一种电源缺相检测方法、装置、存储介质及电器制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电源缺相检测方法、装置、存储介质及电器，所述方法包括：在预设采样时间内对所述电源的输入电压进行采样；对采样的输入电压采样值取平均值，以得到所述输入电压的平均采样值；根据采样的输入电压采样值和所述平均采样值确定是否存在电压波动周期；若确定存在电压波动周期，则根据每次采样的所述输入电压采样值与所述平均采样值的比较结果确定所述电源是否缺相。本发明专利技术提供的方案能够通过软件算法实现了对输入电压异常进行检测，降低成本。低成本。低成本。

【技术实现步骤摘要】
一种电源缺相检测方法、装置、存储介质及电器


[0001]本专利技术涉及控制领域，尤其涉及一种电源缺相检测方法、装置、存储介质及电器。

技术介绍

[0002]电源缺相会导致电流对控制器上电解电容冲击较大，长时间会对电解电容、水泥电阻等造成损坏。现有电源缺相检测常用相序保护器、硬件检测电路等，成本较高，占用较大电控箱的空间。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的在于克服上述现有技术的缺陷，提供一种电源缺相检测方法、装置、存储介质及电器，以解决现有技术中电源缺相检测采用相序保护器、硬件检测电路等成本较高的问题。
[0004]本专利技术一方面提供了一种电源缺相检测方法，包括：在预设采样时间内对所述电源的输入电压进行采样；对采样的输入电压采样值取平均值，以得到所述输入电压的平均采样值；根据采样的输入电压采样值和所述平均采样值确定是否存在电压波动周期；若确定存在电压波动周期，则根据每次采样的所述输入电压采样值与所述平均采样值的比较结果确定所述电源是否缺相。
[0005]可选地，根据采样的输入电压采样值和所述平均采样值确定是否存在电压波动周期，包括：依次判断每次采样的输入电压采样值与所述平均采样值是否满足下列条件(1)或条件(2)：
[0006][0007][0008]其中，Xn表示第n次采样的输入电压的采样值，表示所述平均采样值；当累计判断输入电压采样值与所述平均采样值满足条件(1)或条件(2)的次数达到预设次数时，确定存在一个电压波动周期。
[0009]可选地，根据每次采样的所述输入电压采样值与所述平均采样值的比较结果确定所述电源是否缺相，包括：
[0010]根据累计判断采样的输入电压采样值与所述平均采样值满足条件(1)或条件(2)的次数达到预设次数时的采样次数和单次采样时间设置采样计数时间；
[0011]根据所述采样计数时间、所述预设采样时间是否满足条件(3)，确定所述电源是否缺相；
[0012]t1*b>t*k
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(3)
[0013]其中，t1为采样计数时间，t为预设采样时间，b为预设采样时间内判断满足条件(1)或条件(2)的次数达到预设次数的次数，k为预设系数，若满足条件(3)，则确定所述电源缺相。
[0014]可选地，在所属电器的电机的频率处于预设频段内的情况下，执行所述电源缺相检测。
[0015]本专利技术另一方面提供了一种电源缺相检测装置，包括：采样单元，用于在预设采样时间内对所述电源的输入电压进行采样；处理单元，用于对采样的输入电压采样值取平均值，以得到所述输入电压的平均采样值；第一确定单元，用于根据采样的输入电压采样值和所述平均采样值确定是否存在电压波动周期；第二确定单元，用于若所述第一确定单元确定存在电压波动周期，则根据每次采样的所述输入电压采样值与所述平均采样值的比较结果确定所述电源是否缺相。
[0016]可选地，所述第一确定单元，根据采样的输入电压采样值和所述平均采样值确定是否存在电压波动周期，包括：依次判断每次采样的输入电压采样值与所述平均采样值是否满足下列条件(1)或条件(2)：
[0017][0018][0019]其中，Xn表示第n次采样的输入电压的采样值，表示所述平均采样值；当累计判断输入电压采样值与所述平均采样值满足条件(1)或条件(2)的次数达到预设次数时，确定存在一个电压波动周期。
[0020]可选地，所述确定单元，根据每次采样的所述输入电压采样值与所述平均采样值的比较结果确定所述电源是否缺相，包括：根据累计判断采样的输入电压采样值与所述平均采样值满足条件(1)或条件(2)的次数达到预设次数时的采样次数和单次采样时间设置采样计数时间；根据所述采样计数时间、所述预设采样时间是否满足条件(3)，确定所述电源是否缺相；
[0021]t1*b>t*k
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(3)
[0022]其中，t1为采样计数时间，t为预设采样时间，b为预设采样时间内判断满足条件(1)或条件(2)的次数达到预设次数的次数，k为预设系数，若满足条件(3)，则确定所述电源缺相。
[0023]可选地，在所属电器的电机的频率处于预设频段内的情况下，所述装置执行所述电源缺相检测。
[0024]本专利技术又一方面提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现前述任一所述方法的步骤。
[0025]本专利技术再一方面提供了一种电器，包括处理器、存储器以及存储在存储器上可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现前述任一所述方法的步骤。
[0026]本专利技术再一方面提供了一种电器，包括前述任一所述的电源缺相检测装置。
[0027]根据本专利技术的技术方案，通过软件算法实现了对输入电压异常进行检测，降低成本，提高机组可靠性。通过对输入电压进行采样，及时分析异常波形，从而能够快速进行停机报警响应，降低控制器成本，并提高电器的运行可靠性。
[0028]利用对输入电压进行检测，通过电源缺相时电压交流成分周期的不同，可判断出正常电压及异常电压，从而能够在电压异常时对机组进行停机保护，摒弃了传统增加相序保护器或设计硬件保护电路的方式，大大降低了成本并提高可靠性。
附图说明
[0029]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0030]图1是本专利技术提供的电源缺相检测法的一实施例的方法示意图；
[0031]图2是缺相电压与正常电压波形对比示例图；
[0032]图3是缺相电压波形示例图；
[0033]图4是本专利技术提供的电源缺相检测方法的一具体实施例的方法示意图；
[0034]图5是本专利技术提供的电源缺相检测装置的一实施例的结构框图。
具体实施方式
[0035]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术具体实施例及相应的附图对本专利技术技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0037]本专利技术提供一种电源缺相检测方法。该方法可以用于电器中。例如可以用于空本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电源缺相检测方法，其特征在于，包括：在预设采样时间内对所述电源的输入电压进行采样；对采样的输入电压采样值取平均值，以得到所述输入电压的平均采样值；根据采样的输入电压采样值和所述平均采样值确定是否存在电压波动周期；若确定存在电压波动周期，则根据每次采样的所述输入电压采样值与所述平均采样值的比较结果确定所述电源是否缺相。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据采样的输入电压采样值和所述平均采样值确定是否存在电压波动周期，包括：依次判断采样的输入电压采样值与所述平均采样值是否满足下列条件(1)或条件(2)：依次判断采样的输入电压采样值与所述平均采样值是否满足下列条件(1)或条件(2)：其中，Xn表示第n次采样的输入电压的采样值，表示所述平均采样值；当累计判断输入电压采样值与所述平均采样值满足条件(1)或条件(2)的次数达到预设次数时，确定存在一个电压波动周期。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据每次采样的所述输入电压采样值与所述平均采样值的比较结果确定所述电源是否缺相，包括：根据累计判断采样的输入电压采样值与所述平均采样值满足条件(1)或条件(2)的次数达到预设次数时的采样次数和单次采样时间设置采样计数时间；根据所述采样计数时间、所述预设采样时间是否满足条件(3)，确定所述电源是否缺相；t1*b>t*k (3)其中，t1为采样计数时间，t为预设采样时间，b为预设采样时间内判断满足条件(1)或条件(2)的次数达到预设次数的次数，k为预设系数，若满足条件(3)，则确定所述电源缺相。4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，在所属电器的电机的频率处于预设频段内的情况下，执行所述电源缺相检测。5.一种电源缺相检测装置，其特征在于，包括：采样单元，用于在预设采样时间内对所述电源的输入电压进行采样；处理单元，用于对采样的输入电压采样值取平均值，以得到所述输入电压的平均采样值；第一确定单元，...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈万兴，梅正茂，周姝含，段成杰，李赛，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：