eMMC质量检测修复方法、装置及其存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种eMMC质量检测修复方法、装置及存储介质，其中该方法包括：读取eMMC芯片的协议版本信息及生产日期，非失真寄存器及只读信息，获取所述eMMC芯片的第一质量状态；读取所述eMMC芯片的数据存储区，判断是否全为默认值，提取分区特征，获取所述eMMC芯片的第二质量状态；对所述eMMC芯片进行读取擦除性能检测，获取所述eMMC芯片的第三质量状态；根据第一质量状态、第二质量状态及第三质量状态生成所述eMMC芯片的质量评估结果；根据所述质量评估结果，对所述非失真寄存器开启的功能进行关闭，通过擦除命令修复数据存储区，并对读写性能进行修复。简要描述技术效果。本发明专利技术通过多种方式检测，检测修复的覆盖面广，准确率高，贴近用户实际使用需求。贴近用户实际使用需求。贴近用户实际使用需求。

【技术实现步骤摘要】
eMMC质量检测修复方法、装置及其存储介质


[0001]本专利技术涉及eMMC领域，特别涉及一种eMMC质量检测修复方法、装置及其存储介质。

技术介绍

[0002]eMMC被广泛的使用于手机平板电脑等各种电子产品当中，随着技术的更新迭进，原本用于手机等产品的eMMC转而被大量淘汰，变成拆机片等，然后被应用于其他电子产品，这些淘汰后的eMMC产品质量参差不齐，并且混杂在正品eMMC当中，对使用厂家造成很大的困惑和问题，因此如何快速的检测出这些eMMC的质量，并且修复，成为各个eMMC使用厂家的重要课题。目前常用的检测eMMC质量的方式简单粗暴，很容易漏掉一些问题芯片。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种eMMC质量检测修复方法，能够快速的检测出eMMC的质量信息，并提供修复。
[0004]本专利技术还提出一种使用上述eMMC质量检测修复方法的eMMC质量检测修复装置。
[0005]本专利技术还提出一种可执行上述eMMC质量检测修复方法的计算机存储介质。
[0006]根据本专利技术的第一方面实施例的eMMC质量检测修复方法，包括：根据eMMC协议特征，读取eMMC芯片的协议版本信息及生产日期，非失真寄存器及只读信息，获取所述eMMC芯片的第一质量状态；读取所述eMMC芯片的数据存储区，判断是否全为默认值，提取分区特征，获取所述eMMC芯片的第二质量状态；对所述eMMC芯片进行读取擦除性能检测，获取所述eMMC芯片的第三质量状态；根据所述第一质量状态、所述第二质量状态及所述第三质量状态生成所述eMMC芯片的质量评估结果；根据所述质量评估结果，对所述非失真寄存器开启的功能进行关闭，通过擦除命令修复数据存储区，并对读写性能进行修复。
[0007]根据本专利技术实施例的eMMC质量检测修复方法，至少具有如下有益效果：通过多种方式检测，充分结合eMMC协议，分析从eMMC自身反馈的数据，得到eMMC的使用情况，进而分析其质量情况，并且根据使用情况，结合协议，提供修复方案，检测修复的覆盖面广，准确率高，贴近用户实际使用需求，实用性强。
[0008]根据本专利技术的一些实施例，所述第一质量状态的获取方法包括：对比所述协议版本信息与当前最新的eMMC协议版本，获得版本差值，对比生产日期及当前日期的差值，获得日期差值；读取所述非失真寄存器中的值，判断所述eMMC芯片支持的功能是否被开启，获得功能设置状态；通过eMMC协议命令读取只读信息，判断所述只读信息中是否包含只读区域信息，获得只读区域设置状态；根据所述版本差值、所述日期差值、所述功能设置状态及所述只读区域设置状态，得到所述第一质量状态。从eMMC协议特征方面多角度判断eMMC芯片的老旧情况，据老旧情况评估芯片质量风险。
[0009]根据本专利技术的一些实施例，所述第一质量状态的获取方法还包括：若所述协议版本信息为eMMC协议5.0以上，则根据Device Health Report获取所述eMMC芯片的寿命信息；根据所述寿命信息得到所述第一质量状态。对于能获取寿命信息的芯片，进一步提高质量
评估准确性，利于及早发现寿命已尽或将近的芯片。
[0010]根据本专利技术的一些实施例，所述第三质量状态的获取方法包括：检测所述eMMC芯片的读写擦除速度，并与全新的所述eMMC的读写擦除速度相对比，获得读写擦除速度差值，根据所述读写擦除速度差值获得所述第三质量状态。通过eMMC芯片的读写擦除速度与全新的芯片作对比，更准确地评估芯片的质量。
[0011]根据本专利技术的一些实施例，所述对读写性能的修复方法包括：根据所述第三质量状态通过eMMC协议命令对所述eMMC芯片进行擦除，通过eMMC的Dynamic Capacity Management功能减少实质容量，以及将所述eMMC芯片转化为pslc模式其中的至少一种。提供多种修复方式，尽可能将有使用价值的旧eMMC芯片修复后重新投入使用。
[0012]根据本专利技术的一些实施例，所述根据所述第三质量状态通过eMMC协议命令对所述eMMC芯片进行擦除的方法包括：对所述第三质量状态为一般级别的，通过discard/erase/trim命令让所述eMMC芯片不再维护已经写入的旧数据；对所述第三质量状态为严重级别的，通过secure erase/secure trim/sanitize功能把所述eMMC芯片的nand flash重新全部擦除。根据性能质量等级，使用不同的修复方式，提升性能或延长其寿命。
[0013]根据本专利技术的一些实施例，所述将所述eMMC芯片转化为pslc模式的方法包括：通过eMMC协议里面的Enhanced storage media功能将所述eMMC芯片转化为pslc模式。可便捷有效地提升芯片的性能质量。
[0014]根据本专利技术的一些实施例，还包括：在修复过程中，对所述eMMC芯片出现无法修复或无法直接修复的，给出相应的提示。无法自动修复的，通知用户，并给出需要人工介入修复的eMMC芯片的修复方法。
[0015]根据本专利技术的第二方面实施例的eMMC质量检测修复装置，包括：检测执行模块，用于检测eMMC芯片的质量，生成质量评估结果，以及，根据质量评估结果对所述eMMC芯片进行修复，包括：程序存储模块，用于存放权利要求1至7中任一项的方法对应的计算机程序；程序执行模块，用于执行所述计算机程序；电源模块，用于所述eMMC芯片及所述检测执行模块的供电；以及，串口模块，用于输出质量评估结果；上位机，用于通过USB接口与所述检测执行模块连接进行通信，接收所述质量评估结果。
[0016]根据本专利技术实施例的eMMC质量检测修复装置，至少具有如下有益效果：通过多种方式检测，充分结合eMMC协议，多角度判断芯片的使用情况，进而分析其质量情况，并且根据使用情况，结合协议，提供修复方案，检测修复的覆盖面广，准确率高，贴近用户实际使用需求，实用性强。
[0017]根据本专利技术的第三方面实施例的计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行，用于执行权利要求本专利技术第一方面实施例的eMMC质量检测修复方法。
[0018]根据本专利技术实施例的计算机可读存储介质，至少具有如下有益效果：通过多种方式检测，充分结合eMMC协议，分析eMMC的使用情况，进而分析其质量情况，并且根据使用情况，结合协议，提供修复方案，检测修复的覆盖面广，准确率高，贴近用户实际使用需求，实用性强。
附图说明
[0019]本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0020]图1为本专利技术实施例的方法的步骤流程示意图；
[0021]图2为本专利技术实施例的方法中的质量检测流程示意图；
[0022]图3为本专利技术实施例的方法中的质量修复流程示意图；
[0023]图4为本专利技术实施例的装置的结构示意图。
[0024]附图标记：
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种eMMC质量检测修复方法，其特征在于，包括：根据eMMC协议特征，读取eMMC芯片的协议版本信息及生产日期，非失真寄存器及只读信息，获取所述eMMC芯片的第一质量状态；读取所述eMMC芯片的数据存储区，判断是否全为默认值，提取分区特征，获取所述eMMC芯片的第二质量状态；对所述eMMC芯片进行读取擦除性能检测，获取所述eMMC芯片的第三质量状态；根据所述第一质量状态、所述第二质量状态及所述第三质量状态生成所述eMMC芯片的质量评估结果；根据所述质量评估结果，对所述非失真寄存器开启的功能进行关闭，通过擦除命令修复数据存储区，并对读写性能进行修复。2.根据权利要求1所述的eMMC质量检测修复方法，其特征在于，所述第一质量状态的获取方法包括：对比所述协议版本信息与当前最新的eMMC协议版本，获得版本差值，对比生产日期及当前日期的差值，获得日期差值；读取所述非失真寄存器中的值，判断所述eMMC芯片支持的功能是否被开启，获得功能设置状态；通过eMMC协议命令读取只读信息，判断所述只读信息中是否包含只读区域信息，获得只读区域设置状态；根据所述版本差值、所述日期差值、所述功能设置状态及所述只读区域设置状态，得到所述第一质量状态。3.根据权利要求2中所述的eMMC质量检测修复方法，其特征在于，所述第一质量状态的获取方法还包括：若所述协议版本信息为eMMC协议5.0以上，则根据Device Health Report获取所述eMMC芯片的寿命信息；根据所述寿命信息得到所述第一质量状态。4.根据权利要求1所述的eMMC质量检测修复方法，其特征在于，所述第三质量状态的获取方法包括：检测所述eMMC芯片的读写擦除速度，并与全新的所述eMMC的读写擦除速度相对比，获得读写擦除速度差值，根据所述读写擦除速度差值获得所述第三质量状态。5.根据权利要求1所述的eMMC质量检测修复方法，其特征在于，所述对读写性能的修复方法包括：根据所述第三...

【专利技术属性】
技术研发人员：李想，黎彪，
申请(专利权)人：珠海全志科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：