【技术实现步骤摘要】
光室混合加热制冷恒温系统
本技术属于光谱仪领域,涉及一种恒温系统,特别是一种光室混合加热制冷恒温系统。
技术介绍
目前市场上光谱仪通用的温室恒温方法是发热元件恒温,ICP仪器光室最佳恒温在28-35℃,这种方法的恒温速度慢、只能单一加热恒温,升温时间和温度稳定时间都很长,而且温度的稳定性也不高,仪器长期运行后容易导致靠近燃烧室一侧光室温度不断温升,温升高于恒温温度从而使恒温失效,对光谱仪的测量误差产生了较大的影响;为了进一步减少测量误差,保证整个光室温度的均匀性,特设计一种半导体光室加热制冷恒温系统。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有的技术存在上述的问题,提出了一种光室混合加热制冷恒温系统。为实现上述目的,可通过下列技术方案来实现,一种光室混合加热制冷恒温系统,应用在ICP光谱仪中,设置于燃烧室旁,包括有光室、若干加热元器件、与加热元器件对应设置的温度传感器以及设置在光室外侧的保温材料,所述加热元器件设置在光室外侧表面上,在所述加热元器件上设置铜管,在所述铜管的一侧设置一热交换控制模块,靠近燃烧室一侧 ...
【技术保护点】
1.一种光室混合加热制冷恒温系统,应用在ICP光谱仪中,设置于燃烧室旁,包括有光室(1)、若干加热元器件(2)、与加热元器件(2)对应设置的温度传感器以及设置在光室(1)外侧的保温材料(7),所述加热元器件(2)设置在光室(1)外侧表面上,其特征在于:在所述加热元器件(2)上设置铜管(5),在所述铜管(5)的一侧设置一热交换控制模块(6),靠近燃烧室一侧的所述加热元器件(2)为半导体制冷片(3);在所述的光室(1)外侧设置一用于检测光室(1)外侧环境温度的室温温度传感器,在所述的光室(1)与燃烧室的连接处设置一用于检测该处温度的连接处温度传感器,根据温度传感器、室温温度传感 ...
【技术特征摘要】
1.一种光室混合加热制冷恒温系统,应用在ICP光谱仪中,设置于燃烧室旁,包括有光室(1)、若干加热元器件(2)、与加热元器件(2)对应设置的温度传感器以及设置在光室(1)外侧的保温材料(7),所述加热元器件(2)设置在光室(1)外侧表面上,其特征在于:在所述加热元器件(2)上设置铜管(5),在所述铜管(5)的一侧设置一热交换控制模块(6),靠近燃烧室一侧的所述加热元器件(2)为半导体制冷片(3);在所述的光室(1)外侧设置一用于检测光室(1)外侧环境温度的室温温度传感器,在所述的光室(1)与燃烧室的连接处设置一用于检测该处温度的连接处温度传感器,根据温度传感器、室温温度传感器与连接处温度传感器检测到的信号判断后单独控制各个加热元器件(2)的工作。
2.根据权利要求1所述的光室混合加热制冷恒温系统,其特征在于:所述热交换控制模块(6)中含有转换芯片、控制单元,所述转换芯片用来接收信号并进行转换,所述控制单元输出PWM信号。
3.根据权利要求2所述的光室混合加热制冷恒温系统,其特征在于:...
【专利技术属性】
技术研发人员:应刚,李正建,解婉莹,袁辉,胡曦,李胜辉,
申请(专利权)人:江苏天瑞仪器股份有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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