角位移测量方法、装置、系统及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种角位移测量方法、装置、系统及计算机可读存储介质，获取第一读头生成的位置数据和第二读头生成的位置数据，第一读头和第二读头分别朝向直线光栅尺并分别根据直线光栅尺上的光栅生成位置数据，光栅尺以首尾相接的方式环绕转轴的外周表面设置；在第一读头生成的位置数据和第二读头生成的位置数据符合一定的条件时，根据预设规则选择第一读头生成的位置数据或第二读头生成的位置数据作为转轴的当前位置数据。本发明专利技术通过采用直线光栅尺和双读头的布局方式来代替圆环光栅的应用，并应用本发明专利技术的角位移测量方法来处理直线光栅的接口位置问题，不仅能够准确地测量出角位移的大小，还降低了产品成本。还降低了产品成本。还降低了产品成本。

【技术实现步骤摘要】
角位移测量方法、装置、系统及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及光栅测量领域，尤其是涉及一种角位移测量方法、装置、系统及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]采用反射式原理的钢材质圆环光栅，圆环光栅外侧上刻有不同编码的单条码道或多条码道，光栅读头(以下简称为读头)以光电池为中心，以圆环切线的方式进行安装，由此来读取光栅数据，并将位置数据输出，该产品可作为绝对值圆环光栅尺或增量圆环光栅尺使用，应用在旋转电机上，相同圆环直径下，光栅栅距越小，分辨率越高。
[0003]但是，目前圆环光栅制作技术要求高，并且国内还没有制作圆环光栅的相应技术，市场上的圆环光栅都由国外生产，而国外的产品价格昂贵。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种基于直线光栅尺的角位移测量方法、装置、系统及计算机可读存储介质，能够替代高成本的圆环光栅完成角位移的测量工作。
[0005]第一方面，本专利技术的一个实施例提供了一种角位移测量方法，包括：
[0006]分别获取第一读头生成的位置数据和第二读头生成的位置数据，所述第一读头和第二读头分别朝向直线光栅尺并分别根据所述直线光栅尺上的光栅生成位置数据，所述直线光栅尺以首尾相接的方式环绕于转轴的外周表面；在所述第一读头生成的位置数据和第二读头生成的位置数据符合预设条件时，将所述第一读头和第二读头中任一个生成的位置数据作为所述转轴的位置数据；在所述第一读头生成的位置数据和第二读头生成的位置数据不符合预设条件时，根据预设规则选择所述第一读头生成的位置数据或第二读头生成的位置数据作为所述转轴的位置数据。
[0007]本专利技术实施例的角位移测量方法至少具有如下有益效果，本专利技术通过采用直线光栅尺和双读头的布局方式来代替圆环光栅的应用，并应用本专利技术的角位移测量方法来处理直线光栅的接口位置问题，不仅能够准确地测量出角位移的大小，还降低了产品成本。
[0008]进一步，所述直线光栅尺为增量光栅尺，所述预设条件包括：在同一时刻，所述第一读头生成的位置数据和所述第二读头生成的位置数据之差的绝对值不大于第一预设值。
[0009]进一步，所述根据预设规则选择所述第一读头生成的位置数据或第二读头生成的位置数据作为所述转轴的当前位置数据，包括：判断所述第一读头生成的位置数据与第二读头生成的位置数据的大小；在所述第一读头生成的位置数据大于所述第二读头生成的位置数据时，将所述第一读头生成的位置数据作为所述转轴的当前位置数据；在所述第一读头生成的位置数据小于所述第二读头生成的位置数据时，将所述第二读头生成的位置数据作为所述转轴的当前位置数据。
[0010]进一步，所述根据预设规则选择所述第一读头生成的位置数据或第二读头生成的
位置数据作为所述转轴的当前位置数据，还包括：判断所述第一读头在当前时刻的位置数据的增量与所述第二读头在当前时刻的位置数据的增量的大小；在所述第一读头生成的位置数据大于所述第二读头生成的位置数据时，将所述第一读头生成的位置数据赋值给所述第二读头进行校正；在所述第一读头生成的位置数据小于所述第二读头生成的位置数据时，将所述第二读头生成的位置数据赋值给所述第一读头进行校正。
[0011]根据本专利技术的另一个实施例的角位移测量方法，所述直线光栅尺为绝对值光栅尺，所述预设条件为：所述第一读头在当前时刻的位置数据的增量与所述第二读头在当前时刻的位置数据的增量之差不大于第二预设值，所述第一读头在当前时刻的位置数据的增量为所述第一读头在当前指令时刻生成的位置数据与所述第一读头在前一指令时刻生成的位置数据之差；所述第二读头在当前时刻的位置数据的增量为所述第二读头在当前指令时刻生成的位置数据与所述第二读头在前一指令时刻生成的位置数据之差。
[0012]进一步，所述根据预设规则选择所述第一读头生成的位置数据或第二读头生成的位置数据作为所述转轴的当前位置数据，包括：当所述第一读头在当前时刻的位置数据的增量小于所述第二读头在当前时刻的位置数据的增量时，将所述第一读头在当前指令时刻生成的位置数据作为所述转轴的当前位置数据；当所述第一读头在当前时刻的位置数据的增量大于所述第二读头在当前时刻的位置数据的增量时，将所述第二读头在当前指令时刻生成的位置数据作为所述转轴的当前位置数据。
[0013]第二方面，本专利技术的一个实施例提供了一种角位移测量系统，包括直线光栅尺、第一读头、第二读头以及数据处理装置；所述直线光栅尺以首尾相接的方式环绕于转轴的外周表面，所述第一读头和第二读头分别朝向直线光栅尺并分别根据所述直线光栅尺上的光栅生成位置数据；所述数据处理装置用于获取第一读头和第二读头生成的位置数据，并在所述第一读头生成的位置数据和第二读头生成的位置数据符合预设条件时，将所述第一读头和第二读头中任一个生成的位置数据作为所述转轴的位置数据输出；在所述第一读头生成的位置数据和第二读头生成的位置数据不符合预设条件时，根据预设规则选择所述第一读头生成的位置数据或第二读头生成的位置数据作为所述转轴的位置数据输出。
[0014]根据本专利技术另一个实施例的角位移测量系统，所述第一读头和第二读头在所述直线光栅尺所在的圆环的外侧呈180
°
分布。
[0015]第三方面，本专利技术的一个实施例提供了一种角位移测量装置，其特征在于，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述角位移测量方法的步骤。
[0016]本专利技术实施例的角位移测量装置和系统至少具有如下有益效果，本专利技术通过采用直线光栅尺和双读头的布局方式来代替圆环光栅的应用，并应用本专利技术的角位移测量方法来处理直线光栅的接口位置问题，不仅能够准确地测量出角位移的大小，还降低了产品成本。
[0017]第四方面，本专利技术的一个实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的角位移测量方法的步骤。
附图说明
[0018]图1是本专利技术实施例中角位移测量方法的一具体实施例流程示意图；
[0019]图2是本专利技术实施例中角位移测量系统中的直线光栅尺和读头的结构示意图；
[0020]图3是图1中步骤S300的一具体实施例流程示意图；
[0021]图4是图1中步骤S300的另一具体实施例流程示意图；
[0022]图5是本专利技术实施例中角位移测量系统的一具体实施例模块框图。
具体实施方式
[0023]以下将结合实施例对本专利技术的构思及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本专利技术的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本专利技术的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本专利技术的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本专利技术保护的范围。
[0024]参照图1，示出了本专利技术实施例中角位移测量方法的流程示意图，该角位移测量方法可应本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种角位移测量方法，其特征在于，包括：分别获取第一读头生成的位置数据和第二读头生成的位置数据，所述第一读头和第二读头分别朝向直线光栅尺并分别根据所述直线光栅尺上的光栅生成位置数据，所述直线光栅尺以首尾相接的方式环绕于转轴的外周表面；在所述第一读头生成的位置数据和第二读头生成的位置数据符合预设条件时，将所述第一读头和第二读头中任一个生成的位置数据作为所述转轴的位置数据；在所述第一读头生成的位置数据和第二读头生成的位置数据不符合预设条件时，根据预设规则选择所述第一读头生成的位置数据或第二读头生成的位置数据作为所述转轴的位置数据。2.根据权利要求1所述的角位移测量方法，其特征在于，所述直线光栅尺为增量光栅尺，所述预设条件包括：在同一时刻，所述第一读头生成的位置数据和所述第二读头生成的位置数据之差的绝对值不大于第一预设值。3.根据权利要求2所述的角位移测量方法，其特征在于，所述根据预设规则选择所述第一读头生成的位置数据或第二读头生成的位置数据作为所述转轴的当前位置数据，包括：判断所述第一读头生成的位置数据与第二读头生成的位置数据的大小；在所述第一读头生成的位置数据大于所述第二读头生成的位置数据时，将所述第一读头生成的位置数据作为所述转轴的当前位置数据；在所述第一读头生成的位置数据小于所述第二读头生成的位置数据时，将所述第二读头生成的位置数据作为所述转轴的当前位置数据。4.根据权利要求3所述的角位移测量方法，其特征在于，所述根据预设规则选择所述第一读头生成的位置数据或第二读头生成的位置数据作为所述转轴的当前位置数据，还包括：在所述第一读头生成的位置数据大于所述第二读头生成的位置数据时，将所述第一读头生成的位置数据赋值给所述第二读头进行校正；在所述第一读头生成的位置数据小于所述第二读头生成的位置数据时，将所述第二读头生成的位置数据赋值给所述第一读头进行校正。5.根据权利要求1所述的角位移测量方法，其特征在于，所述直线光栅尺为绝对值光栅尺，所述预设条件为：所述第一读头在当前时刻的位置数据的增量与所述第二读头在当前时刻的位置数据的增量之差的绝对值不大于第二预设值，所述第一读头在当前时刻的位置数据的增量为所述第一读头在当前指令时刻生成的位置数据与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：康德会，柏子平，
申请(专利权)人：长春汇通光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：