一种精密元器件检测治具制造技术

一种精密元器件检测治具，包括底座、支架、支撑横杆、检测机构和固定机构，所述底座上设有支架和固定机构，所述支架上设有所述支撑横杆，所述检测机构设在所述支撑横杆上；所述升降气缸设在所述支撑横杆上，所述检测模块通过所述升降伸缩杆与所述升降气缸连接；所述支撑伸缩杆设在所述底座内，所述承载板设在所述支撑伸缩杆上，所述支撑块设在所述底座上，所述螺纹杆穿过所述支撑块，所述侧限位杆与所述螺纹杆连接，所述横限位杆与所述侧限位杆连接，所述顶杆在所述底座侧面向内插入。本实用新型专利技术结构简单，操作方便，适用性广，使得检测过程受力均匀。

【技术实现步骤摘要】
一种精密元器件检测治具
本技术涉及检测治具领域，尤其涉及一种精密元器件检测治具。
技术介绍
治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具，主要是作为协助控制位置或动作(或两者)的一种工具。随着电子技术的发展，不断发展功能化、智能化的移动设备。各种电子芯片广泛应运电子领域的各行业：电脑、手机、Mp3、MP4、DVD、DVB、打印机、通讯终端、工控主板、显卡、数码相机、机顶盒等。芯片在生产出场均需要通过出场质检。但是现有的检测电子芯片的治具会存在着容易错位或者因受力不足导致检测探针接触不良。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术的缺点，而提出了一种精密元器件检测治具。一种精密元器件检测治具，其特征在于，包括底座、支架、支撑横杆、检测机构和固定机构，所述底座上设有支架和固定机构，所述支架上设有所述支撑横杆，所述检测机构设在所述支撑横杆上；所述检测机构包括升降气缸、升降伸缩杆和检测模块，所述升降气缸设在所述支撑横杆上，所述检测模块通过所述升降伸缩杆与所述升降气缸连接；所述固定机构包括侧限位杆、横限位杆、螺纹杆、支撑块、承载板、支撑伸缩杆和顶杆，所述支撑伸缩杆设在所述底座内，所述承载板设在所述支撑伸缩杆上，所述支撑块设在所述底座上，所述螺纹杆穿过所述支撑块，所述侧限位杆与所述螺纹杆连接，所述横限位杆与所述侧限位杆连接，所述顶杆在所述底座侧面向内插入。优选的，所述横限位杆为可伸缩结构，靠近伸缩支架的所述横限位杆与所述侧限位杆固定连接，外侧所述横限位杆两端设有与自身垂直的滑杆，所述滑杆上表面设有向上的突块，所述突块向所述支架一侧设有斜面。优选的，所述侧限位杆相向侧设有与所述突块匹配的凹槽。优选的，所述横限位杆最大长度等于所述支架之间距离。优选的，所述支撑块外侧设有旋转螺母，所述旋转螺母与所述螺纹杆匹配。优选的，所述支撑伸缩杆之间设有连接块，所述连接块与所述顶杆连接，且所述连接块与所述顶杆之间连接结构同样为所述横限位杆和所述侧限位杆之间连接结构。优选的，所述支撑伸缩杆设有四个均匀分布且内部设有弹簧，所述弹簧初始处于压缩状态。优选的，所述检测模块与所述升降伸缩杆之间为可拆卸结构。本技术的有益效果是:通过可移动侧限位杆，可使用各种尺寸大小的芯片检测，节省了检测的成本，且替换过程简单，提高了检测效率；设在支撑伸缩杆上的承载板和设在升降伸缩杆上的检测模块两者相向压紧待检测芯片，受力均匀，降低检测误差率，降低了因误差导致的损失。附图说明附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一同用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：图1为本技术结构示意图；图2为本技术俯视图；图3为底座侧视图；图4为横限位杆与侧限位杆结构示意图；图中标记为：1-底座，2-支架，3-支撑横杆，4-升降气缸，5-升降伸缩杆，6-检测模块，7-侧限位杆，8-横限位杆，9-螺纹杆，10-支撑块，11-承载板，12-支撑伸缩杆，13-连接块，14-顶杆。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。根据图1至图4所示，一种精密元器件检测治具包括底座1、支架2、支撑横杆3、检测机构和固定机构。底座1上设有支架2和固定机构，支架2上设有支撑横杆3，检测机构设在支撑横杆3上；检测机构包括升降气缸4、升降伸缩杆5和检测模块6，升降气缸4设在支撑横杆3上，检测模块6通过升降伸缩杆5与升降气缸4连接。固定机构包括侧限位杆7、横限位杆8、螺纹杆9、支撑块10、承载板11、支撑伸缩杆12和顶杆14，支撑伸缩杆12设在底座1内，承载板11设在支撑伸缩杆12上，支撑块10设在底座1上，螺纹杆9穿过支撑块10，侧限位杆7与螺纹杆9连接，横限位杆8与侧限位杆7连接，顶杆14在底座1侧面向内插入。支撑伸缩杆12之间设有连接块13，连接块13与顶杆14连接。根据待检测芯片大小，通过支撑块10上的旋转螺母调节螺纹杆9的位置，进而调节侧限位杆7的位置。调节后，将顶杆14向底座1内压入，顶杆14将连接块13下压，与连接块13连接的支撑伸缩杆12被压缩，承载板11随支撑伸缩杆12下降。横限位杆8与侧限位杆7暂时脱离，将横限位杆8向外拉。直到横限位杆8端部滑杆最里端的突块嵌入侧限位杆7最外侧凹槽，支撑伸缩杆12展开。将待检测芯片抵住拉出的横限位杆8，通过推入横限位杆8将待检测芯片带入承载板11上。通过升降气缸4使得升降伸缩杆5展开，降低检测模块6并与承载板11夹住待检测芯片，开始检测。替换芯片则重复以上操作。以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种精密元器件检测治具，其特征在于，包括底座、支架、支撑横杆、检测机构和固定机构，所述底座上设有支架和固定机构，所述支架上设有所述支撑横杆，所述检测机构设在所述支撑横杆上；所述检测机构包括升降气缸、升降伸缩杆和检测模块，所述升降气缸设在所述支撑横杆上，所述检测模块通过所述升降伸缩杆与所述升降气缸连接；/n所述固定机构包括侧限位杆、横限位杆、螺纹杆、支撑块、承载板、支撑伸缩杆和顶杆，所述支撑伸缩杆设在所述底座内，所述承载板设在所述支撑伸缩杆上，所述支撑块设在所述底座上，所述螺纹杆穿过所述支撑块，所述侧限位杆与所述螺纹杆连接，所述横限位杆与所述侧限位杆连接，所述顶杆在所述底座侧面向内插入。/n

【技术特征摘要】
1.一种精密元器件检测治具，其特征在于，包括底座、支架、支撑横杆、检测机构和固定机构，所述底座上设有支架和固定机构，所述支架上设有所述支撑横杆，所述检测机构设在所述支撑横杆上；所述检测机构包括升降气缸、升降伸缩杆和检测模块，所述升降气缸设在所述支撑横杆上，所述检测模块通过所述升降伸缩杆与所述升降气缸连接；
所述固定机构包括侧限位杆、横限位杆、螺纹杆、支撑块、承载板、支撑伸缩杆和顶杆，所述支撑伸缩杆设在所述底座内，所述承载板设在所述支撑伸缩杆上，所述支撑块设在所述底座上，所述螺纹杆穿过所述支撑块，所述侧限位杆与所述螺纹杆连接，所述横限位杆与所述侧限位杆连接，所述顶杆在所述底座侧面向内插入。


2.根据权利要求1所述的一种精密元器件检测治具，其特征在于，所述横限位杆为可伸缩结构，靠近伸缩支架的所述横限位杆与所述侧限位杆固定连接，外侧所述横限位杆两端设有与自身垂直的滑杆，所述滑杆上表面设有向上的突块，所述突块向所述支架一侧设有斜面。

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【专利技术属性】
技术研发人员：宫存法，
申请(专利权)人：南京欧测电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32