空间差异测量制造技术

一种空间差异测量方法可以包括生成对象的标称3D模型的第一框架的第一关键特征，并且将该第一关键特征外推至标称3D模型上。该方法可以包括在（真实的或模拟的）构建过程期间或之后创建对象的实际3D模型。该方法可以包括生成对象的实际3D模型的第二框架的第二关键特征，并且将该第二关键特征外推至对象的实际3D模型上。该方法可以包括将在标称3D模型上外推的第一关键特征与在实际3D模型上外推的第二关键特征进行比较，以确定第一关键特征与第二关键特征之间的一个或多个距离，从而在构建期间或之后测量标称3D模型与对象之间的空间差异。异。异。

【技术实现步骤摘要】
空间差异测量


[0001]本公开涉及例如用于失真补偿目的的增材制造系统和工艺的空间差异测量。

技术介绍

[0002]由于应力消除等引起的体积收缩、回弹等原因，在增材制造（AM）过程中会发生几何形状的变化。某些增材制造过程中的主要步骤之一是测量成对的3D模型之间的空间差异，例如测量输入标称模型与实际增材制造（模拟或真实的）模型之间的空间差异（例如，用于失真补偿、实验/打印结果评估）。传统方法需要手动选择参考点/表面/边缘，比较这两个模型上表面点之间的距离，并且报告它们在长度、角度、边缘等方面的精度。然而，这些方法严重依赖于参考的选择，使得微小的变化将导致测量结果的显著差异。因此，传统方法可能不可靠和不准确。|通常认为这种常规方法和系统是符合其预期目的的要求的。然而，本领域中仍然需要改进空间差异测量方法和系统。本公开提供了满足这一需求的解决方案。

技术实现思路

[0003]一种空间差异测量方法可以包括生成对象的标称3D模型的第一框架的第一关键特征，并且将该第一关键特征外推至标称3D模型上。该方法可以包括在（真实的或模拟的）构建过程期本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种空间差异测量方法，其包括：生成对象的标称3D模型的第一框架的第一关键特征；将所述第一关键特征外推至所述标称3D模型上；在构建过程期间或之后创建所述对象的实际3D模型；生成所述对象的所述实际3D模型的第二框架的第二关键特征；将所述第二关键特征外推至所述对象的所述实际3D模型上；以及将在所述标称3D模型上外推的所述第一关键特征与在所述实际3D模型上外推的所述第二关键特征进行比较，以确定所述第一关键特征与所述第二关键特征之间的一个或多个距离，从而在构建期间或之后测量所述标称3D模型与所述对象之间的空间差异。2.根据权利要求1所述的方法，其还包括接收对象的所述标称3D模型，并且基于所述标称3D模型生成所述第一框架。3.根据权利要求2所述的方法，其中所述方法包括基于所述实际3D模型生成所述第二框架。4.根据权利要求3所述的方法，其中生成所述第一框架包括使用中轴方法将所述标称3D模型转换成第一有限元网格。5.根据权利要求4所述的方法，其中生成所述第二框架包括使用中轴方法将所述实际3D模型转换成第二有限元网格。6.根据权利要求1所述的方法，其中生成所述第一关键特征和生成所述第二关键特征包括分别使用所述第一框架和所述第二框架的节点。7.根据权利要求6所述的方法，其中外推所述第一关键特征和外推所述第二关键特征包括分别将所述第一关键特征和所述第二关键特征投射到所述标称3D模型和所述实际3D模型的表面。8.根据权利要求7所述的方法，其中所述构建过程是增材制造过程，并且所述方法包括基于标称3D模型对所述对象进行增材制造。9.根据权利要求8所述的方法，其中实时进行比较，并且所述方法包括修改所述增材制造过程的一个或多个特征，以解决所测量的空间差异。10.一种包括被配置成使计算机执行方法的计算机可执行指令的非暂时性计算机可读介质，所述方法包括：生成对象的标称3D模型的第一框架的第一关键特征；将所述第一关键特征外推至所述标称3D模型上；在构建过程期间或之后创建所述对象的实际3D模型；生成所述对象的所述实际3D模型的第二框架的第二关键特征；将所述第二关键特征外推至所述对象的所述实际3D模型上；以及将在所述标称3D模型上外推的所述第一关键特征与在所述实际3D模型上外推的所述第二关键特征进行比较，以确定所述第一关键特征与所述第二关键特征之间的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈彦至，R阿查亚，TI埃尔瓦丹尼，CO芬尼西，WK特雷维，
申请(专利权)人：哈米尔顿森德斯特兰德公司，
类型：发明
国别省市：