一种用于大倍率连续变焦摄像系统调试的分划板，属于光学仪器技术领域中涉及的一种分划板。要解决的技术问题是：提供一种用于大倍率连续变焦摄像系统调试的分划板。解决的技术方案，包括玻璃基片、粗刻线、中心点、细刻线；在玻璃基片上，刻有互相垂直的两条细刻线，其交点位于玻璃基片的对称中心上，长度为玻璃基片的半径长度；在对称中心上刻有中心点，其中心与对称中心重合；在玻璃基片上，再刻有互相垂直中间断开的两条粗刻线，其对称中心位于玻璃基片的对称中心上，两条细刻线靠近对称中心，两条中间断开的粗刻线靠近边缘，粗细两段线相接，每段粗刻线的长度为玻璃基片的半径长度的一半，即两条相互垂直的细刻线和相互垂直的粗刻线将玻璃基片分成四等分。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学仪器
中涉及的一种用于大倍率连续变焦摄像 系统调试的分划板。
技术介绍
所谓大倍率连续变焦摄像系统，是指摄像系统的长、短焦距的变化倍 率(变倍)超过十倍以上。对光学系统的调试，大多是通过平行光管进行的。平行光管可以作为 无穷远的目标，提供平行光束，它由光源、分划板和光学系统组成，作为调 试基准，在实验室内，对可见光连续变焦摄像系统的调试离不开平行光管， 置于平行光管物镜焦平面上的分划板的式样起着至关重要的作用。与本专利技术最为接近的已有技术是购买平行光管时通常厂家配带的十字 准线(互相垂直十字叉丝)分划板如图1所示，在一个透明的玻璃基片1上， 刻有黑色十字准线2，通常准线宽度为O.lmm，当变焦摄像系统短焦距(即 小倍率)成像时，如图3，监视器上只能看见基准电"十字"线7。看不清 或几乎没有分划板十字准线，影响调试精度。或者定购准线宽度大的，变焦 摄像系统短焦距成像时能够在监视器上看见分划板十字准线，但在长焦成像 时分划板十字准线要放大十多倍，如图4，刻线就相当粗，不能对准基准电 "十字"线7，影响调试精度。
技术实现思路
3为了克服己有技术存在的缺陷，本专利技术的目的在于能准确调试大倍率连 续变焦摄像系统的长、短焦光轴一致，保证其调试精度，特设计一种新型分 划板。本专利技术要解决的技术问题是提供一种用于大倍率连续变焦摄像 系统调试的分划板。解决技术问题的技术方案，如图2所示，包括玻璃基 片3、粗刻线4、中心点5、细刻线6;在玻璃基片3上，刻有互相垂直的两条细刻线6，两条细刻线6的交点位于玻璃基片3的对称中心上，长度 为玻璃基片3的半径长度；在对称中心上刻有中心点5，使中心点5的中 心与对称中心重合；在玻璃基片3上，再刻有互相垂直中间断开的两条粗 刻线4，其对称中心位于玻璃基片3的对称中心上，两条相互垂直的粗刻 线4与互相垂直的两条细刻线6位置对齐，粗细两段线相接，两条细刻线 6靠近对称中心，两条中间断开的粗刻线4靠近边缘，每段粗刻线4的长 度为玻璃基片3的半径长度的一半，即两条相互垂直的细刻线6和相互垂 直的粗刻线4将玻璃基片3分成四等分。工作原理说明在调试连续变焦摄像系统长、短焦距光轴一致性时， 需要长、短焦距分划板的像都与基准电十字线重合，这就需要与基准电十字 线粗细相当的分划板的像，做到横竖轴都线压线，才看得准，调得精。长焦成像时，视场小，会主要看到中间细刻线6、中心点5及部分粗刻 线4的像，在监视器上可见如图5所示；短焦成像时，视场大，会将长焦时 的像縮小十多倍，这时分划板的像8整体呈现在监视器上，如图6所示，细 刻线6部分几乎看不清了，可看到与准基准电"十字"线7粗细相当的中心 点5和粗刻线4所成的像，由此可容易做到线压线，两十字线重合，对准基准电"十字"线7，使两个十字中心重合，完成对准调试工作。本专利技术的积极效果使其在长、短焦距变化时，监视器上都可看到与 基准电"十字"线7的粗细相当的分划板十字准线的像，可做到准确调试。 附图说明图1是已有技术的分划板结构示意图； 图2是本专利技术的分划板结构示意图3是本专利技术
技术介绍
说明中，细刻线分划板短焦工作时，监视器所见 到的像的示意图4是本专利技术
技术介绍
说明中，粗刻线分划板长焦工作时，监视器所见 到的像的示意图5是本专利技术工作原理说明中长焦工作时，监视器所见到的像的示意图； 图6是本专利技术工作原理说明中短焦工作时，监视器所见到的像的示意图；具体实施方式-本专利技术按图2所示的图形结构实施，制作方法与普通分划板的方法一样，就是在玻璃基片3上刻上黑色图形，可以采用制作分划板的常用方法制版照相，刻蜡酸蚀等方法，细刻线6的宽度一般为0. lmrn，粗刻线4的宽度是 细刻线6的宽度的十倍，为lmm，中心点5的直径与粗刻线4的宽度相同， 刻线深度与普通分划板的一样，这里不作要求，玻璃基片3采用材料K9玻 璃，尺寸大小可根据需要制作。权利要求1. 一种用于大倍率连续变焦摄像系统调试的分划板，包括玻璃基片；其特征在于还包括粗刻线(4)、中心点(5)、细刻线(6)；在玻璃基片(3)上，刻有互相垂直的两条细刻线(6)，两条细刻线(6)的交点位于玻璃基片(3)的对称中心上，长度为玻璃基片(3)的半径长度；在对称中心上刻有中心点(5)，使中心点(5)的中心与对称中心重合；在玻璃基片(3)上，再刻有互相垂直中间断开的两条粗刻线(4)，其对称中心位于玻璃基片(3)的对称中心上，两条相互垂直的粗刻线(4)与互相垂直的两条细刻线(6)位置对齐，粗细两段线相接，两条细刻线(6)靠近对称中心，两条中间断开的粗刻线(4)靠近边缘，每段粗刻线(4)的长度为玻璃基片(3)的半径长度的一半，即两条相互垂直的细刻线(6)和相互垂直的粗刻线(4)将玻璃基片(3)分成四等分。全文摘要一种用于大倍率连续变焦摄像系统调试的分划板，属于光学仪器
中涉及的一种分划板。要解决的技术问题是提供一种用于大倍率连续变焦摄像系统调试的分划板。解决的技术方案，包括玻璃基片、粗刻线、中心点、细刻线；在玻璃基片上，刻有互相垂直的两条细刻线，其交点位于玻璃基片的对称中心上，长度为玻璃基片的半径长度；在对称中心上刻有中心点，其中心与对称中心重合；在玻璃基片上，再刻有互相垂直中间断开的两条粗刻线，其对称中心位于玻璃基片的对称中心上，两条细刻线靠近对称中心，两条中间断开的粗刻线靠近边缘，粗细两段线相接，每段粗刻线的长度为玻璃基片的半径长度的一半，即两条相互垂直的细刻线和相互垂直的粗刻线将玻璃基片分成四等分。文档编号G02B27/32GK101464566SQ200810051550公开日2009年6月24日 申请日期2008年12月9日 优先权日2008年12月9日专利技术者刘家燕 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于大倍率连续变焦摄像系统调试的分划板，包括玻璃基片；其特征在于还包括粗刻线（４）、中心点（５）、细刻线（６）；在玻璃基片（３）上，刻有互相垂直的两条细刻线（６），两条细刻线（６）的交点位于玻璃基片（３）的对称中心上，长度为玻璃基片（３）的半径长度；在对称中心上刻有中心点（５），使中心点（５）的中心与对称中心重合；在玻璃基片（３）上，再刻有互相垂直中间断开的两条粗刻线（４），其对称中心位于玻璃基片（３）的对称中心上，两条相互垂直的粗刻线（４）与互相垂直的两条细刻线（６）位置对齐，粗细两段线相接，两条细刻线（６）靠近对称中心，两条中间断开的粗刻线（４）靠近边缘，每段粗刻线（４）的长度为玻璃基片（３）的半径长度的一半，即两条相互垂直的细刻线（６）和相互垂直的粗刻线（４）将玻璃基片（３）分成四等分。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘家燕，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：82[]
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