显示单元的异物检查系统技术方案

本发明专利技术的一个示例性实施方案提供了用于显示单元的异物检查系统，其包括：照明单元，所述照明单元配置成向具有有机发光显示面板的显示单元提供入射光；和异物检测单元，所述异物检测单元配置成接收当所述入射光被所述显示单元反射时提供的反射光并检测异物是否被引入到显示单元中。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】显示单元的异物检查系统
本专利技术涉及检查异物是否被引入到显示单元中的用于显示单元的异物检查系统。
技术介绍
显示单元可以通过将膜附接至显示面板来制造。在制造显示单元的过程期间，有时异物例如气泡和粉尘被引入在膜与面板之间。由于引入的异物在由显示单元显示的图像上形成有缺陷的区域，因此需要在发行显示单元之前将具有引入的异物的显示单元分类为有缺陷的产品。目前，最常用的显示单元为液晶显示单元，其中将膜附接至液晶面板的两个表面，使得膜的透射轴垂直于液晶面板的表面。在液晶显示单元中，当光入射在液晶显示单元的一个表面上时，光可以朝液晶显示单元的另一个表面行进并被透射。此时，如果在膜与液晶面板之间引入有异物，则光散射。因此，为了检查异物是否被引入到液晶显示单元中，使光入射在液晶显示单元的一个表面上，然后可以根据通过朝另一个表面行进而透射的光是否散射来确定是否引入有异物。然而，在逐渐且越来越多地被使用的有机发光显示单元的情况下，难以使用能够检查异物是否被引入到液晶显示器中的光透射光学系统。原因在于，与在液晶层的两侧设置透明基底的液晶显示面板不同，在有机发光显示单元的有机发光显示面板的情况下，在有机发光层的一侧设置不透明基底，在有机发光层的另一侧设置对可见侧透明的基底。因此，由于光透射光学系统难以使光从有机发光显示单元的一侧向另一侧透射，因此需要另外类型的异物检查装置代替光透射光学系统。
技术实现思路
技术问题本专利技术的示例性实施方案致力于提供能够在不使用光透射光学系统的情况下检查异物是否被引入到有机发光显示单元中的系统。技术方案本专利技术的一个示例性实施方案提供了用于显示单元的异物检查系统，其包括：照明单元，所述照明单元配置成向具有有机发光显示面板的显示单元提供入射光；和异物检测单元，所述异物检测单元配置成接收当入射光被显示单元反射时提供的反射光并检测异物是否被引入到显示单元中。在本示例性实施方案中，显示单元可以包括设置在有机发光显示面板上的四分之一波片(quarter-waveplate，QWP)和设置在四分之一波片上的偏光板。在本示例性实施方案中，当异物检测单元确定提供了反射光时，异物检测单元可以确定异物被引入到显示单元中。在本示例性实施方案中，照明单元可以向显示单元提供倾斜入射角小于90°的入射光。在本示例性实施方案中，异物检测单元可以包括图像捕获单元和控制单元，所述图像捕获单元配置成接收反射光并捕获显示单元的图像，所述控制单元配置成接收来自图像捕获单元的显示单元的图像并检测异物是否被引入到显示单元中。有益效果根据本专利技术的示例性实施方案，可以在不使用光透射光学系统的情况下检查异物是否被引入到有机发光显示单元中。附图说明图1是示意性地示出根据本专利技术的一个示例性实施方案的显示单元的结构和外部光的行进路径的示意图。图2是示意性地示出当异物被引入到根据本专利技术的示例性实施方案的显示单元中时外部光的行进路径的示意图。图3是示意性地示出根据本专利技术的示例性实施方案的用于显示单元的异物检查系统的配置的示意图。图4是示出通过使用根据本专利技术的示例性实施方案的用于显示单元的异物检查系统检测被引入到显示单元中的具有各种尺寸的异物的结果的图。※附图标记说明10：显示单元11：有机发光显示面板12：偏光板13：四分之一波片100：用于显示单元的异物检查系统110：照明单元120：异物检查单元具体实施方式参照以下将详细描述的示例性实施方案以及附图，本专利技术将是显而易见的。然而，本专利技术不限于本文公开的示例性实施方案，而是将以各种形式实施。提供本专利技术的示例性实施方案使得本专利技术被完全公开，并且本领域普通技术人员可以充分理解本专利技术的范围。本专利技术将仅由所附权利要求的范围来限定。同时，本说明书中使用的术语用于说明示例性实施方案，而不是用于限制本专利技术。在本说明书中，除非另外特别说明，否则单数形式也包括复数形式。本说明书中使用的术语例如“包含(comprises，includes)”和/或“包括(comprising，including)”除了提及的构成要素、步骤、操作和/或要素之外不排除存在或添加一个或更多个其他构成要素、步骤、操作和/或要素。诸如“第一”和“第二”的术语可以用于描述不同构成要素，但是构成要素不应被所述术语限制。这些术语仅用于将一个构成要素与另一个构成要素区分开。图1是示意性地示出根据本专利技术的一个示例性实施方案的显示单元的结构和外部光的行进路径的示意图，图2是示意性地示出当异物被引入到根据本专利技术的示例性实施方案的显示单元中时外部光的行进路径的示意图。参照图1，根据本专利技术的一个示例性实施方案的显示单元10可以具有有机发光显示面板11。显示单元10可以包括设置在有机发光显示面板11上的四分之一波片(QWP)11和设置在四分之一波片12上的偏光板13，以防止从外部入射的外部光L_O被反射并从外部视觉识别。四分之一波片12可以包括光学各向异性薄板，所述光学各向异性薄板被制造成使得在垂直于波长为λ的透射光振动的两个偏振分量之间出现λ/4的光程差。当线性偏振光垂直入射使得光在四分之一波片12中振动的方向相对于入射光振动的方向具有90度的角度时，透过四分之一波片12的光变为圆形偏振光。相反，当入射圆形偏振光时，透过四分之一波片12的光变为线性偏振光。偏光板13包括在预定方向上延伸并用二色性染料染色的聚乙烯醇(PVA)膜作为起偏振器。当起偏振器延伸时，起偏振器可以具有在预定方向上的透射轴(在图中，透射轴方向由“PA”表示)，并且起偏振器仅透射在与透射轴方向相同的方向上振动的光。同时，显示单元10可以具有其中有机发光显示面板11、偏光板13和四分之一波片12堆叠以彼此紧密接触的结构。然而，图1示出了各个部件彼此分开以描述光的行进路径。待入射在显示单元10上的外部光L_O可以具有在垂直于外部光L_O的行进方向的所有方向上振动的混合光束。当外部光L_O入射在偏光板13上时，偏光板13仅透射在与偏光板13的透射轴方向PA相同的方向上振动的光，即，偏光板13透射第一线性偏振光L1。透过偏光板13的第一线性偏振光L1入射在四分之一波片12上。如图1所示，当第一线性偏振光L1入射在四分之一波片12上时，形成第一圆形偏振光L2并透过四分之一波片12。第一圆形偏振光L2可以为右旋圆形偏振光或左旋圆形偏振光，图1示出了左旋圆形偏振光。透过四分之一波片12的第一圆形偏振光L2入射在有机发光显示面板11上。如图1所示，当第一圆形偏振光L2入射在有机发光显示面板11上时，第一圆形偏振光L2被有机发光显示面板11的表面反射，使得在与入射的第一圆形偏振光L2的方向相反的方向上形成第二圆形偏振光L3。图1示出了由于左旋圆形偏振光入射在有机发光显示面板11的表面上并被反射，因此通过反射形成的第二圆形偏振光L3本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于显示单元的异物检查系统，包括：/n照明单元，所述照明单元配置成向具有有机发光显示面板的显示单元提供入射光；和/n异物检测单元，所述异物检测单元配置成接收当所述入射光被所述显示单元反射时提供的反射光并检测异物是否被引入到所述显示单元中。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180622 KR 10-2018-00722491.一种用于显示单元的异物检查系统，包括：
照明单元，所述照明单元配置成向具有有机发光显示面板的显示单元提供入射光；和
异物检测单元，所述异物检测单元配置成接收当所述入射光被所述显示单元反射时提供的反射光并检测异物是否被引入到所述显示单元中。


2.根据权利要求1所述的异物检查系统，其中所述显示单元包括设置在所述有机发光显示面板上的四分之一波片(QWP)和设置在所述四分之一波片上的偏光板。

【专利技术属性】
技术研发人员：李范硕，金赞洙，张应镇，白晟贤，林裕镇，
申请(专利权)人：株式会社LG化学，
类型：发明
国别省市：韩国;KR