电器产品老化试验机制造技术

技术编号:27217776 阅读:11 留言:0更新日期:2021-02-04 11:35
本发明专利技术属于电器实验技术领域,公开了电器产品老化试验机,电器产品老化试验机的原理框图,由AC220V电压输入,合上K总开关分别给触摸屏、工控机、集控器、开关电源供电和A面、B面控制单元供电,在触摸屏页面上设置A面或B面试验时间、功率参数、温度参数、高压参数、低压参数、冲击试验参数、失效产品参数、组别报警关断等参数确认,再合上K1、K2实时采集A面或B面控制单元一一对应的编号数据传给触摸屏、工控机存储显示,本发明专利技术通过合上K1、K2开关将实时采集A面或B面控制单元一一对应的编号数据传给触摸屏、工控机存储显示,在试验时间内对批次产品分检筛选:合格品、不合格品和失效品的统计汇总生成报告单。总生成报告单。总生成报告单。

【技术实现步骤摘要】
电器产品老化试验机


[0001]本专利技术属于电器实验
,具体涉及电器产品老化试验机。

技术介绍

[0002]老化试验主要是指针对橡胶、塑料产品、电器绝缘材料及其他材料进行的热氧老化试验;或者针对电子零配件、塑化产品的换气老化试验。
[0003]目前市场上常见的电器老化台,普遍存在不能在线检测温度、负载电流、功率参数,高低电压试验、额定电压试验、冲击电压试验参数实时读取等功能缺失,达不到真正意义上的电器性能老化试验的目的。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于克服现有电器老化台存在的以上缺陷,提供一种能够批量在线检测温度、负载功率,高低电压试验、额定电压试验、冲击电压试验等数据实时显示、读取、存储的,电器性能老化试验设备。
[0005]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:电器产品老化试验机,电器产品老化试验机的原理框图,由AC220V电压输入,合上K总开关分别给触摸屏、工控机、集控器、开关电源供电和A面、B面控制单元供电,在触摸屏页面上设置A面或B面试验时间、功率参数、温度参数、高压参数、低压参数、冲击试验参数、失效产品参数、组别报警关断等参数确认,再合上K1、K2实时采集A面或B面控制单元一一对应的编号数据传给触摸屏、工控机存储显示,试验时间内可对批次产品分检:合格品、不合格品、失效品的筛选,生成报告单的电器性能老化试验设备。
[0006]作为本专利技术电器产品老化试验机优选地,包括触摸屏,所述触摸屏、总控板、信号指示灯、总开关、B面电参数表、A面电参数表、推拉把手和检修门安装于机柜上,所述机柜A面安装有A面采集器一、A面采集器二、A面采集器三、A面测试板一、A面测试板二、A面测试板三、A面有机玻璃门一、A面有机玻璃门二和A面有机玻璃门三,所述机柜B面安装有B面采集器四、B面采集器五、B面采集器六、B面测试板一、B面测试板二、B面测试板三、B面有机玻璃门一、B面有机玻璃门二和B面有机玻璃门三,所述机柜的一侧设置有总控门。
[0007]作为本专利技术电器产品老化试验机优选地,所述电器产品老化试验机装置中,具有触摸屏、工控机、集控器、采集器、开关电源等实时记录信息存储试验时间、功率参数、温度参数、高压参数、低压参数、冲击试验参数、失效产品参数,通过工控机程序实现的。
[0008]作为本专利技术电器产品老化试验机优选地,所述电器产品老化试验机装置中,具有A面或B面控制单元一一对应采集的编号数据显示及存储的功能实现的。
[0009]作为本专利技术电器产品老化试验机优选地,所述图1、图3结构形状功能实现的。
[0010]作为本专利技术电器产品老化试验机优选地,所述图2原理结构形状功能实现的。
[0011]作为本专利技术电器产品老化试验机优选地,所述图4、图5、图6、图7、图8、图9、图10、图11结构形状实现的。
[0012]作为本专利技术电器产品老化试验机优选地,所述图12、图13、图14、图15结构形状实现的。
[0013]作为本专利技术电器产品老化试验机优选地,所述机柜的外壳采用铁板喷塑、不锈钢材料、铝塑板材料、阻燃材料等实现的。
[0014]本专利技术与现有技术相比,具有以下有益效果:
[0015]本专利技术通过触摸屏页面的A面或B面试验时间、功率参数、温度参数、高压参数、低压参数、冲击试验参数、失效产品参数、组别报警关断等设置确认,合上K1、K2开关将实时采集A面或B面控制单元一一对应的编号数据传给触摸屏、工控机存储显示,在试验时间内对批次产品分检筛选:合格品、不合格品和失效品的统计汇总生成报告单。
附图说明
[0016]图1是本专利技术电器产品老化试验机的主视图;
[0017]图2是本专利技术电器产品老化试验机的原理框图;
[0018]图3是本专利技术电器产品老化试验机的A面外部功能图;
[0019]图4是本专利技术电器产品老化试验机的总控板图;
[0020]图5是本专利技术电器产品老化试验机的触摸屏及电器元件安装示图;
[0021]图6是本专利技术电器产品老化试验机的A面采集器背面视图;
[0022]图7是本专利技术电器产品老化试验机的A面测试板图;
[0023]图8是本专利技术电器产品老化试验机的A面有机玻璃门图;
[0024]图9是本专利技术电器产品老化试验机的A面测试板安装图;
[0025]图10是本专利技术电器产品老化试验机的A面有机玻璃门安装整体图;
[0026]图11是本专利技术电器产品老化试验机的B面采集板图;
[0027]图12是本专利技术电器产品老化试验机的B面测试板图;
[0028]图13是本专利技术电器产品老化试验机的B面有机玻璃门图;
[0029]图14是本专利技术电器产品老化试验机的B面测试板安装图;
[0030]图15是本专利技术电器产品老化试验机的B面有机玻璃门安装整体图。
[0031]图中:1、机柜;2、集控器;3、A面漏电保护开关;4、工控机;5、A面高电压调压器;6、A面低电压调压器;7、A面稳压器;8、B面稳压器;9、B面低电压调压器;10、B面高电压调压器;11、B面漏电保护开关;12、总控板;13、信号指示灯;14、总开关;15、B面电参数表;16、A面电参数表;17、触摸屏;18、推拉把手;19、检修门;20、A面采集器一;21、A面采集器二;22、A面采集器三;23、A面测试板一;24、A面测试板二;25、A面测试板三;26、A面有机玻璃门一;27、A面有机玻璃门二;28、A面有机玻璃门三;29、B面采集器四;30、B面采集器五;31、B面采集器六;32、B面测试板一;33、B面测试板二;34、B面测试板三;35、B面有机玻璃门一;36、B面有机玻璃门二;37、B面有机玻璃门三;38、总控门。
具体实施方式
[0032]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它
实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0033]在本专利技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0034]参见图1,电器产品老化试验机的主视图。
[0035]参见图2,电器产品老化试验机的原理框图,由AC220V电压输入,合上K总开关14分别给触摸屏17、工控机4、集控器2、开关电源供电和A面、B面控制单元供电,在触摸屏17页面上设置A面或B面试验时间、功率参数、温度参数、高压参数、低压参数、冲击试验参数、失效产品参数、组别报警关断等参数确认,再合上K1、K2实时采集A面或B面控制单元一一对应的本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.电器产品老化试验机,其特征在于:电器产品老化试验机的原理框图,由AC220V电压输入,合上K总开关(14)分别给触摸屏(17)、工控机(4)、集控器(2)、开关电源供电和A面、B面控制单元供电,在触摸屏(17)页面上设置A面或B面试验时间、功率参数、温度参数、高压参数、低压参数、冲击试验参数、失效产品参数、组别报警关断等参数确认,再合上K1、K2实时采集A面或B面控制单元一一对应的编号数据传给触摸屏(17)、工控机(4)存储显示,试验时间内可对批次产品分检:合格品、不合格品、失效品的筛选,生成报告单的电器性能老化试验设备。2.根据权利要求1所述的电器产品老化试验机,其特征在于:包括触摸屏(17),所述触摸屏(17)、总控板(12)、信号指示灯(13)、总开关(14)、B面电参数表(15)、A面电参数表(16)、推拉把手(18)和检修门(19)安装于机柜(1)上,所述机柜(1)A面安装有A面采集器一(20)、A面采集器二(21)、A面采集器三(22)、A面测试板一(23)、A面测试板二(24)、A面测试板三(25)、A面有机玻璃门一(26)、A面有机玻璃门二(27)和A面有机玻璃门三(28),所述机柜(1)B面安装有B面采集器四(29)、B面采集器五(30)、B面采集器六(31)、B面测试板一(32)、B面测试板二...

【专利技术属性】
技术研发人员:王宇魏旭雒普成刘晓红张法洱王晓平
申请(专利权)人:安徽远创电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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