【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光路结构,尤其是涉及一种电脑硬盘磁头静态姿态激 光调整校正设备用图像处理光路结构。
技术介绍
测量和调校磁头支架部件的静态姿态是硬盘生产过程中的关键工序, 通过测量和调校使磁头支架部件在硬盘工作时飞行到相应高度时的纵向(Pitch)和横向(Roll)偏角保持正常。但是。现有激光调整校正设备的 激光光路结构只是包括发射激光波束的激光器、将激光波束投射至被调整 校正件——磁头支架部件的表面的反射镜、设置在激光器与反射镜中间将 激光波束聚焦的聚焦透镜。且对激光加工焦点进行调整和校正是采用目视 方式,由调整校正人员观察激光照射后的烧蚀结果或者观察激光器内部用 于观察激光加工位置而提供的红色可见光光束的位置,然后根据偏差进行 调整和校正。其精度和效率都比较低,而且激光对人眼会造成伤害,调整 校正人员存在安全隐患。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是弥补上述现有技术的缺陷,提供一 种精度和效率都比较高且操作维护安全的激光调校设备用图像处理光路结本技术的技术问题采用以下技术方案予以解决。 这种激光调整校正设备用图像处理光路结构,包括发射激光波束的激光器、将激光 ...
【技术保护点】
一种激光调整校正设备用图像处理光路结构,包括发射激光波束的激光器、将激光波束投射至被调整校正件的表面的反射镜、设置在激光器与反射镜中间将激光波束聚焦的聚焦透镜、接收由反射镜反射的被调整校正件的图像光线的CCD摄像头及其配用的光学镜头组,其特征在于: 在所述聚焦透镜与所述反射镜的激光光路中间设有与光路纵向夹角为45°的滤镜,所述激光波束和所述由反射镜反射的被调整校正件的图像光线分别以45°的入射角投射至所述滤镜,所述滤镜将所述激光波束透射至所述反射镜,将所述图像光线从所述激光 光路中分离后以45°的反射角反射至所述光学镜头组。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:周欣,
申请(专利权)人:科瑞自动化技术深圳有限公司,
类型:实用新型
国别省市:94[中国|深圳]
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