过远/近探测器的计数率比值计算孔隙度。
[0003]该仪器在研制后需在一级刻度井内进行一级刻度，以便建立响应关系，在规定期限因上井作业部分装配尺寸、电子学系统因素改变需进行二级刻度，一级及二级刻度目前均形成较为完备的技术和装置。
[0004]当随钻中子孔隙度测井仪拉至井场准备下井前，仅能测试该仪器的电路系统的稳定性，无法在井场进行放射性工作状态检测。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供了一种随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置及使用方法，能实现随钻中子孔隙度测井仪的井场校验，可通过调节中子发生器靶压步数对随钻中子孔隙度测井仪的中子产额进行调节，保证该仪器在下井作业的电路系统及中子产额稳定可靠，提高测量曲线的稳定，减少了起钻风险。<br/>[0006]本专利技术是通过以下技术方案来实现：
[0007]一种随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置，包括第一支架、液位计、水平仪、第二支架和箱体；
[0008]所述的箱体为空心结构的长方体，箱体用于盛装水或有机玻璃，有机玻璃与箱体的四个内壁贴合设置，箱体设置有上盖和底盖，底盖的端面成内凹设置，底盖搭接在随钻中子孔隙度测井仪的外径上并覆盖随钻中子孔隙度测井仪的探测区域，随钻中子孔隙度测井仪的顶部与上盖中水或有机玻璃上表面的距离≥25cm；
[0009]所述的随钻中子孔隙度测井仪沿水平方向搭接在第一支架上表面的凹槽中，第一支架上表面的凹槽用于防止随钻中子孔隙度测井仪滚动，箱体的前后两侧固定设置有第二支架，第二支架固定搭接在随钻中子孔隙度测井仪的外径上，使箱体在随钻中子孔隙度测井仪上呈水平设置。
[0010]优选的，所述箱体的材质为铁、铜、铝或不锈钢。
[0011]优选的，所述随钻中子孔隙度测井仪的顶部与上盖中水或有机玻璃上表面的距离
为25～40cm。
[0012]优选的，所述底盖的端面为半圆结构，该半圆的半径比随钻中子孔隙度测井仪的半径大0.3～0.5cm。
[0013]优选的，当所述的箱体盛装水时，箱体的一侧沿垂直方向设置有液位计，箱体上设置有进水口和排水口，上盖上设置有水平仪。
[0014]进一步，所述的排水口与液位计设置在箱体的同一侧，排水口上焊接有出水开关，进水口设置在上盖上。
[0015]优选的，所述的第二支架横截面为U型，第二支架焊接在箱体的前后两侧；第二支架通过螺柱和螺栓固定搭接在随钻中子孔隙度测井仪的外径上，螺柱自上而下贯穿第二支架并顶紧在随钻中子孔隙度测井仪的外径上，螺栓从第二支架的一侧水平贯穿第二支架并顶紧在随钻中子孔隙度测井仪的外径上。
[0016]优选的，所述的第二支架沿水平方向向外设置有把手。
[0017]优选的，所述箱体前后方向的一侧设置有探测器固定孔，探测器固定孔与随钻中子孔隙度测井仪的中子发生器相向设置，水平筒通过探测器固定孔沿水平方向深入箱体设置，水平筒与探测器固定孔密封设置，水平筒中安装有氦中子探测器。
[0018]一种随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置的使用方法，基于上述任意一项所述的随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置，包括如下步骤：
[0019]步骤1，将随钻中子孔隙度测井仪沿水平方向搭接在第一支架上表面的凹槽中；
[0020]步骤2，在箱体中盛装水或有机玻璃，使随钻中子孔隙度测井仪的顶部与上盖中水或有机玻璃上表面的距离≥25cm，之后将箱体搭接在随钻中子孔隙度测井仪的外径上并覆盖随钻中子孔隙度测井仪的探测区域，第二支架固定搭接在随钻中子孔隙度测井仪的外径上，使箱体在随钻中子孔隙度测井仪上呈水平设置；
[0021]步骤3，用随钻中子孔隙度测井仪对箱体进行传值，得到短源距的计数率N
SS
和长源距的计数率N
LS
，之后按照同样的方式得到短源距的计数率N
S
′
S
和长源距的计数率N
L
′
S
，通过调节中子发生器的靶压步数，使得|N
SS-N
S
′
S
|/N
SS
&lt;0.1、|N
LS-N
L
′
S
|/N
LS
&lt;0.1，完成随钻中子孔隙度测井仪的井场校验。
[0022]本专利技术具有如下有益的技术效果：
[0023]本专利技术一种随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置，空心结构的长方体箱体可盛装水或有机玻璃，有机玻璃与箱体的四个内壁贴合设置，底盖的端面成内凹可搭接在随钻中子孔隙度测井仪的外径上并覆盖随钻中子孔隙度测井仪的探测区域，这样依据蒙特卡罗仿真模拟实验数据，随钻中子孔隙度测井仪的顶部与上盖中水或有机玻璃上表面的距离≥25cm可以确保在具体应用时模拟的最大有效孔隙度值在10p.u以上，当箱体盛装水时可以节约成且通过水可以实时对体积进行控制；随钻中子孔隙度测井仪沿水平方向搭接在第一支架上表面的凹槽中，这样第一支架上表面的凹槽可防止随钻中子孔隙度测井仪滚动，第二支架固定搭接在随钻中子孔隙度测井仪的外径上，可使箱体在随钻中子孔隙度测井仪上呈水平设置，满足测量需要。本专利技术的井场校验装置可实现随钻化学源、可控源这些不同类型的中子孔隙度测井仪井场放射性校验，调整中子产额，保证该仪器在下井作业的电路系统及中子产额稳定可靠，提高测量曲线的稳定，减少了起钻风险。
[0024]本专利技术一种随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置的使用方法，先将随钻中子孔
隙度测井仪沿水平方向搭接在第一支架上表面的凹槽中，这样再在箱体中盛装水或有机玻璃，使随钻中子孔隙度测井仪的顶部与上盖中水或有机玻璃上表面的距离≥25cm，可方便将箱体搭接在随钻中子孔隙度测井仪的外径上并覆盖随钻中子孔隙度测井仪的探测区域，第二支架固定搭接在随钻中子孔隙度测井仪的外径上，可使箱体在随钻中子孔隙度测井仪上呈水平设置，满足测量需要；最后用随钻中子孔隙度测井仪对箱体进行传值，可得到短源距的计数率N
SS
和长源距的计数率N
LS
，使用一段时间后中子产额会有一定下降，加上仪器装配等因素对孔隙度的影响，所以按照同样的方式得到短源距的计数率N...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置，其特征在于，包括第一支架(1)、液位计(3)、水平仪(5)、第二支架(12)和箱体；所述的箱体为空心结构的长方体，箱体用于盛装水或有机玻璃，有机玻璃与箱体的四个内壁贴合设置，箱体设置有上盖(10)和底盖(11)，底盖(11)的端面成内凹设置，底盖(11)搭接在随钻中子孔隙度测井仪(2)的外径上并覆盖随钻中子孔隙度测井仪(2)的探测区域，随钻中子孔隙度测井仪(2)的顶部与上盖(10)中水或有机玻璃上表面的距离≥25cm；所述的随钻中子孔隙度测井仪(2)沿水平方向搭接在第一支架(1)上表面的凹槽中，第一支架(1)上表面的凹槽用于防止随钻中子孔隙度测井仪(2)滚动，箱体的前后两侧固定设置有第二支架(12)，第二支架(12)固定搭接在随钻中子孔隙度测井仪(2)的外径上，使箱体在随钻中子孔隙度测井仪(2)上呈水平设置。2.根据权利要求1所述的随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置，其特征在于，所述箱体的材质为铁、铜、铝或不锈钢。3.根据权利要求1所述的随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置，其特征在于，所述随钻中子孔隙度测井仪(2)的顶部与上盖(10)中水或有机玻璃上表面的距离为25～40cm。4.根据权利要求1所述的随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置，其特征在于，所述底盖(11)的端面为半圆结构，该半圆的半径比随钻中子孔隙度测井仪(2)的半径大0.3～0.5cm。5.根据权利要求1所述的随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置，其特征在于，当所述的箱体盛装水时，箱体的一侧沿垂直方向设置有液位计(3)，箱体上设置有进水口(6)和排水口(4)，上盖(10)上设置有水平仪(5)。6.根据权利要求5所述的随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置，其特征在于，所述的排水口(4)与液位计(3)设置在箱体的同一侧，排水口(4)上焊接有出水开关，进水口(6)设置在上盖(10)上。7.根据权利要求1所述的随钻中子孔隙度测井仪的井场校验装置，其特征在于，所述的第二支架(12)横截面为U型，第二支架(12)焊接在箱体的前后两侧；第二支架(12)通过螺柱(8)和螺栓(13)固定搭接在随钻中子孔隙度测井仪(2)的外径上，螺柱(8...

【专利技术属性】
技术研发人员：安旅行，醋云彦，朱军，陈绪涛，骆庆锋，王珺，崔宁，陈辉，郭广鎏，宋森，何晶，
申请(专利权)人：中国石油集团测井有限公司，
类型：发明
国别省市：