一种磁粉标准试片的测量方法技术

本发明专利技术涉及一种磁粉标准试片的测量方法，在室温20±5℃,温度变化≤1℃/h,湿度<75%RH,无振动源室内环境中，在岩石平板放置磁粉标准试片及表面粗糙度仪，磁粉标准试片人工槽面向上，选取表面粗糙度仪触针行程大于磁粉标准试片边长，沿十字人工槽一条槽方向，形成行进距离为X轴数据、行进轨迹为Y轴数据的曲线记录，测量以同样方式对十字人工槽另一条槽方向进行数据采集，形成曲线,再选取依次平行于十字人工槽中的槽直线方向进行触针行程形成多条曲线记录，利用测量软件采集曲线分析计算出试片边长、圆形人工槽直径、十字人工槽长度、试片厚度、人工槽深度、宽度数据实现磁粉标准试片测量，提升了测量效率，降低了人工测量误差，提高了测量准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种磁粉标准试片的测量方法
本专利技术属于磁粉探伤检测
，具体涉及一种磁粉标准试片的测量方法。
技术介绍
磁粉标准试片是用来检查磁粉探伤装置、磁粉、磁悬液的综合性能，以及连续法中试件表面有效磁场的强度和方向、有效探伤范围、探伤操作是否正确。磁粉标准试片采用符合GB/T6983规定的DT4A超高纯低碳纯铁，经轧制而成的正方形薄试片，在试片中部为圆形人工槽及十字人工槽。根据《GB/T23907-2009磁粉检测用试片》中6.2尺寸条款规定：试片厚度、人工槽深度、宽度采用准确度优于±1μm的适当方法测定，一般采用千分尺、体视显微镜进行测量。而磁粉标准试片的边长、圆形人工槽直径、十字人工槽长度，应采用准确度优于±1mm的适当方法测定，一般采用直尺测量。而这种测量存在着测量效率低，人工测量误差的发生概率高，测量准确度差的缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术中存在的不足而提供一种利用表面粗糙度仪触针在磁粉探伤标准试片上的数次测量行程，形成一批以行进距离为X轴数据、行进轨迹为Y轴数据的曲线记录，利用测量软件分析计算得出磁粉本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁粉标准试片的测量方法，其特征在于：按照如下步骤进行：/n步骤1）、在室温20±5℃,温度变化≤1℃/h ,相对湿度 <75%RH，且周围没有振动源的室内环境中，在2级岩石平板上固定放置磁粉标准试片及表面粗糙度仪，磁粉标准试片的人工槽面向上；/n步骤2）、选取利用表面粗糙度仪触针行程大于磁粉标准试片的边长，表面粗糙度仪触针行进方向沿着磁粉标准试片的十字人工槽一条槽方向，行程涵盖2级岩石平板、磁粉标准试片的平面、圆形人工槽、十字人工槽中一条槽；测量软件通过表面粗糙度仪进行采集数据，形成以行进距离为X轴数据、行进轨迹为Y轴数据的曲线记录；测量以同样方式对十字人工槽另一条槽方向，进行数...

【技术特征摘要】
1.一种磁粉标准试片的测量方法，其特征在于：按照如下步骤进行：
步骤1）、在室温20±5℃,温度变化≤1℃/h,相对湿度<75%RH，且周围没有振动源的室内环境中，在2级岩石平板上固定放置磁粉标准试片及表面粗糙度仪，磁粉标准试片的人工槽面向上；
步骤2）、选取利用表面粗糙度仪触针行程大于磁粉标准试片的边长，表面粗糙度仪触针行进方向沿着磁粉标准试片的十字人工槽一条槽方向，行程涵盖2级岩石平板、磁粉标准试片的平面、圆形人工槽、十字人工槽中一条槽；测量软件通过表面粗糙度仪进行采集数据，形成以行进距离为X轴数据、行进轨迹为Y轴数据的曲线记录；测量以同样方式对十字人工槽另一条槽方向，进行数据采集，形成曲线；
步骤3）、选取平行于磁粉标准试片的十字...

【专利技术属性】
技术研发人员：任黎明，魏红军，林卫平，刘文茂，
申请(专利权)人：河南中原特钢装备制造有限公司，
类型：发明
国别省市：河南;41