一种多模式光谱测试装置制造方法及图纸

技术编号:26950212 阅读:19 留言:0更新日期:2021-01-05 21:05
本实用新型专利技术提供了一种多模式光谱测试装置,可置于光谱仪样品仓内完成联用,并可通用于多种形态样品的吸收和发射光谱测试。本实用新型专利技术还可通过光纤转接组件耦合光纤实现远程激发和测量。所述装置包括:样品箱,所述样品箱上设置有装配孔,用于耦合光源或输出光路器件;连接座,所述连接座设置在所述样品箱内。

【技术实现步骤摘要】
一种多模式光谱测试装置
本技术公开了一种多模式光谱测试装置,属于光学检测

技术介绍
在变温光学检测中,多采用松散组合的样品箱和光学激发或检测装置进行联用,实现材料的光学特性测试。这类联用装置不便放置在光谱仪样品仓或暗室内与光谱探测系统联用,且不能通用于多种形态样品发射光谱和吸收光谱测试。因此需要设计出一种光谱测试装置以解决上述问题。
技术实现思路
本技术提供了一种多模式光谱测试装置,可置于光谱仪样品仓或暗室内与光谱探测系统联用,并可通用于多种形态样品的吸收和发射光谱测试。本技术还可通过光纤转接组件耦合光纤实现远程激发和测量。根据本技术第一种技术方案,所述装置包括:样品箱,所述样品箱由六个壁装配而成,包括顶壁、底壁和四个侧壁,所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔,用于耦合光源或输出光路器件;连接座,所述连接座设置在所述样品箱内。根据本技术第一种技术方案的改进方案,所述连接座设置在所述样品箱底壁上。根据本技术的第一种技术方案的进一步改进方案的第一个优选方案,所述装置还包括避光塞和光纤转接组件,所述光纤转接组件装配在至少两个装配孔上,且所述样品箱上设置至少一个除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔,所述避光塞装配在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔上。根据本技术的第一种技术方案的进一步改进方案的第二个优选方案,所述装置还包括光纤转接组件,所述光纤转接组件装配在至少一个所述装配孔上。根据本技术的第一种技术方案的进一步改进方案的第三个优选方案,所述装置还包括光源,所述光源装配在任意一个所述装配孔上。根据本技术的第一种技术方案的进一步改进方案的第一个优选方案的改进方案,所述装置还包括光源,所述光源替代所述避光塞或所述光纤转接组件装配在任意一个所述装配孔上,当所述样品箱上设置有装配所述光纤转接组件或所述避光塞的装配孔时,所述光源替代一个所述光纤转接组件装配在装配所述光纤转接组件的装配孔上,或替代一个所述避光塞装配在装配所述避光塞的装配孔上。根据本技术的第一种技术方案进一步改进方案的第二个优选方案的改进方案,所述装置还包括光源,所述光源装配在一个所述装配孔上,当所述样品箱上设置除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的至少两个其余装配孔时,所述光源装配在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的任意一个其余装配孔上。根据本技术第一种技术方案的更进一步改进方案,所述装置还包括升降支架,所述升降支架位于所述样品箱的底部,用于调节所述样品箱在竖直方向上的位置。根据本技术第二种技术方案,所述装置包括:样品箱,所述样品箱由六个壁装配而成,包括顶壁、底壁和四个侧壁,所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔,用于耦合光源或输出光路器件;连接座,所述连接座设置在所述样品箱内;变温台,所述变温台与所述样品箱的底壁连接,用于对所述待测样品的温度进行调节;所述连接座设置在所述样品箱内和所述变温台上;透光窗片,所述透光窗片用于透光和防止空气对流,所述透光窗片装配在至少一个所述装配孔上,或替代除所述底壁之外的至少一个其余壁装配在所述样品箱上,当所述样品箱上设置除装配所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔时,在除装配所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞,所述避光塞用于遮光和防止空气对流。根据本技术第三种技术方案,所述装置包括:样品箱,所述样品箱由六个壁装配而成,包括顶壁、底壁和四个侧壁,所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔,用于耦合光源或输出光路器件;连接座,所述连接座设置在所述样品箱内;变温台,所述变温台与所述样品箱的底壁连接,用于对所述待测样品的温度进行调节;所述连接座设置在所述样品箱内和所述变温台上;光纤转接组件,所述光纤转接组件装配在至少一个所述装配孔上,可正入射或斜入射装配;透光窗片,所述透光窗片用于透光和防止空气对流,装配在至少一个所述装配孔上,且所述透光窗片与所述光纤转接组件装配在不同的装配孔上,或替代除所述底壁之外的至少一个其余壁装配在所述样品箱上;当所述样品箱上设置除装配所述光纤转接组件和所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔时,在除装配所述光纤转接组件和所述透光窗片的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞,所述避光塞用于遮光和防止空气对流。根据本技术第四种技术方案,所述装置包括:样品箱,所述样品箱由六个壁装配而成,包括顶壁、底壁和四个侧壁,所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔,用于耦合光源或输出光路器件;连接座,所述连接座设置在所述样品箱内;变温台,所述变温台与所述样品箱的底壁连接,用于对所述待测样品的温度进行调节。所述连接座设置在所述样品箱内和所述变温台上;光纤转接组件,所述光纤转接组件装配至少一个所述装配孔上,可正入射或斜入射装配;当所述样品箱上设置除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔时,在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔上还装配所述避光塞,所述避光塞用于遮光和防止空气对流。根据本技术第二种技术方案、第三种技术方案和第四种技术方案,所述装置还包括所述光源,所述光源替代所述光纤转接组件、所述透光窗片或所述避光塞装配在任意一个装配孔上。当所述样品箱上设置装配所述光纤转接组件、所述透光窗片或所述避光塞的装配孔时,所述光源替代一个所述光纤转接组件装配在装配所述光纤转接组件的装配孔上,或替代一个所述透光窗片装配在装配所述透光窗片的装配孔上,或替代一个所述避光塞装配在装配所述避光塞的装配孔上。根据本技术第二种技术方案、第三种技术方案和第四种技术方案,所述装置还包括石英罩,所述石英罩用于将待测样品密封在所述石英罩内部,隔绝外部水汽进入待测样品中。根据本技术第二种技术方案、第三种技术方案和第四种技术方案,所述装置还包括升降支架,所述升降支架位于所述样品箱和变温台之间,用于调节所述样品箱和变温台在竖直方向上的位置。根据上述技术方案,所述装置还包括样品架,所述样品架位于所述样品箱内的内部,用于放置待测样品,实现光学检测,所述样品架设置在所述连接座上,且与所述连接座可拆卸连接。根据上述技术方案,所述装置可放入光谱仪样品仓或暗室内与光谱探测系统联用,所述光谱探测系统用于接收从所述透光窗片出射的光谱信号,也可连接光纤进行远程测量。有益效果本技术提供的多模式光谱测试装置,设计轻巧,可放置在普通光谱仪样品仓或暗室内与光谱探测系统联用,且可耦合变温装置。可连接光纤进行激发和测量。采用宽波段透过大口径防辐射窗口通光,光通量较大,适用波段宽。可耦合各类光源,优选半导体激光器或LED,汞灯光源。附图说明图1为多模式光谱测试装置第一种装配方式外观图图2为多模式光谱测试装置第一种装配内部结构图图3为多模式光谱测试装置第一种装配工作状态图图4为多模式光谱测试装置第二种装配方式外观图图5为多模式光谱本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多模式光谱测试装置,其特征在于,所述装置包括:样品箱,所述样品箱由六个壁装配而成,包括顶壁、底壁和四个侧壁,所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔,用于耦合光源或输出光路器件;连接座,所述连接座设置在所述样品箱内;升降支架,所述升降支架位于所述样品箱的底部,用于调节所述样品箱在竖直方向上的位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种多模式光谱测试装置,其特征在于,所述装置包括:样品箱,所述样品箱由六个壁装配而成,包括顶壁、底壁和四个侧壁,所述样品箱的除所述底壁之外的其余壁至少有两个上设有装配孔,用于耦合光源或输出光路器件;连接座,所述连接座设置在所述样品箱内;升降支架,所述升降支架位于所述样品箱的底部,用于调节所述样品箱在竖直方向上的位置。


2.根据权利要求1所述的多模式光谱测试装置,其特征在于,所述装置还包括光源,所述光源装配在任意一个所述装配孔上。


3.根据权利要求1至2中任一项所述的多模式光谱测试装置,其特征在于,所述装置还包括光纤转接组件,所述光纤转接组件装配在至少一个所述装配孔上。


4.根据权利要求1至2中任一项所述的多模式光谱测试装置,其特征在于,所述装置还包括避光塞和光纤转接组件,所述光纤转接组件装配在至少两个装配孔上,且所述样品箱上设置至少一个除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔,所述避光塞装配在除装配所述光纤转接组件的装配孔之外的其余装配孔上。


5.根据权利要求1所述的多模式光谱测试装置,其特征在于,所述装置还包括变温台,所述变温台与所述样品箱的底壁连接,所述样品箱和变温台之间还包括升降支架,所述升降支架用于调节所述样品箱和变温台在竖直方向上的位置。


6.根据权利要求5所述的多模式光谱测试装置,其特征在于,所述装置还包括透光窗片和避光塞,所述透光窗片用于透光和防止空气对流,所述透光窗片装配在至少一个所述装配孔上,...

【专利技术属性】
技术研发人员:马恩
申请(专利权)人:厦门汇美集智科技有限公司
类型:新型
国别省市:福建;35

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