辐射率控制装置和辐射率控制方法制造方法及图纸

技术编号:27138269 阅读:20 留言:0更新日期:2021-01-27 20:45
本发明专利技术的辐射率控制装置和辐射率控制方法,涉及测量的应用领域;现有技术测量时所采用的辐射率,可根据各种材料对应的辐射率表,通过人工方式在热像仪中设置来进行确定;但当被测体的温度处于变化的状态时,很多种材料的辐射率随着温度的变化而变化,这时确定该材料的辐射率,是一个难点。本发明专利技术的辐射率控制装置,根据第一分析数据和辐射率的对应关系,来确定所述被测体的第二辐射率。解决现有技术存在的问题。在的问题。在的问题。

【技术实现步骤摘要】
辐射率控制装置和辐射率控制方法


[0001]本专利技术的辐射率控制装置和辐射率控制方法,涉及热像检测的应用领域。

技术介绍

[0002]当需要对被测体热像分析时,使用者可设置针对被测体热像特定部位的点、线、面等的分析区域来获得分析结果。
[0003]以拍摄获得的热像数据的温度分析为例,本领域技术人员所公知的,可进行规定处理如修正、插值,基于分析区域位于红外热像中的位置参数,例如提取所设置的分析区域所决定的热像数据,进行温度值的转换处理,获得这些热像数据对应的温度值,而后对得到的温度值,按照分析模式进行分析计算。
[0004]对分析区域中的热像数据进行转换为温度值的处理,例如根据设置的被测体的辐射系数、环境温度、湿度、与热像拍摄装置的距离等,以及热像数据的AD值与温度之间的转换系数,通过规定转换公式,得到温度值。
[0005]其中,环境温度、湿度、与热像拍摄装置的距离等,均可通过事先预设、或根据相应传感器来获得其具体的参数,相对易于实现;
[0006]而测量时所采用的辐射率,可根据各种材料对应的辐射率表,通过人工方式在热像仪中设置来进行确定;但当被测体的温度处于变化的状态时,特别是在500度以上的温度时,很多种材料的辐射率随着温度的变化而变化,这时确定该材料的辐射率,是一个难点。
[0007]因此,所理解需要一种辐射率控制装置,其能解决现有技术问题。

技术实现思路

[0008]针对现有技术存在的缺陷,本专利技术提供一种辐射率控制装置和辐射率控制方法,其能解决现有技术问题。
[0009]为此,本专利技术采用以下技术方案,辐射率控制装置,包括:
[0010]获取部,用于获取被测体的热像数据;
[0011]分析部,用于根据所述热像数据,基于第一辐射率,分析获得被测体的第一分析数据;
[0012]辐射率确定部,用于根据第一分析数据和辐射率的对应关系,来确定所述被测体的第二辐射率。
[0013]辐射率控制方法,包括:
[0014]获取步骤,用于获取被测体的热像数据;
[0015]分析步骤,用于根据所述热像数据,基于第一辐射率,分析获得被测体的第一分析数据;
[0016]辐射率确定步骤,用于根据第一分析数据和辐射率的对应关系,来确定所述被测体的第二辐射率。
[0017]本专利技术的其他方面和优点将通过下面的说明书进行阐述。
附图说明:
[0018]图1是实施例1的辐射率控制装置13的电气结构的框图。
[0019]图2是实施例1的辐射率控制装置13的外型图。
[0020]图3是实施例1的存储介质存储的材料信息对应的温度及辐射率等信息的示例。
[0021]图4为实施例1的流程图。
[0022]图5为实施例1的另一种流程图。
[0023]图6为实施例2的流程图。
[0024]图7是实施例2的测试材料及分析区域S01\S02的示意图。
[0025]图8是实施例3的辐射率控制装置100的电气结构的框图。
[0026]图9是实施例3的辐射率控制装置100的示意图。
具体实施方式
[0027]以下要说明的实施例用于更好地理解本专利技术,并可改变成本专利技术范围内的各种形式而不限制本专利技术的范围。其中,所谓热像数据,例如可以包含热像AD值数据,可以包含红外热像的图像数据,可以包含温度值阵列数据等有关的数据等。可以是拍摄获得的,也可以是外部接收获得的,也可以从存储的热像文件中获得。
[0028]实施例1
[0029]实施例1以带有拍摄功能的便携式热像装置13作为辐射率控制装置的实例。参考图1来说明热像装置13的结构。热像装置13具有拍摄部1、图像处理部2、显控部3、显示部4、通信I/F5、临时存储部6、存储卡I/F7、存储卡8、闪存9、操作部10、控制部11,控制部11通过控制与数据总线12与上述相应部分进行连接,负责热像装置13的总体控制。
[0030]拍摄部1由未图示的光学部件、镜头驱动部件、红外探测器、信号预处理电路等构成。光学部件由红外光学透镜组成,用于将接收的红外辐射聚焦到红外探测器。镜头驱动部件根据控制部11的控制信号驱动透镜来执行聚焦或变焦,或也可为手动调节的光学部件。红外探测器如制冷或非制冷类型的红外焦平面探测器,把通过光学部件的红外辐射转换为电信号。信号预处理电路包括采样电路、AD转换电路、定时触发电路等,将从红外探测器输出的电信号在规定的周期内进行取样等信号处理,经AD转换电路转换为数字的热像数据,该热像数据例如为14位或16位的二进制数据(又称为热像AD值数据)。在实施例1中,拍摄部1作为热像获取部用于获取热像数据。
[0031]图像处理部2用于对通过拍摄部1获得的热像数据进行规定的处理,图像处理部2的处理如修正、插值、伪彩、合成、压缩、解压等,进行转换为适合于显示用、记录用等数据的处理。例如图像处理部2对拍摄部1拍摄获得的热像数据实施规定的处理如伪彩处理来获得红外热像的图像数据。图像处理部2例如可以采用DSP或其他微处理器或可编程的FPGA等来实现。
[0032]显控部3根据控制部11进行的控制,执行将临时存储部6所存储的显示用的图像数据产生视频信号输出,该视频信号可显示在显示部4。可以选用屏幕纵横比为4:3的液晶显示屏;优选的,为了清楚明了的同时显示红外热像和标识等信息,可以选用屏幕纵横比为16:9的液晶显示屏,分成二个显示区域,一个用于显示红外热像,另一个用于显示标识等信息;但标识也可重叠显示在红外热像。
[0033]通信I/F5是例如按照USB、1394、网络等通信规范,将热像装置13与个人计算机、服务器、PDA(个人数字助理装置)、其他热像装置、可见光拍摄装置等外部装置进行连接并数据交换的接口。
[0034]临时存储部6如RAM、DRAM等易失性存储器,作为对拍摄部1输出的热像数据进行临时存储的缓冲存储器,同时,作为图像处理部2和控制部11的工作存储器起作用,暂时存储由图像处理部2和控制部11进行处理的数据。
[0035]存储卡I/F7,作为存储卡8的接口,在存储卡I/F7上,连接有作为可改写的非易失性存储器的存储卡8,可自由拆装地安装在热像装置13主体的卡槽内,根据控制部11的控制记录热像数据等数据。
[0036]闪存9,存储有用于控制的程序,以及各部分控制中使用的各种数据。例如,可预先存储各种材料的温度-辐射率表,如图3所示,在表中,可见多种材料的温度与辐射率之间的关系;注意,图3表中的对应数据仅为示例,对于各种材料的温度与辐射率之间的实际对应关系,可结合其他试验手段,例如热电偶的效验方式,进而获得。
[0037]下文中的存储介质,可以是辐射率控制装置(热像装置13)中的存储介质,如闪存9、存储卡8等非易失性存储介质,临时存储部6等易失性存储介质;还可以是与辐射率控制装置(热像装置13)有线或无线连接的其他存储介质,如通过与通信I/F5有线或无线连接的其他装置如其他存储装本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.辐射率控制装置,包括:获取部,用于获取被测体的热像数据;分析部,用于根据所述热像数据,基于配置的辐射率,分析获得被测体的分析数据;辐射率确定部,用于根据分析数据和辐射率的对应关系,来确定所述被测体获得分析数据时的辐射率;所述辐射率和根据该辐射率分析获得的分析数据满足所述对应关系;如不满足所述对应关系,则根据分析数据和辐射率的对应关系,基于所述配置的辐射率获得的分析数据,来重新配置辐射率,所述分析部基于重新配置的辐射率获得相应的分析数据,所述辐射率确定部判断重新配置的辐射率和根据该辐射率分析获得的分析数据是否满足对应关系;如此重复,直至分析数据和分析采用的辐射率满足对应关系;所述辐射率确定部,如配置的辐射率获得的分析数据和所述辐射率满足所述对应关系,则确定所述辐射率为所述被测体根据该辐射率分析获得分析数据时的辐射率。2.如权利要求1所述的辐射率控制装置,其特征在于,所述分析部,用于根据所述热像数据,基于第二辐射率,分析获得被测体的第二分析数据;辐射率确定部,用于根据分析数据和辐射率的对应关系,基于所述第二分析数据,来确定所述被测体的第三辐射率。3.如权利要求1所述的辐射率控制装置,其特征在于,所述分析部,包括测温部,用于根据所述热像数据,基于第一辐射率,分析获得被测体的第一温度数据;所述辐射率确定部,用于根据第一温度数据和辐射率的对应关系,来确定所述被测体的第二辐射率。4.如权利要求1所述的辐射率控制装置,其特征在于,选择部,用于选择被测体的材料信息;所述辐射率确定部,用于根据所选择的材料信息,根据该材料的第一温度数据和辐射率的对应关系,来确定所述被测体的第二辐射率。5.如权利要求1所述的辐射率控制装置,其特征在于,具有分析区域设置部,用于设置分析区域;所述测温部,用于分...

【专利技术属性】
技术研发人员:王浩
申请(专利权)人:杭州美盛红外光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1