利用液晶板作分划板的光学系统技术方案

利用液晶板作分划板的光学系统，包括物镜系统与目镜，以及位于物镜系统与目镜之间的分划板，其特征是分划板为ＬＣＤ分划板。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术涉及一种光学系统，尤其是指一种利用液晶板作分划板的光学系统。
技术介绍
在现有技术中，光学系统中的分划板通常由照相复制、光刻等工艺生产，一经生产完成，分化精度即被固定，不能改变；由于传统的分划调节是通过机械结构来调节完成的，其调节机构复杂，需要多种调试仪器，校正、定标比较困难，并且，一般光学系统在失调后用户无法校正。
技术实现思路
本技术的目的在于设计一种利用液晶板作分划板的光学系统，以便于更改及调整分划精度。其主要技术方案包括物镜系统与目镜，以及位于物镜系统与目镜之间的分划板，其特征是分划板为LCD液晶分划板。在物镜系统与目镜之间设置半透半反射镜，LCD液晶分划板位于半透半反射镜的一侧，并与物镜系统和目镜的连线平行；在LCD液晶分划板的外侧设置光源；在LCD液晶分划板与半透半反射镜之间设置投影物镜。半透半反射镜与物镜系统和目镜的连线成45度相交，光源的中心穿过半透半反射镜与连线的交线；在LCD液晶分划板的两个侧面上分别设置偏振片。本技术的优点是与传统的利用照相复制、光刻等工艺生产的光学系统相比，本系统由于采用LCD液晶板作为分划板，使用时，只要通过驱动控制电路和相应的软件，就可根据需要任意设定分划图案、分划精度及分划格值，还可根据要求按比例提供图象与目标图象直接进行比较。其次本系统结构简单、小巧，调节方便、快捷；传统的分划调节是通过机械结构来调节完成的，其调节机构复杂，需要多种调试仪器，校正、定标比较困难，并且，一般光学系统在失调后用户无法校正；LCD液晶分划板可通过键盘、鼠标方便地进行调整与定标，用户能根据不同场合，自己设定精度及分划形式，误差比较大；LCD液晶分划全部由电路控制，其测量结果可实时地在分划板上显示，测量快而准。第4、LCD液晶分划板是一种智能化的显示系统，可以在出现目标时进行提示、警告及自动识别。第5、LCD分划板可以把各种照片实物图案，通过扫描仪输入到分划板上，还可接收视频信号及计算机输出信号等多种信号。附图说明图1为本技术的一种光学系统图。图2为另一种光学系统图。图3为第3种光学系统图。具体实施方式如图1所示在物镜系统2与目镜5之间设置LCD分划板4，LCD即常用的液晶显示板，可以外购，在LCD分划板4的两个侧面上分别设置偏振片3。在LCD分划板4上连接常规的驱动控制电路6后，就可控制LCD.分划板4的工作过程。图中的1为目标。也可以在物镜系统2与目镜5之间设置半透半反射镜7，如图2所示，LCD分划板4位于半透半反射镜7的一侧，并与物镜系统2和目镜5的连线平行，再在LCD分划板4的外侧设置光源8，其中，半透半反射镜7与物镜系统2和目镜5的连线成45度相交，光源8的中心穿过半透半反射镜7与连线的交线。还可根据需要在LCD分划板4与半透半反射镜7之间设置投影物镜9。见图3。将本装置用于检测光学系统视场的视场仪后，可根据每种被测光学仪器对视场的技术要求，直接设定分化精度及分划形式，与传统采用光学分划的视场仪相比，可不经读数及计算，通过能否直接看清分划边界来判定是否合格。传统的光具座，在其平行光管的焦面上，需要多种形式的分划板，采用LCD液晶分划板后，与传统的光具座比较，结构简单，可以减少多种分划板的校正工作量。权利要求1.利用液晶板作分划板的光学系统，包括物镜系统与目镜，以及位于物镜系统与目镜之间的分划板，其特征是分划板为LCD分划板。2.根据权利要求1所述的光学系统，其特征是在LCD分划板的两个侧面上分别设置偏振片。3.根据权利要求1所述的光学系统，其特征是在物镜系统与目镜之间设置半透半反射镜，LCD分划板位于半透半反射镜的一侧，并与物镜系统和目镜的连线平行。4.根据权利要求1所述的光学系统，其特征是在LCD分划板的外侧设置光源。5.根据权利要求1或3所述的光学系统，其特征是在LCD分划板与半透半反射镜之间设置投影物镜。6.根据权利要求1或3或4所述的光学系统，其特征是半透半反射镜与物镜系统和目镜的连线成45度相交，光源的中心穿过半透半反射镜与连线的交线。专利摘要本技术涉及一种光学系统，尤其是指一种利用液晶板作分划板的光学系统。其主要技术方案包括物镜系统与目镜，以及位于物镜系统与目镜之间的分划板，其特征是分划板为LCD分划板；在物镜系统与目镜之间设置半透半反射镜，LCD分划板位于半透半反射镜的一侧，并与物镜系统和目镜的连线平行；在LCD分划板的外侧设置光源；在LCD分划板与半透半反射镜之间设置投影物镜。利用本装置后有助于更改及调整分划精度。文档编号G02F1/13GK2575701SQ0225835公开日2003年9月24日 申请日期2002年11月7日 优先权日2002年11月7日专利技术者兰芥, 张景鸫, 胡自伟, 陈枫, 何明太 申请人:无锡市星迪仪器有限公司, 国营第三四八厂本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：兰芥，张景鸫，胡自伟，陈枫，何明太，
申请(专利权)人：无锡市星迪仪器有限公司，国营第三四八厂，
类型：实用新型
国别省市：