一种模拟低频磁场分布的测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种模拟低频磁场分布的测试系统及测试方法，包括测试箱体，位于测试箱体内的中央控制器，控制开关，故障注入单元和负载天线单元；中央控制器根据外部CAN指令操控控制开关控制负载天线单元的连接状态以达到改变低频磁场覆盖的范围；中央控制器根据外部指令操控控制开关控制故障注入单元注入故障至负载天线单元内。本方案利用测试箱体内进行不同空间区域的划分，通过自定义的CAN总线协议，可实现自动改变低频磁场的分布，模拟不同的场景进行测试；其次可自动控制负载天线的故障注入，模拟各种实车故障工况的场景。

【技术实现步骤摘要】
一种模拟低频磁场分布的测试系统及测试方法
本专利技术涉及电子信息技术,具体涉及一种模拟低频磁场分布的测试系统及测试方法。
技术介绍
无钥匙进入系统(PEPS系统)的普及应用在现阶段随着汽车电子技术的发展，已经取代了传统的机械式门锁控制系统。PEPS系统简化了用户进入车辆以及启动车辆的繁琐步骤，给用户带来了舒适便利的体验。只要用户随身携带合法的智能钥匙，当用户进入车外有效范围时，车辆就能够自动开启车门或者后备箱，当用户按下启动按钮时，车辆就能够正常启动。随着PEPS系统在车辆上的广泛应用，为了避免给用户带来车辆使用的困扰或者安全隐患，对PEPS系统的测试局限的特别重要，尤其是无钥匙进入功能和无钥匙启动功能。PEPS系统识别智能钥匙的关键点是通过低频磁场的覆盖范围内找到智能钥匙，并判断当前智能钥匙所处的有效位置。对于PEPS系统来说，现有技术方案主要是通过手动移动钥匙位置的方式，将智能钥匙分别拿到车内或者车外的位置，然后验证PEPS系统的无钥匙进入功能，无钥匙启动功能，通过手动制造故障的方式模拟用户使用智能钥匙场景的测试，然后验证PEPS系统的功能。现有技术需测试人员手动移动钥匙位置达到测试目的，既无法全部覆盖钥匙位置的使用场景，也无法覆盖全部故障工况的场景。导致PEPS系统测试效率低，周期长等问题。由此可见，现急需一种可以提高测试效率的装置为本领域需解决的问题。
技术实现思路
针对于现有技术存在测试场景覆盖率低的问题，本专利技术的目的在于提供一种模拟低频磁场分布的测试系统，其特征在于，包括测试箱体，位于测试箱体内的若干个中央控制器，若干个控制开关，若干个故障注入单元和负载天线单元；所述若干个中央控制器分别连接若干个控制开关；所述若干个控制开关分别连接若干个故障注入单元和负载天线单元；所述若干个故障注入单元分别连接负载天线单元；所述中央控制器根据外部指令操控控制开关控制负载天线的连接状态以达到改变低频磁场覆盖的范围；所述中央控制器根据外部指令操控控制开关控制故障注入单元注入故障至负载天线单元内，以模拟各种工况的测试。进一步地，所述测试箱体是由前、后、左、右、上、下6块特殊材质的面板组成；所述后部面板上设有CAN通讯接口；所述测试箱体内部通过特殊材质的隔板分为若干个空间；所述特殊材质的测试箱体与特殊材质的隔板相配合以达到屏蔽低频磁场的目的。进一步地，所述测试箱体内部每个独立空间的两侧均插入隔板。进一步地，所述负载天线单元为第一负载天线，第二负载天线和第三负载天线；所述第一负载天线，第二负载天线和第三负载天线分别通过每个空间内的两侧隔板分别固定在空间内。进一步地，所述若干个故障注入设备分别通过空间两侧的隔板固定在每个空间内并与空间内的负载天线进行连接。进一步地，所述若干个控制开关分别通过空间内的两侧隔板分别固定在每个空间内并分别与空间内的负载天线与故障注入设备进行连接。进一步地，所述若干个中央控制器分别通过空间内的两侧隔板分别固定在每个空间内并与空间内的控制开关进行连接。一种基于模拟低频磁场分布的测试系统的测试方法：其特征在于，包括以下步骤：(1)若干个空间内的中央控制器接收外部指令，并判断指令的有效性；(2)当第一负载天线，第二负载天线或第三负载天线同时连接中央控制器时，则低频磁场的覆盖范围主要集中在测试装置空间第一空间，第二空间或第三空间的附近；第一负载天线，第二负载天线或第三负载天线代表不同的场景；当中央控制器收到场景模拟测试的命令时，中央控制器根据外部的指令相对选择第一负载天线，第二负载天线或第三负载天线与中央控制器的连接来改变负载天线的布局，则可分别代表不同的场景进行模拟测试。(3)当任意空间内的中央控制器收到故障注入命令时，中央控制器通过控制开关单元操作故障注入设备根据指令给负载天线注入不同工况下的故障，然后再进行上述第(2)步的场景模拟测试，可达到在不同工况下进行场景模拟测试。本专利技术提供的一种模拟低频磁场分布的测试系统及测试方法，其利用测试装置内不同空间区域的划分，通过自定义的CAN总线协议，可实现自动改变低频磁场的分布，模拟不同的场景进行测试；其次可自动控制负载天线的故障注入，模拟各种实车故障工况的场景。附图说明以下结合附图和具体实施方式来进一步说明本专利技术。图1为本方案中测试装置外部结构示意图；图3为本方案中测试装置内部结构示意图；图2为本方案中负载天线单元的分布结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本专利技术。参见图1，本专利技术提供的一种模拟低频磁场分布的测试系统，其主要包括测试箱体100，中央控制器200，控制开关300，故障注入单元400以及负载天线单元500。中央控制器200通过控制开关300改变测试箱体100内负载天线单元400的覆盖范围来进行不同场景的模拟测试；同时可操作控制开关300控制故障注入单元500给负载天线单元400内注入故障来模拟不同工况的测试。其中，参见图2，测试箱体100采用铁质材质制成。测试箱体100是由前、后、左、右、上、下6个面板组合而成。其中，后面面板留有CAN通讯接口150，箱体供电接口以及供电指示灯。这里CAN通讯接口150，箱体供电接口以及供电指示灯为本领域技术人员所熟知，这里不加以赘述。进一步地，测试箱体100内部通过插入隔板140分成3个独立的空间，即为第一空间110，第二空间120和第三空间130。测试箱体100内部的插入的隔板140优选为铝制隔板，与铁质的测试箱体100配合达到屏蔽低频磁场的目的。在测试箱体内部每个独立空间的两侧均插入隔板，用来固定中央控制器200，控制开关300，负载天线单元400，故障注入单元500。这里测试箱体100的材质与内部插入隔板的材质不做限定，可达到屏蔽低频磁场即可。另外，这里空间的数量不做限定，可根据实际情况而定。中央控制器200用于操控控制开关300，本方案中为3个中央控制器，在第一空间110，第二空间120和第三空间130内通过隔板140分别固定一个中央控制器并与控制开关300进行连接。中央控制器200通过箱体后的CAN通讯接口150接收外部的CAN总线命令来操控控制开关300进行作业。这里中央控制器的数量不做限定，根据上述分空间的数量而定。控制开关300用于控制负载天线单元400及故障注入单元500。其包括3个控制开关，3个控制开关分别放置在第一空间110，第二空间120和第三空间130内。每个控制开关通过空间两侧的隔板140固定在对应的空间内并与每个空间内的负载天线与故障注入单元分别连接。这里控制开关的数量不做限定，根据上述分空间的数量而定。负载天线单元400用于放射信号与中央控制器单元200进行连接。参见图3，其包括第一负载天线410，第二负载天线420和第三负载天线430，第一负载本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种模拟低频磁场分布的测试系统，其特征在于，包括测试箱体，位于测试箱体内的若干个中央控制器，若干个控制开关，若干个故障注入单元和负载天线单元；所述若干个中央控制器分别连接若干个控制开关；所述若干个控制开关分别连接若干个故障注入单元和负载天线单元；所述若干个故障注入单元分别连接负载天线单元；/n所述中央控制器根据外部指令操控控制开关控制负载天线的连接状态以达到改变低频磁场覆盖的范围；所述中央控制器根据外部指令操控控制开关控制故障注入单元注入故障至负载天线单元内，以模拟各种工况的测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种模拟低频磁场分布的测试系统，其特征在于，包括测试箱体，位于测试箱体内的若干个中央控制器，若干个控制开关，若干个故障注入单元和负载天线单元；所述若干个中央控制器分别连接若干个控制开关；所述若干个控制开关分别连接若干个故障注入单元和负载天线单元；所述若干个故障注入单元分别连接负载天线单元；
所述中央控制器根据外部指令操控控制开关控制负载天线的连接状态以达到改变低频磁场覆盖的范围；所述中央控制器根据外部指令操控控制开关控制故障注入单元注入故障至负载天线单元内，以模拟各种工况的测试。


2.根据权利要求1所述的一种模拟低频磁场分布的测试系统，其特征在于，所述测试箱体是由前、后、左、右、上、下6块特殊材质的面板组成；所述后部面板上设有CAN通讯接口；所述测试箱体内部通过特殊材质的隔板分为若干个空间；所述特殊材质的测试箱体与特殊材质的隔板相配合以达到屏蔽低频磁场的目的。


3.根据权利要求2所述的一种模拟低频磁场分布的测试系统，其特征在于，所述测试箱体内部每个独立空间的两侧均插入隔板。


4.根据权利要求3所述的一种模拟低频磁场分布的测试系统，其特征在于，所述负载天线单元为第一负载天线，第二负载天线和第三负载天线；所述第一负载天线，第二负载天线和第三负载天线分别通过每个空间内的两侧隔板分别固定在空间内。


5.根据权利要求3所述的一种模拟低频磁场分布的测试系统，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：董菲菲，周晟，肖德玉，吴嘉龙，
申请(专利权)人：上海纳恩汽车技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31