一种智能模块控制电路及设备制造技术

本发明专利技术公开了一种智能模块控制电路及设备，其中，所述智能模块控制电路与电子设备的智能模块连接，包括检测模块、控制模块、采样模块和开关模块，所述检测模块包括第一检测端口和第二检测端口，所述检测模块用于通过第一检测端口检测所述智能模块接入后，通过第二检测端口的电平信号判断所述智能模块的工作状态；所述控制模块用于根据外部设置输出相应的控制信号至所述采样模块；所述采样模块用于对所述控制信号进行采样后分别输出采样信号至检测模块和开关模块；所述开关模块根据所述采样信号保持导通或关断，进而控制所述智能模块的开启或关闭，由此，实现了对智能模块的灵活控制，且能够有效地优化软件启动效率，降低硬件成本。成本。成本。

【技术实现步骤摘要】
一种智能模块控制电路及设备


[0001]本专利技术涉及电子设备
，特别涉及一种智能模块控制电路及设备。

技术介绍

[0002]随着 AI 技术的快速发展，电子产品如智能电视机，智能音箱，智能摄像头等开始搭配 AI 技术，其中包括远场语音识别技术，人脸识别技术等。在进行规划产品时，同一型号或者同系列型号往往出现有些型号会搭配 AI 技术，走高端市场，对于不需要搭载AI技术的产品则会走向低端市场，而为了保证此类产品能够占据一定的市场，相应地对没有搭载AI技术的产品的软件上设定兼容全功能，使得该类产品同样能够使用全功能的软件，对应的该类产品需要设置更多的硬件资源，且软启动加载时间也会加长；而对于搭载了AI技术的产品往往会涉及到用户的个人信息和隐私，为了保护个人信息和隐私，采用硬开关的关断方式来控制智能模块的工作，但是，对于搭载 AI 的产品，不管用户是否已打开硬开关，软件都会对智能模块部分的软件进行加载，进而使得用户不使用智能模块的时候也增加了启动的时间。
[0003]因而现有技术还有待改进和提高。

技术实现思路

[0004]鉴于上述现有技术的不足之处，本专利技术的目的在于提供一种智能模块控制电路及装置，能够检测电子设备是否存在智能模块以及所述智能设备是否开启，并依据智能模块的工作状态来确定在何时驱动加载所述智能模块，进而优化软件启动效率，降低硬件成本，实现对智能模块的灵活控制。
[0005]为了达到上述目的，本专利技术采取了以下技术方案：一种智能模块控制电路，与电子设备的智能模块电连接，包括检测模块、控制模块、采样模块和开关模块，所述控制模块与所述采样模块连接，所述采样模块还分别与所述检测模块和所述开关模块连接，所述智能模块还分别与所述检测模块和所述开关模块连接；其中，所述检测模块包括第一检测端口和第二检测端口，所述检测模块用于通过第一检测端口检测所述智能模块接入后，通过第二检测端口的电平信号判断所述智能模块的工作状态；所述控制模块用于根据外部设置输出控制信号至所述采样模块；所述采样模块用于对所述控制信号进行采样，得到所述控制信号对应的采样信号，并将所述采样信号分别输出至所述检测模块和所述开关模块；所述开关模块用于通过根据所述采样信号导通或关断，以控制所述智能模块的开启或关闭。
[0006]所述的智能模块控制电路中，所述采样模块包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和三极管，所述第一电阻的一端和所述第二电阻的一端均接电；所述第一电阻的另一端和所述第三电阻的一端均连接所述控制模块；所述第三电阻的另一端连接所述三极管的基极，所述三极管的发射极接地，所述三极管的集电极同时连接所述第二电阻的另一端、所述检测模块和所述开关模块。
[0007]所述的智能模块控制电路中，所述检测模块包括第四电阻和检测芯片，所述第四电阻的一端连接所述第二电阻的另一端和所述三极管的集电极；所述第四电阻的另一端连接所述检测芯片的第二检测端口；所述检测芯片的第一检测端口连接所述智能模块。
[0008]所述的智能模块控制电路中，所述开关模块包括第一MOS管，所述第一MOS管的栅极连接所述第二电阻的另一端和所述三极管的集电极，所述第一MOS管的漏极接电，所述第一MOS管的源极连接所述智能模块。
[0009]所述的智能模块控制电路中，所述开关模块包括第二MOS管，所述第二MOS管的栅极连接所述第二电阻的另一端和所述三极管的集电极，所述第二MOS管的漏极连接所述智能模块，所述第二MOS管的源极连接所述检测模块。
[0010]所述的智能模块控制电路中，所述检测模块具体用于当所述第二检测端口的电平信号为第一电平信号时，则确定所述智能模块为关闭状态；当所述第二检测端口的电平信号为第二电平信号时，则确定所述智能模块为开启状态。
[0011]所述的智能模块控制电路中，所述开关模块具体用于当所述采样信号为第一电平信号时保持关断状态，进而控制所述智能模块关闭；当所述采样信号为第二电平信号时保持导通状态，进而控制所述智能模块开启。
[0012]所述的智能模块控制电路中，所述三极管为NPN型三极管。
[0013]所述的智能模块控制电路中，所述第一MOS管和所述第二MOS管均为N沟道MOS管。
[0014]一种智能模块控制设备，包括外壳，所述外壳内设置有PCB板，所述PCB板上设置有如上所述的智能模块控制电路。
[0015]相较于现有技术，本专利技术提供的智能模块控制电路及设备具有以下优点，通过检测模块检测是否存在智能模块接入，当没有智能模块接入时则直接跳过智能模块部分的驱动加载；当有智能模块接入时，则进一步检测智能模块的工作状态，当智能模块关闭时，也直接跳过智能模块的驱动加载，即依据智能模块是否接入来确定智能模块的驱动加载方式，若智能模块没有接入则直接跳过驱动加载的步骤，这样便节省了驱动加载的时间和步骤，进而提高了软件启动的效率，使得软件启动过程得到优化；进一步地，当智能模块开启时，则在系统启动过程中加载驱动，所述智能模块的加载驱动过程与系统的启动过程同时进行，由此节省了系统启动后再加载驱动所述智能模块的时间，提高了所述智能模块的响应速度，并通过控制模块依据外部设置能够实现对智能模块工作状态的灵活控制。
附图说明
[0016]图1为本专利技术提供的智能模块控制电路的结构框图；图2为本专利技术提供的智能模块控制电路第一较佳实施例的电路原理图；图3为本专利技术提供的智能模块控制电路第二较佳实施例的电路原理图。
具体实施方式
[0017]本专利技术提供一种智能模块控制电路及装置，能够检测电子设备是否存在智能模块以及所述智能设备是否开启，并依据智能模块的工作状态来确定在何时驱动加载所述智能模块，进而优化软件启动效率，降低硬件成本，实现对智能模块的灵活控制。
[0018]为使本专利技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对
本专利技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0019]请一并参阅图1和图2，本专利技术提供的智能模块控制电路10，与电子设备的智能模块100连接，包括检测模块200、控制模块300、采样模块400和开关模块500，所述控制模块300与所述采样模块400连接，所述采样模块400还分别与所述检测模块200和所述开关模块500连接，所述智能模块100还分别与所述检测模块200和所述开关模块500连接；其中，所述检测模块包括两个检测端口，即分别为第一检测端口和第二检测端口，所述第一检测端口连接所述智能模块100，所述第二检测端口分别连接所述采样模块400和所述开关模块500；进而所述检测模块200通过第一检测端口检测所述智能模块100接入后，通过第二检测端口的电平信号判断所述智能模块100的工作状态；所述控制模块300根据外部设置输出相应的控制信号至所述采样模块400；所述采样模块400对所述控制信号进行采样后输出采样信号至检测模块200和开关模块500，将所述第二检测端口的电平信号调节为第一电平信号；所述开关模本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种智能模块控制电路，与电子设备的智能模块电连接，其特征在于，包括检测模块、控制模块、采样模块和开关模块，所述控制模块与所述采样模块连接，所述采样模块还分别与所述检测模块和所述开关模块连接，所述智能模块还分别与所述检测模块和所述开关模块连接；其中，所述检测模块包括第一检测端口和第二检测端口，所述检测模块用于通过所述第一检测端口检测所述智能模块接入后，通过所述第二检测端口的电平信号判断所述智能模块的工作状态；所述控制模块用于根据外部设置输出控制信号至所述采样模块；所述采样模块用于对所述控制信号进行采样，得到所述控制信号对应的采样信号，并将所述采样信号分别输出至所述检测模块和所述开关模块；所述开关模块用于根据所述采样信号导通或关断，以控制所述智能模块的开启或关闭。2.根据权利要求1所述的智能模块控制电路，其特征在于，所述采样模块包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和三极管，所述第一电阻的一端和所述第二电阻的一端均接电；所述第一电阻的另一端和所述第三电阻的一端均连接所述控制模块；所述第三电阻的另一端连接所述三极管的基极，所述三极管的发射极接地，所述三极管的集电极同时连接所述第二电阻的另一端、所述检测模块和所述开关模块。3.根据权利要求2所述的智能模块控制电路，其特征在于，所述检测模块包括第四电阻和检测芯片，所述第四电阻的一端连接所述第二电阻的另一端和所述三极管的集电极；所述第四电阻的另一端连接所述检测芯片的第二检测端口；所述检测芯片的第一检测端口连接所述智能模块。...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗金先，
申请(专利权)人：惠州视维新技术有限公司，
类型：发明
国别省市：