【技术实现步骤摘要】
一种综合测控装置
本技术涉及一种测控装置,尤其是一种综合测控装置。
技术介绍
现在市场上的测控装置普遍较大,功能强大但繁琐,不适合10kV及以下电压等级的间隔所需的简单测控要求。安装于抽屉柜的低压多功能表有时不能满足用户的特殊要求,除常规的开入、信号开出外,如需有过流动作出口,就无法满足。为了满足简单测控及过流动作对测控装置要求,设计开发一款既适用于10kV及以下电压等级的间隔测控,也适用于有特殊要求的低压抽屉柜测控的综合测控装置,这种设计具有重要的实用意义。
技术实现思路
为了解决上述不足,本技术提供了一种综合测控装置既适用于10kV及以下电压等级的间隔测控,也适用于有特殊要求的低压抽屉柜测控。本技术的一种综合测控装置,包括CPU主系统、模拟量输入模块、开关量输入输出模块、串行通讯模块和人机对话模块。所述CPU主系统包括DSP芯片、MCU芯片和存储器,DSP芯片、存储器分别与MCU芯片连接。模拟量输入模块、开关量输入输出模块分别与DSP芯片连接,串行通讯模块、人机对话模块分别连接MCU芯片。所述模拟量输入模块包括电压采样回路和电流采样回路,通过A/D转换后与DSP芯片连接。所述的开关量输入输出模块包括并行接口、光耦隔离电路和继电器,遥信开入量经光耦隔离电路后通过并行接口与DSP芯片连接,DSP芯片发出命令通过并行接口后由继电器输出。进一步的,所述人机对话模块包括键盘和LCD显示屏,所述键盘和LCD显示屏分别与MCU芯片连接的。进一步的,所述串行 ...
【技术保护点】
1.一种综合测控装置,其特征在于,包括CPU主系统、模拟量输入模块、开关量输入输出模块、串行通讯模块和人机对话模块;/n所述CPU主系统包括DSP芯片、MCU芯片和存储器,DSP芯片、存储器分别与MCU芯片连接;/n模拟量输入模块、开关量输入输出模块分别与DSP芯片连接,串行通讯模块、人机对话模块分别连接MCU芯片;/n所述模拟量输入模块包括电压采样回路和电流采样回路,通过A/D转换后与DSP芯片连接;/n所述的开关量输入输出模块包括并行接口、光耦隔离电路和继电器,遥信开入量经光耦隔离电路后通过并行接口与DSP芯片连接,DSP芯片发出命令通过并行接口后由继电器输出。/n
【技术特征摘要】
1.一种综合测控装置,其特征在于,包括CPU主系统、模拟量输入模块、开关量输入输出模块、串行通讯模块和人机对话模块;
所述CPU主系统包括DSP芯片、MCU芯片和存储器,DSP芯片、存储器分别与MCU芯片连接;
模拟量输入模块、开关量输入输出模块分别与DSP芯片连接,串行通讯模块、人机对话模块分别连接MCU芯片;
所述模拟量输入模块包括电压采样回路和电流采样回路,通过A/D转换后与DSP芯片连接;
所述的开关量输入输出模块包括并行接口、光耦隔离电路和继电器,遥信开入量经光耦隔离电路后通过并行接口与DSP芯片连接,DSP芯片发出命令通过并行接口后由继电器输出。
2.根据权利要求1所述的一种综合测控装置,其特征在于,所述人机对话模块包括键盘和LCD显示屏,所述键盘和LCD显示屏分别与MCU芯片连接的。
3.根据权利要求1所述的一种综合测控装置,其特征在于,所述串行通讯模块包括独立的RS485接口,所述独立的RS485...
【专利技术属性】
技术研发人员:王希印,
申请(专利权)人:南京伊顿电力科技有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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