一种漏电检测电路周期性测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种漏电检测电路周期性测试装置及方法，包括电流感应电路、寿命自测主控芯片、漏电保护芯片、整流电路、漏电信号模拟电路、测试电路和报警电路；本发明专利技术能够在不影响漏电检测电路系统正常在线漏电检测和保护功能前提下，实现自动在线周期性对单相/三相漏电检测电路系统关键器件如漏电保护芯片、脱扣控制元件、脱扣器、感应线圈等及各电子元件之间电气回路连接进行自动测试，以确定检测电路或元件是否失效及电路连接关系是否正常，并在检测到异常后自动驱动报警或脱扣器切断电源，整个过程不需要人工干预且实现过程中不依赖于交流周期信号正负半周期、全周期时钟或相关信号，使得漏电检测电路装置使用的安全性得到有效保障。

【技术实现步骤摘要】
一种漏电检测电路周期性测试装置及方法
本专利技术涉及漏电检测
，尤其涉及一种漏电检测电路周期性测试装置及方法。
技术介绍
在工业、农业、交通、国防、企业、医院、学校及居民等用电中均广泛采用50/60HZ频率交流电，为确保人身生命和财产安全，在各级交流供电系统及居民入户用电中均要求安装漏电检测电路装置，以便能够有效检测到漏电或触电事故，及时切断电源，杜绝安全事故的发生。然而，目前使用的漏电检测电路装置绝大多数均没有安装或者具有自动寿命检测功能电路，当漏电检测电路装置因老化或器件失效等因素不能正常使用时，由于无法及时发现，始终存在极大的安全隐患。尽管专用的漏电检测电路装置或漏电保护设备中设置有人工测试按钮，按下按钮，可以测试漏电保护电路是否正常，但在实际使用过程中，很少有人在每次交流用电设备开启使用前后定期使用该测试电路，同时，使用测试按钮方法会触发切断电源，影响正常使用，且测试按钮操作时间太长容易烧毁电路。另外，有少数企业和机构有开发设计及申请相关漏电自诊断产品和技术专利，但均为单相漏电自诊断方式，需在交流电正半周期到交流电负半周期内执行自诊断测试，而无法应用在三相漏电检测方式中。例如，一种在中国专利文献上公开的“可定时自检的漏电检测保护电路”，其公告号：CN103219702B，其申请日：2013年03月21日，包括主回路、漏电检测电路、定时自检电路和漏电保护电路，所述漏电检测电路包括控制芯片以及漏电流感应线圈，所述漏电保护电路包括主回路开关及主回路开关的控制部件，所述主回路电连接于电源输入端与电源输出端之间，还包括低电阻故障感应线圈，主回路的火线和零线穿过漏电流感应线圈与低电阻故障感应线圈，控制芯片的信号输入端与漏电流感应线圈及低电阻故障感应线圈电连接，控制芯片的信号输出端与主回路开关的控制部件的信号输入端电连接，当漏电流感应线圈感应到漏电流或低电阻故障感应线圈感应到低电阻故障时，控制芯片向主回路开关的控制部件发出控制信号；定时自检电路包括控制器和模拟回路开关。该申请的漏电检测保护电路需要人工按下模拟回来开关才能实现漏电检测电路自检，容易烧毁电路。
技术实现思路
本专利技术主要解决现有的技术中漏电检测电路的测试按钮操作时间太长容易烧毁电路以及需在交流电正半周期到交流电负半周期内执行自诊断测试的问题；提供一种漏电检测电路周期性测试装置及方法，采用全新自诊断模式，使其能应用在单相/三相漏电检测方式中。本专利技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：一种漏电检测电路周期性测试装置，包括电流感应电路、寿命自测主控芯片、漏电保护芯片、整流电路、漏电信号模拟电路、测试电路和报警电路，所述电流感应电路与的输入端与交流电连接，所述电流感应电路的输出端与漏电保护芯片连接，所述整流电路的输入端与交流电连接，所述整流电路的输出端通过电阻R8与寿命自测主控芯片的电源端连接，所述整流电路的输出端还通过电阻R7与漏电保护芯片的电源端连接，所述寿命自测主控芯片的控制输出端分别与漏电保护芯片的检测端以及漏电信号模拟电路的控制端连接，所述寿命自测主控芯片的报警输出端与报警电路连接，所述漏电信号模拟电路的输入端与交流电的零线连接，所述漏电信号模拟电路的输出端接地，所述测试电路分别与寿命自测主控芯片和漏电保护芯片连接。通过寿命自测主控芯片对漏电检测回路的系统功能进行检测，能应用在单相/三相漏电检测方式中。作为优选，所述的测试电路包括第一脱扣控制元件、第二脱扣控制元件和脱扣器，所述第二脱扣控制元件的控制端与漏电保护芯片的输出端OS连接，所述第二脱扣控制元件的第一端接地，所述第二脱扣控制元件的第二端分别与第一脱扣控制元件的第一端以及寿命自测主控芯片的SCR端口连接，所述第一脱扣控制元件的第二端与脱扣器连接，所述第一脱扣控制元件的的控制端与寿命自测主控芯片的测试端TCON连接，所述第一脱扣控制元件的控制端还通过电阻R1和漏电保护芯片的电源端连接。第一脱扣控制元件和第二脱扣控制元件均为MOS管，通过控制MOS管的导通实现自检功能。作为优选，所述的漏电信号模拟电路包括电阻R2、电阻R3、三极管Q3和电容C2，所述电阻R3的一端与交流电的零线连接，所述电阻R3的另一端与三极管Q1的集电极连接，所述三极管Q3的发射极接地，所述三极管Q3的基极通过电容C2与三极管Q3的发射极连接，所述三极管Q3的基极还通过电阻R2与寿命自测主控芯片的模拟漏电控制输出端FT连接。通过漏电信号模拟电路进行漏电模拟信号的产生。作为优选，所述的寿命自测主控芯片为具有计时、滤波、比较、逻辑控制、电压钳位、报警及驱动输出功能的单芯片控制器。可以选择较为常见的单片机，也可以选择其他类似的控制器，只要能够实现相应功能即可，寿命自测主控芯片能够根据设定进行周期性的自检测试，达到自动在线周期测试用于检测单相/三相交流供电漏电检测电路系统关键元件和回路是否正常工作的目的。作为优选，还包括定时器、第一触发器、第二触发器和自检通过灯，所述第二脱扣控制元件的第二端连接有第一插接口，所述第二脱扣控制元件的控制端连接有第二插接口，所述第一插接口与第一触发器的第一输入端连接，所述第二插接口与第一触发器第二输入端连接，所述第一触发器的输出端与第二触发器的输入端连接，所述第二触发器的输出端与自检通过灯连接，所述定时器的电源端与寿命自测主控芯片的电源端连接，所述定时器的使能端与寿命自测主控芯片的控制输出端连接，所述定时器的输出端与第二触发器的使能端连接。设置一个由定时器、第一触发器、第二触发器和一个自检通过灯构成的可拆卸式的自检电路，这个自检电路用于检测寿命自测主控芯片本身的电路工作状态，由于寿命自测主控芯片的工作状态并不直接影响电路本身，无需实时在线检测，检测周期也很长，所以对寿命自测主控芯片的检测可以采用可拆卸的电路器件进行检测，只要在系统上电的同时，插入可拆卸式的自检电路，即可在第一个检测周期的时候检测寿命自测主控芯片本身的工作状态，因此，可以手动对多个寿命自测主控芯片分别检测。一种漏电检测电路周期性测试方法，包括以下步骤：步骤S1，系统上电初始，等到达预设时间后执行步骤S2；步骤S2，通过寿命自测主控芯片的检测端的输入电压与设定阈值的比较，确定第一脱扣控制元件及第二脱扣控制元件的连通性；步骤S3，寿命自测主控芯片控制漏电信号模拟电路产生模拟漏电信号并提供给漏电保护芯片，漏电保护芯片进入自测试模式；步骤S4，模拟漏电控制信号产生的同时，寿命自测主控芯片通过TCON控制端发出控制信号关断第一脱扣控制元件；步骤S5，漏电保护芯片接收到模拟漏电信号，驱动第二脱扣控制元件导通，寿命自测主控芯片检测端SCR电压下降则判定漏电检测电路系统正常，寿命自测主控芯片撤除模拟漏电信号并恢复正常模式等待下一个时间；寿命自测主控芯片若无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动第二脱扣控制元件导通，则立即重复多次模拟漏电信号的检测，若仍旧无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动第二脱扣控制元件导通，则寿命自测主控芯片驱动输出报警信号或者驱动切断电源。作为优选，在步骤S1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种漏电检测电路周期性测试装置，其特征在于，包括/n电流感应电路、寿命自测主控芯片、漏电保护芯片、整流电路、漏电信号模拟电路、测试电路和报警电路，所述电流感应电路与的输入端与交流电连接，所述电流感应电路的输出端与漏电保护芯片连接，所述整流电路的输入端与交流电连接，所述整流电路的输出端通过电阻R8与寿命自测主控芯片的电源端连接，所述整流电路的输出端还通过电阻R7与漏电保护芯片的电源端连接，所述寿命自测主控芯片的控制输出端分别与漏电保护芯片的检测端以及漏电信号模拟电路的控制端连接，所述寿命自测主控芯片的报警输出端与报警电路连接，所述漏电信号模拟电路的输入端与交流电的零线连接，所述漏电信号模拟电路的输出端接地，所述测试电路分别与寿命自测主控芯片和漏电保护芯片连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种漏电检测电路周期性测试装置，其特征在于，包括
电流感应电路、寿命自测主控芯片、漏电保护芯片、整流电路、漏电信号模拟电路、测试电路和报警电路，所述电流感应电路与的输入端与交流电连接，所述电流感应电路的输出端与漏电保护芯片连接，所述整流电路的输入端与交流电连接，所述整流电路的输出端通过电阻R8与寿命自测主控芯片的电源端连接，所述整流电路的输出端还通过电阻R7与漏电保护芯片的电源端连接，所述寿命自测主控芯片的控制输出端分别与漏电保护芯片的检测端以及漏电信号模拟电路的控制端连接，所述寿命自测主控芯片的报警输出端与报警电路连接，所述漏电信号模拟电路的输入端与交流电的零线连接，所述漏电信号模拟电路的输出端接地，所述测试电路分别与寿命自测主控芯片和漏电保护芯片连接。


2.根据权利要求1所述的一种漏电检测电路周期性测试装置，其特征在于，
所述测试电路包括第一脱扣控制元件、第二脱扣控制元件和脱扣器，所述第二脱扣控制元件的控制端与漏电保护芯片的输出端OS连接，所述第二脱扣控制元件的第一端接地，所述第二脱扣控制元件的第二端分别与第一脱扣控制元件的第一端以及寿命自测主控芯片的SCR端口连接，所述第一脱扣控制元件的第二端与脱扣器连接，所述第一脱扣控制元件的的控制端与寿命自测主控芯片的测试端TCON连接，所述第一脱扣控制元件的控制端还通过电阻R1和漏电保护芯片的电源端连接。


3.根据权利要求1或2所述的一种漏电检测电路周期性测试装置，其特征在于，
所述漏电信号模拟电路包括电阻R2、电阻R3、三极管Q3和电容C2，所述电阻R3的一端与交流电的零线连接，所述电阻R3的另一端与三极管Q1的集电极连接，所述三极管Q3的发射极接地，所述三极管Q3的基极通过电容C2与三极管Q3的发射极连接，所述三极管Q3的基极还通过电阻R2与寿命自测主控芯片的模拟漏电控制输出端FT连接。


4.根据权利要求1或2所述的一种漏电检测电路周期性测试装置，其特征在于，
所述寿命自测主控芯片为具有计时、滤波、比较、逻辑控制、电压钳位、报警及驱动输出功能的单芯片控制器。


5.根据权利要求2所述的一种漏电检测电路周期性测试装置，其特征在于，
还包括定时器、第一触发器、第二触发器和自检通过灯，所述第二脱扣控制元件的第二端连接有第一插接口，所述第二脱扣控制元件的控制端连接有第二插接口，所述第一插接口与第一触发器的第一输入端连接，所述第二插接口与第一触发器第二输入端连接，所述第一触发器的输出端与第二触发器的输入端连接，所述第二触发器的输出端与自检通过灯连接，所述定时器的电源端与寿命自测主控芯片的电源端...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘军，朱建康，宋夏冰，陈海华，鲁斌，
申请(专利权)人：浙江朗威微系统有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33