测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法，该测试主板的上电控制电路包括输入端、输出端、控制端以及开关电路，输入端、输出端以及控制端均与开关电路电连接；输入端用于输入供电电源；控制端用于接收表征测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据检测信号控制开关电路的导通与断开；输出端用于在开关电路导通时向测试主板供电。本发明专利技术能够解决测试主板放置方向错误时，直接上电会烧毁测试主板的问题，只有在测试主板放置方向正确时，才会对测试主板供电，从而防止方向放置错误的误操作所造成的损坏。

【技术实现步骤摘要】
测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法
本专利技术涉及电子
，尤其涉及一种测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法。
技术介绍
电子设备的主板在生产测试环节，需要配合使用测试治具，并且仅当测试主板方向正确地放置在测试治具上，才能够保证测试主板的正常测试。然而，现有的测试主板多为结构上对称分布的正方形或者矩形，放置时即使方向错误，例如，与正确放置方向错位了180°，仍然可以放入测试治具，由此，如果不对测试主板的放置方向进行检测，直接对测试主板上电存在导致测试主板被烧毁的可能。针对上述问题，现有的检测装置大多采用光电传感器对测试主板进行检测，但是该方案灵敏度较低。并且，当测试主板与测试探针平面存在倾角而没有完全放置在测试底座时，光电传感器无法检测出测试主板是否存在异常此外，光电传感器也无法检测出测试主板在测试底座上是否放置方向错误。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中测试主板放置方向错误时，直接上电会损坏测试主板的缺陷，提供一种测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法。本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：第一方面，本专利技术提供一种测试主板的上电控制电路，所述上电控制电路包括：输入端、输出端、控制端以及开关电路；其中，所述输入端、所述输出端以及所述控制端均与所述开关电路电连接；所述输入端用于输入供电电源；所述控制端用于接收表征所述测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据所述检测信号控制所述开关电路的导通与断开；所述输出端用于在所述开关电路导通时向所述测试主板供电。较佳地，所述开关电路包括MOS管以及MOS管控制电路，所述MOS管的漏极与所述上电控制电路的输出端电连接，所述MOS管的源极与所述上电控制电路的输入端电连接，所述MOS管的栅极与所述MOS管控制电路电连接，所述MOS管控制电路用于根据所述输入端以及所述控制端的输入信号控制所述MOS管的导通与断开。较佳地，所述MOS管控制电路包括：第一三极管、第二三极管、第一电阻、第二电阻以及第三电阻；所述第一三极管的基极与所述控制端电连接，所述第一三极管的基极同时连接所述第一电阻的一端；所述第一三极管的集电极与所述第二三极管的基极连接，所述第一三极管的集电极同时连接所述第二电阻的一端；所述第一三极管的发射极接地；所述第二三极管的集电极与所述第三电阻的一端连接，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与MOS管的栅极电连接；所述第一电阻、所述第二电阻以及所述第三电阻的另一端与所述输入端电连接。较佳地，所述第一三极管和所述第二三极管采用NPN型三极管。较佳地，所述MOS管采用PMOS管。较佳地，所述控制端具体用于根据低电平的检测信号控制所述开关电路导通，根据高电平的检测信号控制开关电路断开。第二方面，本专利技术还提供一种测试治具，包括：测试底座以及第一方面所述的测试主板的上电控制电路；所述测试底座包括检测探针，所述检测探针与所述上电控制电路的控制端电连接并用于检测所述测试主板的放置方向是否正确。较佳地，所述测试治具还包括测试电路，所述测试电路与所述测试主板电连接并用于测试上电的所述测试主板。第三方面，本专利技术还提供一种测试系统，包括：测试主板以及第二方面所述的测试治具，所述测试主板的背面开设有与检测探针对应的裸露铜点；其中，测试底座用于放置所述测试主板；所述检测探针与所述裸露铜点接触时，输出表征所述测试主板的放置方向正确的检测信号；所述检测探针与所述裸露铜点未接触时，输出表征所述测试主板的放置方向错误的检测信号。第四方面，本专利技术还提供一种测试方法，应用于第三方面所述的测试系统，所述测试方法包括：在测试底座的表面的第一目标位置处设置检测探针；在测试主板的背面的第二目标位置处形成裸露铜点；其中，所述第二目标位置与所述第一目标位置对应；将所述测试主板放置到所述测试底座上，对所述测试主板的放置方向进行检测。本专利技术的积极进步效果在于：提供一种测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法，采用输入端、输出端、控制端以及开关电路来控制测试主板进行通电或者断电，该控制端用于接收表征测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据检测信号控制开关电路的导通与断开，在测试主板放置方向错误时，有效防止了直接上电对测试主板造成的损坏。附图说明图1为本专利技术实施例1的测试主板的上电控制电路的工作原理示意图。图2为本专利技术实施例1的测试主板的上电控制电路的开关电路的结构示意图。图3为本专利技术实施例2的测试治具的结构示意图。图4为本专利技术实施例3的测试系统的结构示意图。图5为本专利技术实施例4的测试方法的流程图。具体实施方式下面通过实施例的方式进一步说明本专利技术，但并不因此将本专利技术限制在所述的实施例范围之中。实施例1本实施例提供一种测试主板的上电控制电路，参照图1，该上电控制电路包括：输入端101、输出端102、控制端103以及开关电路104；其中，输入端101、输出端102以及控制端103均与开关电路104电连接；输入端101用于输入供电电源；控制端103用于接收表征测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据检测信号控制开关电路104的导通与断开；输出端102用于在开关电路104导通时向测试主板供电。根据本实施例的测试主板的上电控制电路，输入端101可以持续的输入固定的供电电压，也可以为可调控的供电电压，该供电电压的具体电压值是可以根据实际应用自定义设置的。例如，供电电压可以为4.2V，也可以为4.5V。当控制端103接收到表征测试主板方向错误的放置在测试治具底座上的第一检测信号时，控制端103控制开关电路104断开，从而不会向测试主板供电，当控制端103接收到表征测试主板方向正确的放置在测试治具底座上的第二检测信号时，控制端103控制开关电路104导通，以向测试主板供电。需要说明的是，检测信号可以包括第一检测信号以及第二检测信号，例如，第一检测信号表征测试主板放置方向是正确的，第二检测信号表征测试主板放置方向是错误的。图2为开关电路104的一种实施方式的具体电路图，根据图1所示的上电控制电路的工作原理示意图和图2所示的上电控制电路的开关电路的结构示意图中相同的器件，使用相同的附图标记。开关电路104包括MOS管201以及MOS管控制电路202，该MOS管201的漏极与上电控制电路的输出端102电连接，该MOS管201的源极与上电控制电路的输入端101电连接，该MOS管201的栅极与MOS管控制电路202电连接，MOS管控制电路202用于根据输入端101以及控制端103的输入信号控制MOS管201的导通与断开。作为一种可选的实施方式，该MOS管201采用PMOS管。MOS管控制电路202本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试主板的上电控制电路，其特征在于，所述上电控制电路包括：输入端、输出端、控制端以及开关电路；其中，/n所述输入端、所述输出端以及所述控制端均与所述开关电路电连接；/n所述输入端用于输入供电电源；/n所述控制端用于接收表征所述测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据所述检测信号控制所述开关电路的导通与断开；/n所述输出端用于在所述开关电路导通时向所述测试主板供电。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试主板的上电控制电路，其特征在于，所述上电控制电路包括：输入端、输出端、控制端以及开关电路；其中，
所述输入端、所述输出端以及所述控制端均与所述开关电路电连接；
所述输入端用于输入供电电源；
所述控制端用于接收表征所述测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据所述检测信号控制所述开关电路的导通与断开；
所述输出端用于在所述开关电路导通时向所述测试主板供电。


2.如权利要求1所述的测试主板的上电控制电路，其特征在于，所述开关电路包括MOS管以及MOS管控制电路，所述MOS管的漏极与所述上电控制电路的输出端电连接，所述MOS管的源极与所述上电控制电路的输入端电连接，所述MOS管的栅极与所述MOS管控制电路电连接，所述MOS管控制电路用于根据所述输入端以及所述控制端的输入信号控制所述MOS管的导通与断开。


3.如权利要求2所述的测试主板的上电控制电路，其特征在于，所述MOS管控制电路包括：第一三极管、第二三极管、第一电阻、第二电阻以及第三电阻；
所述第一三极管的基极与所述控制端电连接，所述第一三极管的基极同时连接所述第一电阻的一端；所述第一三极管的集电极与所述第二三极管的基极连接，所述第一三极管的集电极同时连接所述第二电阻的一端；所述第一三极管的发射极接地；
所述第二三极管的集电极与所述第三电阻的一端连接，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与MOS管的栅极电连接；
所述第一电阻、所述第二电阻以及所述第三电阻的另一端与所述输入端电连接。


4.如权利要求3所述的测试主板的上电控制电路，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：马洪刚，
申请(专利权)人：芯讯通无线科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31