IC插座制造技术

本发明专利技术提供IC插座，其即使在减少柱塞的侧面的加工工序，也能够防止探针被错误地组装在插座主体上。探针(4)的柱塞(8)通过在径向两处切除圆棒材(20)而形成有滑块部(16)以及第一定位面(17)第二定位面(18)，所述滑块部(16)以不转动的状态卡合于在插座主体(5)形成的柱塞引导孔(15)，所述第一定位面(17)和第二定位面(18)沿着探针(4)的中心轴(4a)的方向的高度位置不同。探针收纳孔(6)形成有在以正确姿态插入探针的情况下第一定位面能够抵接的第一止挡突起(26)和第二定位面能够抵接的第二止挡突起(27)。在以错误姿态插入柱塞的情况下，第一定位面与第二止挡突起抵接，使柱塞不从柱塞引导孔突出或比设计尺寸小地突出。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】IC插座
本专利技术涉及在电子部品的电气测试中使用的IC插座。
技术介绍
例如，作为电子部品的半导体封装的一种的QFP(QuadFlatPackage，四周扁平封装)的外形多为四边形状，多个连接端子从四边突出，使各连接端子间的配置间隔窄间距化。图19是表示在这样的电子部品100的电气测试中使用的现有技术的开尔文检测用IC插座101的图。需要说明的是，图19(a)是表示电子部品100的电气测试前的状态的现有技术的开尔文检测用IC插座101的图。另外，图19(b)是表示电子部品100的电气测试时的现有技术的开尔文检测用IC插座101的图。如该图19所述，就开尔文检测用IC插座101而言，与电子部品100的端子102接触的一对探针103、103与端子102的数量对应地配置，各探针103、103分别收纳于在绝缘性树脂材料制的插座主体104形成的探针收纳孔105、105内。需要说明的是，就一对探针103、103而言，一方为用于供应电流的电源连接(フォ一スコンタクト，forcecontact)探针，另一方为用于监测电压的感测接触(センスコンタクト，sensecontact)探针。另外，如图19所示，就现有技术的开尔文检测用IC插座101而言，为了使一对探针103、103与电子部品100的小的端子102(包含由焊球等构成的电极)可靠地接触，以一对探针103、103不能相对于插座主体104转动的状态且一对探针103、103的柱塞(プランジヤ，plunger)106、106的顶部107、107(与端子102接触的部分)彼此最接近的方式，将一对探针103、103背靠背地组装到绝缘性材料制的插座主体104的探针收纳孔105内。另外，如图19到图21所示，就现有技术的开尔文检测用IC插座101而言，为了防止一对探针103、103错误地以相同的姿态(背靠背的一对探针103、103中的一方相对于另一方旋转180°的姿态)组装到插座主体104，形成为柱塞106的前端侧主体部108位于偏离探针收纳孔105的中心轴105a的位置。即，如图20(b)及图21所示，柱塞106的前端侧主体部108的俯视观察时的形状为大致矩形形状，在以正确的姿态组装到插座主体104的探针收纳孔105的情况下.与在插座主体104形成的大致矩形形状的柱塞引导孔110卡合，但如图22所示，在想要以错误的姿态(从正确的姿态旋转180°后的姿态)组装的情况下，柱塞106的顶部107挂在探针收纳孔105和柱塞引导孔110的台阶部111，无法与柱塞引导孔110卡合，预先防止被错误地组装到插座主体104(参照专利文献1)。现有技术文献专利文献专利文献1：(日本国)专利第5131766号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题但是，现有技术的开尔文检测用IC插座101中，如图20所示，在形成柱塞106的前端侧主体部108的情况下，通过切削加工将与柱塞106的凸缘部112同径的圆棒材113的第一到第三区域的三处削除，从而形成一对平行的侧面115、115，并且形成与该一对平行侧面115、115正交的侧面(平面)116，因此，柱塞106的加工处多，存在柱塞106的加工费用增多的问题。在此，本专利技术的目的在于，提供即使削减柱塞的侧面的加工工序也能够防止探针被错误地组装到插座主体的IC插座。用于解决课题的技术方案本专利技术涉及在电子部品2的电气测试中使用的IC插座1。本专利技术的IC插座1具有：与所述电子部品2的端子3接触的探针4、形成有将所述探针4收纳的探针收纳孔6的插座主体5。所述探针4具有：管7，其收纳在所述插座主体5的所述探针收纳孔6内；柱塞8，其组装在所述管7的一端侧，通过收纳在所述管7内的弹簧部件施力而前端与所述电子部品2的所述端子3接触。所述柱塞8形成有滑块部16，所述滑块部16以不转动的状态可滑动移动地卡合于在所述插座主体5形成的柱塞引导孔15。所述柱塞引导孔15形成于柱塞引导部25，构成所述探针收纳孔6的一部分，该柱塞引导部位于封闭所述探针收纳孔6的一端侧的位置。所述滑块部16具有一侧面21，该一侧面是通过从径向一端侧朝向中心侧切除圆棒材20而形成的，且从所述柱塞8的前端侧23沿所述探针4的中心轴4a延伸，或者所述滑块部16具有一对侧面21、21，该一对侧面21、21是通过从径向一端侧及径向另一端侧朝向中心侧切除圆棒材20而形成，从所述柱塞8的前端侧23沿所述探针4的中心轴4a延伸。所述滑块部16的一侧面21或所述滑块部16的一对侧面21、21卡合于所述柱塞引导孔15。并且，所述插座主体5具有柱塞突出量限制部25、26、27、30，在所述探针4以正确姿态插入所述探针收纳孔6的情况下，所述柱塞突出限制部25、26、27、30与所述柱塞8抵接而使所述柱塞8从所述柱塞引导孔15突出设计尺寸，在所述探针4以错误姿态插入所述探针收纳孔6的情况下，所述柱塞突出限制部25、26、27、30与所述柱塞8抵接而使所述柱塞8不从所述柱塞引导孔15突出或比所述设计尺寸小地突出。专利技术效果本专利技术的IC插座与柱塞的侧面被三处加工的现有技术例相比，柱塞的侧面的加工处为一处或两处，即使柱塞的侧面的加工工序减少，也能够防止错误地组装到探针插座主体的探针收纳孔内。这种本专利技术的IC插座减少柱塞的侧面的加工工序的结果是能够减少制造成本。附图说明图1是表示本专利技术的第一实施方式的开尔文检测用IC插座的图，图1(a)是开尔文检测用IC插座的局部剖面图(沿图1(b)的A1-A1线切断表示的剖面图)，图1(b)是将局部剖切表示的开尔文检测用IC插座的局部主视图，图1(c)是开尔文检测用IC插座的局部俯视图。图2是将本专利技术的第一实施方式的开尔文检测用IC插座和电子部品的关系简化表示的图，图2(a)是开尔文检测用IC插座及电子部品的局部剖面图(沿图2(b)的A2-A2线切断表示剖面图)，图2(b)是将局部剖切表示的开尔文检测用IC插座及电子部品的局部主视图。图3是表示本专利技术的第一实施方式的开尔文检测用IC插座的探针的图，图3(a)是探针的主视图，图3(b)是将探针的局部剖切表示的右侧视图，图3(c)是探针的左侧视图，图3(d)是探针的俯视图。图4是表示本专利技术的第一实施方式的开尔文检测用IC插座的探针误插入状态的图，图4(a)是表示开尔文检测用IC插座的探针误插入状态的局部剖面图(沿图4(b)的A3-A3线切断表示的剖面图)、图4(b)是表示将局部剖切表示的开尔文检测用IC插座的探针误插入状态的局部主视图，图4(e)示表示开尔文检测用IC插座的探针误插入状态的局部俯视图。图5是表示开尔文检测用IC插座的组装状态的图，图5(a)是将局部剖切表示的开尔文检测用IC插座的局部主视图，图5(b)是开尔文检测用IC插座的局部俯视图。图6是表示本专利技术的第二实施方式的开尔文检测用IC插座的图，图6(a)是开尔文检测用IC插座的局部剖面图(沿图6(b)的A4-A4线切断表示的剖面图)，图6(b)是将局部剖切表示的开尔本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种IC插座，其为在电子部品的电气测试中使用的IC插座，所述IC插座的特征在于，/n具有：与所述电子部品的端子接触的探针、形成有将所述探针收纳的的探针收纳孔的插座主体，/n所述探针具有：管，其收纳在所述插座主体的所述探针收纳孔内；柱塞，其组装在所述管的一端侧，通过收纳在所述管内的弹簧部件施力而前端与所述电子部品的所述端子接触；/n所述柱塞形成有滑块部，所述滑块部以不转动的状态可滑动移动地卡合于在所述插座主体形成的柱塞引导孔，/n所述柱塞引导孔形成于柱塞引导部，构成所述探针收纳孔的一部分，所述柱塞引导部位于封闭所述探针收纳孔的一端侧的位置，/n所述滑块部具有一个侧面，该一个侧面是通过从径向一端侧朝向中心侧切除圆棒材而形成的，且从所述柱塞的前端侧沿所述探针的中心轴延伸，或者所述滑块部具有一对侧面，该一对侧面是通过从径向一端侧及径向另一端侧朝向中心侧切除圆棒材而形成的，且从所述柱塞的前端侧沿所述探针的中心轴延伸，/n所述滑块部的一个侧面或所述滑块部的一对侧面卡合于所述柱塞引导孔，/n所述插座主体具有柱塞突出量限制部，在所述探针以正确姿态插入所述探针收纳孔的情况下，所述柱塞突出限制部与所述柱塞抵接而使所述柱塞从所述柱塞引导孔突出设计尺寸，在所述探针以错误姿态插入所述探针收纳孔的情况下，所述柱塞突出限制部与所述柱塞抵接而使所述柱塞不从所述柱塞引导孔突出或比所述设计尺寸小地突出。/n...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180608 JP 2018-1104421.一种IC插座，其为在电子部品的电气测试中使用的IC插座，所述IC插座的特征在于，
具有：与所述电子部品的端子接触的探针、形成有将所述探针收纳的的探针收纳孔的插座主体，
所述探针具有：管，其收纳在所述插座主体的所述探针收纳孔内；柱塞，其组装在所述管的一端侧，通过收纳在所述管内的弹簧部件施力而前端与所述电子部品的所述端子接触；
所述柱塞形成有滑块部，所述滑块部以不转动的状态可滑动移动地卡合于在所述插座主体形成的柱塞引导孔，
所述柱塞引导孔形成于柱塞引导部，构成所述探针收纳孔的一部分，所述柱塞引导部位于封闭所述探针收纳孔的一端侧的位置，
所述滑块部具有一个侧面，该一个侧面是通过从径向一端侧朝向中心侧切除圆棒材而形成的，且从所述柱塞的前端侧沿所述探针的中心轴延伸，或者所述滑块部具有一对侧面，该一对侧面是通过从径向一端侧及径向另一端侧朝向中心侧切除圆棒材而形成的，且从所述柱塞的前端侧沿所述探针的中心轴延伸，
所述滑块部的一个侧面或所述滑块部的一对侧面卡合于所述柱塞引导孔，
所述插座主体具有柱塞突出量限制部，在所述探针以正确姿态插入所述探针收纳孔的情况下，所述柱塞突出限制部与所述柱塞抵接而使所述柱塞从所述柱塞引导孔突出设计尺寸，在所述探针以错误姿态插入所述探针收纳孔的情况下，所述柱塞突出限制部与所述柱塞抵接而使所述柱塞不从所述柱塞引导孔突出或比所述设计尺寸小地突出。


2.一种IC插座，其为在电子部品的电气测试中使用的IC插座，所述IC插座的特征在于，
具有：相同形状的一对探针，其由与所述电子部品的端子接触的电源连接探针和感测接触探针构成；插座主体，其形成有将所述探针收纳的探针收纳孔；
所述探针具备：管，其收纳在所述插座主体的所述探针收纳孔内；柱塞，其组装在所述管的一端侧，通过收纳在所述管内的弹簧部件施力而前端与所述电子部品的所述端子接触；
所述柱塞形成有滑块部并形成有第一定位面和第二定位面，所述滑块部以不转动的状态可滑动移动地卡合于在所述插座主体形成的柱塞引导孔，所述第一定位面和第二定位面沿着所述探针的中心轴的方向的高度位置不同，
所述柱塞引导孔形成于柱塞引导部，构成所述探针收纳孔的一部分，所述柱塞引导部位于封闭所述探针收纳孔的一端侧的位置，
所述滑块部通过从径向一端侧朝向中心侧切除圆棒材并且从径向另一端侧朝向中心侧切除所述圆棒材，而与所述探针的中心轴正交的截面形状形成为大致矩形形状，且具有从所述柱塞的前端侧沿所述探针的中心轴延伸的一对侧面，
所述第一定位面通过从径向一端侧朝向中心侧切除所述圆棒材而形成，位于所述滑块部的所述一对侧面的一侧，
所述第二定位面通过从径向另一端侧朝向中心侧切除所述圆棒材而形成，位于所述滑块部的所述一对侧面的另一侧，且位于比所述第一定位面更远离所述柱塞的所述前端的位置，
所述柱塞的所述前端位于偏离所述探针的中心轴的位置，
所述一对探针通过以在向与所述探针的中心轴正交的假想平面投影的投影形状中一方相对于另一方旋转180°的状态收纳于所述探针收纳孔，而保持所述柱塞的所述前端彼此最接近的正确姿态，
所述探针收纳孔形成有在以正确姿态插入所述探针的情况下所述第一定位面能够抵接的第一止挡突起和所述第二定位面能够抵接的第二止挡突起，在以正确姿态插入所述探针的情况下，使所述柱塞从所述柱塞引导孔突出设计尺寸，在以错误姿态插入所述探针的情况下，所述第一定位面与所述第二止挡突起抵接，使所述柱塞不从所述柱塞引导孔突出或比所述设计尺寸小地突出。


3.一种IC插座，其为在电子部品的电气测试中使用的IC插座，所述IC插座的特征在于，
具有：相同形状的一对探针，其由与所述电子部品的端子接触的电源连接探针和感测接触探针构成；插座主体，其形成有将所述探针收纳的探针收纳孔；
所述探针具备：管，其收纳在所述插座主体的所述探针收纳孔内；柱塞，其组装在所述管的一端侧，通过收纳在所述管内的弹簧部件施力而前端与所述电子部品的所述端子接触；
所述柱塞形成有滑块部并形成有一对定位倾斜面，所述滑块部以不转动的状态可滑动移动地卡合于在所述插座主体形成的柱塞引导孔，所述一对定位倾斜面沿着所述探针的中心轴的方向的高度位置变化，
所述柱塞引导孔形成于柱塞引导部，构成所述探针收纳孔的一部分，所述柱塞引导部位于封闭所述探针收纳孔的一端侧的位置，
所述滑块部通过从径向一端侧朝向中心侧切除圆棒材并从径向另一端侧朝向中心侧切除所述圆棒材，而与所述探针的中心轴正交的截面形状形成为大致矩形形状，且具有从所述柱塞的前端侧沿所述探针的中心轴延伸的一对侧面，
就所述一对定位倾斜面而言，通过从径向一端侧朝向中心侧切除所述圆棒材而形成所述一对定位倾斜面的一方，...

【专利技术属性】
技术研发人员：大岛久男，小松泰成，
申请(专利权)人：恩普乐斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP