对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法技术

本发明专利技术公开了一种对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，包括如下步骤：将液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线分为列驱动引线和行驱动引线，分别对应驱动芯片的列电极和行电极；将列驱动引线向玻璃基板上方拉伸，将行驱动引线向玻璃基板两侧方向拉伸；使用一片普通玻璃基板和一片所述被拉伸驱动引线的玻璃基板制成液晶盒，使用检测装置向被拉伸的列驱动引线和行驱动引线输入检测信号并根据液晶盒反馈的图像得到测试结果。本发明专利技术的方法因此可以根据需要将液晶显示屏玻璃基板的导电引线全部拉伸到适当位置，从而实现对液晶显示屏玻璃基板上的所有导电引线进行电性能检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的 方法。
技术介绍
液晶显示屏一般都需要芯片进行驱动，现有的液晶显示屏一般通过板上芯片(Chip On Glass,简称COG)的方式将芯片邦定在液晶显示屏的玻 璃基板上制成液晶显示模块(LCD Module,简称LCM)。具体而言，是将 芯片(IC)通过各向异性导电膜(Anisotropic Conductive Film,简称ACF) 固定在液晶显示屏的玻璃基板上，然后由该芯片驱动液晶显示屏，完成显 示。采用这种方式邦定的液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线分布密集， 一般导电引线间的间隔只有15微米左右，最小的间隔甚至只有12微米。 因此生产过程中，很容易出现短路缺陷，影响该导电引线的电性能。现有的，一 般有两种第一种是图形检测(Pattern Check)法，另外一种就是邦定芯 片后检测法。图形检测(Pattern Check)法的具体步骤如下在液晶显示屏制作过 程中，当导电引线的图形蚀刻完成后，将光刻胶脱膜，利用图形检测设备 上的金属探针， 一般两个探针为一组，直接对蚀刻在玻璃上的导电引线进 行检测。如果两个导电引线之间短路，则与两个导电引线相接触的两探针 间的电阻就会变小，或者电流变大；如果一个导电引线存在断路，则与一 个导电引线相接触的两探针间的电阻就会变大。该检测方法是液晶显示屏 生产过程中品质控制的重要手段，但是存在以下局限1、成本高。该图形 检测设备售价高达几百万人民币，且探针价格昂贵(一只探针售价高达30 美金， 一台图形检测设备一般需60只探针)，此外，探针容易被损坏，进 一步提升了成本。2、检测速度慢，调试探针时间长，限制了产能。3、检 测不完全，容易出现漏检现象，使有缺陷的产品流入下个工序。4、检测精 度不够， 一般该设备的检测精度为50微米，对于50微米以下的产品无法检测短路缺陷。5、在短路检测过程中，容易划伤导电引线、玻璃，产生新 的缺陷。邦定芯片后检测法的具体步骤如下制作液晶显示屏完后，贴好偏光 片，并邦定芯片，对产品进行全屏显示以及部分显示，检测是否有不显示 或乱显示的现象。此检测方法是液晶显示模块产品出货前的重要检测手段， 但使用该检测方法无法判断出是液晶显示屏玻璃基板的导电引线的电性能 缺陷(短路或短路)的原因，还是IC本身的问题，或是IC邦定工艺出现问题。而且本方法需要在邦定IC后进行，会带来IC、 ACF等材料的浪费。上述两种方法均存在高成本、低效率、使用条件苛刻等局限。为了克服以上检测方法的不足，申请号为200610033009.8的专利技术专利 申请中提出一种夹具测试短路的方法，该方法通过导电条、夹具、测试架 和检测电路板，将芯片引脚对应的显示屏电路引线的奇数或偶数单独引至 芯片邦定区域，从而使液晶显示屏隔行或隔列显示，检测液晶显示屏的玻 璃基板上的导电引线是否存在短路。但是该专利技术专利申请也存在以下缺陷 在测试过程中，由于引线的位置集中在IC邦定区域，因此与液晶显示屏的 其它线路非常接近，容易发生误判。在测试过程中，由于引线的位置集中 在IC邦定区域，而IC邦定区域非常狭小，因此有时不能将所有的奇数或 偶数引线全部拉伸到IC邦定区域导电引线，因此不能检测出玻璃基板上导 电引线的全部短路缺陷。此外，该专利技术专利申请中使用导电胶条与被拉伸 的导电引线进行电连接，导电胶条与导电引线之间的对位比较困难，容易 发生误判。而且导电胶条有弹性，容易变形，因此测试夹具不稳定，经常 需要重新调试，影响生产效率，而且导电胶条变形后可能会导致其与导电 引线的连接不可靠，影响测试结果。
技术实现思路
本专利技术就是为了克服以上的不足，提出了一种对液晶显示屏玻璃基板上导电引线的电性能进行检测的方法，该方法不需将引线拉伸到ic邦定区域，从而能对所有导电引线进行电性能检测。本专利技术的技术问题通过以下的技术方案予以解决 一种对液晶显示屏 玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，包括如下步骤-1) 将液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线分为列驱动引线和行驱动引 线，分别对应驱动芯片的列电极和行电极；2) 将列驱动引线向玻璃基板上方拉伸，将行驱动引线向玻璃基板两侧方向拉伸；3)使用一片普通玻璃基板和一片所述被拉伸驱动引线的玻璃基板制成 液晶盒，使用检测装置向被拉伸的列驱动引线和行驱动引线输入检 测信号并根据液晶盒反馈的图像得到测试结果。优选地，所述被拉伸的列驱动引线与驱动芯片的奇数顺序或偶数顺序的列电极相对应。所述被拉伸的行驱动引线与驱动芯片的奇数顺序或偶数顺序的行电极 相对应。所述步骤2)和步骤3)之间还包括如下步骤用第一公共导电引线将 被拉伸的列驱动引线连接到位于玻璃基板周边的第一导电点，用第二公共 导电引线将被拉伸的行驱动引线连接到位于玻璃基板周边的第二导电点； 所述步骤3)中检测装置分别通过第一导电点和第二导电点向列驱动引线 和行驱动引线输入检测信号。所述玻璃基板上设有至少两个待切割液晶盒位；所述第一公共导电引 线将与同一排待切割液晶盒位相配套的列驱动引线连接到第一导电点，所 述第二公共导电引线将与同一排待切割液晶盒位相配套的行驱动引线连接 到位于玻璃基板周边的第二导电点。所述检测装置包括测试架和信号发生器，所述测试架包括测试背光、 上偏光片和下偏光片；所述上偏光片位于液晶盒上方，所述下偏光片位于 液晶盒下方，所述测试背光位于下偏光片下方，所述信号发生器向被拉伸 的列驱动引线和行驱动弓I线输入检测信号。本专利技术与现有技术对比的有益效果是本专利技术的方法不需将导电引线 向有限的芯片邦定区域拉伸，因此可以根据需要将液晶显示屏玻璃基板的 导电引线全部拉伸到适当位置，从而实现对液晶显示屏玻璃基板上的所有 导电引线进行电性能检测。本专利技术操作简单、识别方便，非常有利于生产 员工的使用，而且本专利技术不需使用复杂设备，成本低。使用本专利技术的方法 进行检测时，不需要金属探针与导电引线进行直接接触，避免金属探针划 伤导电引线，造成新的缺陷。使用本专利技术的方法进行检测时，也不需要邦 定IC，可以有效防止IC与ACF等材料的浪费。本专利技术通过将所拉伸的列/行驱动引线与驱动芯片的奇数顺序或偶数 顺序的列/行电极相对应，依靠检测设备可以非常直观地观察出是否有短路 缺险^_例如当只显示出奇数或偶数行/列的图形时则表明该液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线不存在短路缺陷，当同时显示奇数和偶数行/列，则 该液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线存在短路缺陷。本专利技术通过第一、二公共导电引线将拉伸的列、行驱动引线引至位于 玻璃基板周边的第一、二导电点，并由检测装置通过第一、二导电点向列、 行驱动引线输入检测信号。因此不需要通过导电胶条向列、行驱动引线输 入检测信号，可以不需使用复杂的夹具，实现导电胶条和列、行驱动引线 之间的精确对位，避免误判现象的发生。而且在测试时不需要进行导电胶 条和列、行驱动引线之间的对位操作，可以提高生产效率。本专利技术还可避 免导电胶条变形后所导致的其与导电引线的连接不可靠问题，保证测试结 果。本专利技术通过在玻璃基板上设有至少两个待切割液晶盒位;并通过第一、 二公共导电引线将与同一排待切割液晶盒位相配套的列、行驱动引线连接 到第一、二导电点，从而实现一次检测出一排(可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法，其特征在于：包括如下步骤：　１）将液晶显示屏的玻璃基板上的导电引线分为列驱动引线和行驱动引线，分别对应驱动芯片的列电极和行电极；　２）将列驱动引线向玻璃基板上方拉伸，将行驱动引线向玻璃基板两侧方向拉伸；　３）使用一片普通玻璃基板和一片所述被拉伸驱动引线的玻璃基板制成液晶盒，使用检测装置向被拉伸的列驱动引线和行驱动引线输入检测信号并根据液晶盒反馈的图像得到测试结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林秦，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]