【技术实现步骤摘要】
一种时序分析方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及芯片设计
，尤其涉及一种时序分析方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
[0002]现如今芯片技术迅速发展，设计出来的芯片被广泛应用于诸如手机之类的移动终端、智能家居、军事产品等各个领域。在芯片设计中，电路部分通常是以同步电路为主，为保证设计出的芯片能够正常工作，需要在完成芯片电路元件的摆放后对电路进行时序分析。
[0003]时序分析作为时序电路设计过程中的一个重要环节，通常指的是：基于特定的时序要求或时序约束，使用特定的时序模型对芯片电路进行分析。通过时序分析，能够找到其中所存在的时序违例路径乃至时序违例关键路径，进而采用一定手段进行时序违例路径修复，然后继续时序分析查找时序违例路径、修复时序违例路径，如此迭代，直至时序收敛。
[0004]然而，现有的时序分析方法大多通过阅读复杂的时序报告来找出时序关键模块，这样并不直观，尤其是在芯片电路中的模块嵌套比较深的情况下，很难找到哪些模块或子模块为时序关键模块。其中，时序关键模块指的是...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种时序分析方法，其特征在于，所述方法包括：计算进行时序分析的多条时序路径中时序终点/时序起点的最大时序违例严重程度度量值；确定计算得到的时序终点/时序起点的最大时序违例严重程度度量值所对应的图标绘制信息；采用确定的图标绘制信息，为时序终点/时序起点绘制对应的用于标识时序违例严重程度的图标。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，时序违例严重程度度量值根据时间余量值确定，其中时间余量值越小，时序违例严重程度度量值越大。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，计算进行时序分析的多条时序路径中时序终点/时序起点的最大时序违例严重程度度量值，包括：在进行时序分析的多条时序路径中，针对每个需要标记的时序终点/时序起点：在终点/起点为需要标记的时序终点/时序起点的所有时序路径中，获取时序违例的时序路径；将获取到的时序违例的时序路径中对应的最小的时间余量值，作为需要关注的时序终点/时序起点的最大时序违例严重程度度量值。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定计算得到的时序终点/时序起点的最大时序违例严重程度度量值所对应的图标绘制信息之前，所述方法还包括：将时序违例严重程度度量值的范围划分为多个区间，为不同区间分配不同的图标绘制信息；确定计算得到的时序终点/时序起点的最大时序违例严重程度度量值所对应的图标绘制信息，包括：查找计算得到的时序终点/时序起点的最大时序违例严重程度度量值所在区间；获取查找到的区间的图标绘制信息，作为计算得到的时序终点/时序起点的最大时序违例严重程度度量值所对应的图标绘制信息。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，将时序违例严重程度度量值的范围划分为多个区间，包括：将时序违例严重程度度量值的范围等分为预设的N个区间，其中第n个区间为：L
mim
为时序违例严重程度度量值的范围的最小值，L
max
为时序违例严重程度度...
【专利技术属性】
技术研发人员：石建刚，晋大师，王毓千，
申请(专利权)人：成都海光集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：
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