光检测器以及使用该光检测器的光学测距装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供光检测器以及使用该光检测器的光学测距装置。光检测器(100)具备：脉冲输出部(20)，以具有规定的脉冲宽度的矩形脉冲(A1)输出来自受光元件(10a)的输出；以及脉冲转换电路(22以及24)，将上述矩形脉冲(A1)转换为将上述矩形脉冲(A1)的上升沿和上述矩形脉冲(A1)的下降沿作为基准的、具有与上述规定的脉冲宽度不同的脉冲宽度的矩形脉冲(C1)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光检测器以及使用该光检测器的光学测距装置
本公开涉及光检测器以及使用该光检测器的光学测距装置。
技术介绍
在光通信或者光雷达等中使用雪崩光电二极管(APD)作为用于检测微弱的光信号的受光元件。若对APD射入光子则生成电子·空穴对，电子和空穴分别在高电场中被加速，而依次如雪崩那样引起碰撞电离并生成新的电子·空穴对。APD的使用模式有使反向偏置电压以小于击穿电压(breakdown电压)动作的线性模式、和使反向偏置电压以击穿电压以上动作的盖革模式。在线性模式下消失(脱离高电场)的电子·空穴对的比例比生成的电子·空穴对的比例大，雪崩现象自然停止。基于雪崩现象的来自APD的输出电流(雪崩电流)与射入光量大致成比例所以能够使用于射入光量的测定。在盖革模式下，即使是单一光子的射入也能够引起雪崩现象。将这样的光电二极管称为单光子光电二极管(SPAD：SinglePhotonAvalancheDiode)。在SPAD中，能够通过使施加电压下降至小于击穿电压来停止雪崩现象。降低施加电压来使雪崩现象停止被称为猝熄。通过与APD串联连接猝熄电阻来实现本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光检测器，具备：/n脉冲输出部，以具有规定的脉冲宽度的矩形脉冲输出来自受光元件的输出；以及/n脉冲转换电路，将上述矩形脉冲转换为将上述矩形脉冲的上升沿和上述矩形脉冲的下降沿作为基准且具有与上述规定的脉冲宽度不同的脉冲宽度的矩形脉冲。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180524 JP 2018-0994191.一种光检测器，具备：
脉冲输出部，以具有规定的脉冲宽度的矩形脉冲输出来自受光元件的输出；以及
脉冲转换电路，将上述矩形脉冲转换为将上述矩形脉冲的上升沿和上述矩形脉冲的下降沿作为基准且具有与上述规定的脉冲宽度不同的脉冲宽度的矩形脉冲。


2.一种光检测器，具备：
阵列，具有多个受光元件；
多个鉴别电路，将分别来自上述多个受光元件的输出信号转换为整形矩形脉冲；以及
加法电路，将从上述多个鉴别电路输出的整形矩形脉冲相加，输出相加得到的加法信号，
各上述鉴别电路具备：
二值化电路，以具有规定的脉冲宽度(tp)的矩形脉冲输出来自对应的上述受光元件的输出信号；以及
脉冲转换电路，通过从上述矩形脉冲的脉冲宽度(tp)缩短差值(tD－tw)来将上述矩形脉冲转换为上述整形矩形脉冲，其中，上述差值(tD－tw)是从上述受光元件的空载时间(tD)减去规定的脉冲宽度(tw)得到的值。


3.根据权利要求2所述的光检测器，其中，
各上述鉴别电路的脉冲转换电路包含：
延迟部，通过使对应的上述矩形脉冲延迟上述差值(tD－tw)而输出输出脉冲；以及
与元件，输出对应的上述矩形脉冲与来自上述延迟部的输出脉冲的逻辑积。


4.一种光检测器，具备：
阵列，具有多个受光元件；
多个鉴别电路，将分别来自上述多个受光元件的输出信号转换为脉冲信号；以及
加法电路，将从上述多个鉴别电路输出的脉冲信号相加，输出相加得到的加法信号，
各上述鉴别电路具备：
二值化电路，以矩形脉冲输出来自对应的上述受光元...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦武广，东谦太，松原弘幸，高井勇，
申请(专利权)人：株式会社电装，
类型：发明
国别省市：日本;JP