本发明专利技术公开了一种振镜的偏转率的测量方法，所述振镜的偏转率的测量方法包括：获取投影仪的振镜偏转时所述投影仪投影的第一投影图像；获取所述振镜未偏转时所述投影仪投影的第二投影图像；根据所述第一投影图像和所述第二投影图像确定图像偏移量；根据所述图像偏移量获取所述振镜的偏转率。本发明专利技术还公开了一种振镜的偏转率的测量装置、系统及计算机存储介质，通过振镜偏转时的投影图像和振镜未偏转时的投影图像，计算出图像的偏移量，进而确定振镜的偏转率，测试人员根据偏转率即可知晓振镜的偏转效果是否合格，无需测试人员肉眼观测，提高了振镜的检测效率，并且检测结果更加准确。确。确。
【技术实现步骤摘要】
振镜的偏转率的测量方法、装置、系统及计算机存储介质
[0001]本专利技术涉及振镜偏转
，尤其涉及振镜的偏转率的测量方法、装置、系统及计算机存储介质。
技术介绍
[0002]数字光处理技术(DLP，Digital Light Processing)投影系统包括发光部件、数字微镜元件(DMD，Digital Micromirror Device)、振镜以及其他光学元件和结构部件。其中，振镜用于增加图像的解析度，在将产品小型化的同时提高图像的清晰度。
[0003]在投影仪出厂时，需要对振镜的偏转效果进行检测，以确保投影仪在投影时的图像高清晰度。振镜的偏转效果一般由测试人员肉眼观测投影出的图像，并根据经验来判断偏转效果是否合格，使得振镜的检测效率较低。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种振镜的偏转率的测量方法，旨在通过投影图像计算振镜的偏转率，以检测振镜的偏转效果是否合格，提高检测效率。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供一种振镜的偏转率的测量方法，所述振镜的偏转率的测量方法包括：
[0007]获取投影仪的振镜偏转时所述投影仪投影的第一投影图像；
[0008]获取所述振镜未偏转时所述投影仪投影的第二投影图像；
[0009]根据所述第一投影图像和所述第二投影图像确定图像偏移量；
[0010]根据所述图像偏移量获取所述振镜的偏转率。
[0011]可选地，所述根据所述图像偏移量获取所述振镜的偏转率的步骤包括：
[0012]获取预设标准偏移量；
[0013]根据所述预设标准偏移量和所述图像偏移量确定所述振镜的偏转率。
[0014]可选地，所述根据所述第一投影图像和所述第二投影图像确定图像偏移量的步骤包括：
[0015]获取所述第一投影图像中的第一特征像素点；
[0016]确定所述第二投影图像中的第二特征像素点；
[0017]根据所述第一特征像素点的坐标和所述第二特征像素点的坐标确定所述图像偏移量。
[0018]可选地，所述根据所述第一特征像素点的坐标和所述第二特征像素点的坐标确定所述图像偏移量的步骤包括：
[0019]根据所述第一特征像素点的横向坐标值和所述第二特征像素点的横向坐标值确定横向子偏移量；
[0020]根据所述第一特征像素点的纵向坐标值和所述第二特征像素点的纵向坐标值确定纵向子偏移量，其中，所述图像偏移量包括所述横向子偏移量以及所述纵向子偏移量，所述偏转率包括横向子偏转率和纵向子偏转率，根据所述横向子偏移量获取所述横向子偏转率，根据所述纵向子偏移量获取所述纵向子偏转率。
[0021]可选地，所述获取所述第一投影图像中的第一特征像素点的步骤包括：
[0022]确定所述第一投影图像的中心位置；
[0023]根据所述中心位置确定所述第一特征像素点。
[0024]可选地，所述确定所述第二投影图像中的第二特征像素点的步骤包括：
[0025]确定所述第一特征像素点所在的第一图像区域；
[0026]获取所述第二投影图像中与所述第一图像区域的相似度大于预设阈值的第二图像区域；
[0027]确定所述第二图像区域中的所述第二特征像素点。
[0028]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种振镜的偏转率的测量装置，所述振镜的偏转率的测量装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的振镜的偏转率的测量程序，所述振镜的偏转率的测量程序被所述处理器执行时实现如上所述中任一项所述的振镜的偏转率的测量方法的步骤。
[0029]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种振镜的偏转率的测量系统，所述振镜的偏转率的测量系统包括：
[0030]半透明幕布，用于显示投影仪发出的投影图像；
[0031]图像采集装置，设置于所述半透明幕布背离所述投影仪的一侧，并用于采集所述半透明幕布上显示的投影图像；
[0032]如上所述的振镜的偏转率的测量装置，用于获取所述图像采集装置采集的所述投影图像。
[0033]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质上存储有振镜的偏转率的测量程序，所述振镜的偏转率的测量程序被处理器执行时实现如上所述中任一项所述的振镜的偏转率的测量方法的步骤。
[0034]本专利技术实施例提出的振镜的偏转率的测量方法、装置、系统及计算机存储介质，获取投影仪的振镜偏转时所述投影仪投影的第一投影图像，获取所述振镜未偏转时所述投影仪投影的第二投影图像，根据所述第一投影图像和所述第二投影图像确定图像偏移量，根据所述图像偏移量获取所述振镜的偏转率。本专利技术通过振镜偏转时的投影图像和振镜未偏转时的投影图像，计算出图像的偏移量，进而确定振镜的偏转率，测试人员根据偏转率即可知晓振镜的偏转效果是否合格，无需测试人员肉眼观测，提高了振镜的检测效率，并且检测结果更加准确。
附图说明
[0035]图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图；
[0036]图2为本专利技术振镜的偏转率的测量方法的第一实施例的流程示意图；
[0037]图3为本专利技术振镜的偏转率的测量方法的第二实施例的流程示意图；
[0038]图4为本专利技术图像偏移量的示意图；
[0039]图5为本专利技术振镜的偏转率的测量系统的示意图。
[0040]附图标号说明：
[0041][0042][0043]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0044]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0045]本专利技术实施例提供一种解决方案，通过振镜偏转时的投影图像和振镜未偏转时的投影图像，计算出图像的偏移量，进而确定振镜的偏转率，测试人员根据偏转率即可知晓振镜的偏转效果是否合格，无需测试人员肉眼观测，提高了振镜的检测效率，并且检测结果更加准确。
[0046]如图1所示，图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图。
[0047]本专利技术实施例终端为PC等终端设备。
[0048]如图1所示，该终端可以包括：处理器1001，例如CPU，网络接口1004，用户接口1003，存储器1005，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种振镜的偏转率的测量方法，其特征在于，所述振镜的偏转率的测量方法包括：获取投影仪的振镜偏转时所述投影仪投影的第一投影图像；获取所述振镜未偏转时所述投影仪投影的第二投影图像；根据所述第一投影图像和所述第二投影图像确定图像偏移量；根据所述图像偏移量获取所述振镜的偏转率。2.如权利要求1所述的振镜的偏转率的测量方法，其特征在于，所述根据所述图像偏移量获取所述振镜的偏转率的步骤包括：获取预设标准偏移量；根据所述预设标准偏移量和所述图像偏移量确定所述振镜的偏转率。3.如权利要求1所述的振镜的偏转率的测量方法，其特征在于，所述根据所述第一投影图像和所述第二投影图像确定图像偏移量的步骤包括：获取所述第一投影图像中的第一特征像素点；确定所述第二投影图像中的第二特征像素点；根据所述第一特征像素点的坐标和所述第二特征像素点的坐标确定所述图像偏移量。4.如权利要求3所述的振镜的偏转率的测量方法，其特征在于，所述根据所述第一特征像素点的坐标和所述第二特征像素点的坐标确定所述图像偏移量的步骤包括：根据所述第一特征像素点的横向坐标值和所述第二特征像素点的横向坐标值确定横向子偏移量；根据所述第一特征像素点的纵向坐标值和所述第二特征像素点的纵向坐标值确定纵向子偏移量，其中，所述图像偏移量包括所述横向子偏移量以及所述纵向子偏移量，所述偏转率包括横向子偏转率和纵向子偏转率，根据所述横向子偏移量获取所述横向子偏转率，根据所述纵向子偏移量获取所述纵向子偏转率...
【专利技术属性】
技术研发人员：庞凤颖，
申请(专利权)人：歌尔光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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