颗粒分析仪的表征和分选制造技术

本文提供的方法的一些实施例涉及样品分析和颗粒表征方法。一些此等实施例包括从颗粒分析仪接收有关第一部分实验相关颗粒的测量值。一些实施例还包括至少部分基于所述测量值来生成表示相关颗粒组的树，其中所述树包括至少三个分组。一些实施例还包括至少部分基于所述测量值来生成所述树的第一分组与第二分组之间的相关性度量。一些实施例还包括将颗粒分析仪配置成将实验相关后续颗粒实时归类为所述第一分组，其中所述后续颗粒未包括在所述第一部分颗粒内。一些实施例还包括对所述后续颗粒进行分选。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】颗粒分析仪的表征和分选相关专利申请的交叉引用根据《美国法典》第35章第119节(e)项的规定，本专利申请案主张于2018年4月26日提交的编号为62/663,106的美国临时专利申请案提交日期的优先权；该专利中的内容以引用方式并入本文中。
本专利技术通常涉及自动颗粒评估
，更具体而言，涉及样品分析和颗粒表征方法。
技术介绍
颗粒分析仪(例如，流式细胞仪和扫描式细胞仪)是一种分析工具，其可基于光散射和荧光等电光测量值来表征颗粒。在流式细胞仪中，例如，流体悬浮液中的颗粒(例如分子、与分析物结合的微珠或个别细胞)通过检测区域，在所述区域内，所述颗粒暴露于通常来自一台或更多台激光器的激发光中，并且测定所述颗粒的光散射和荧光特性。颗粒或其组分通常用荧光染料标记以便进行检测。各种不同的颗粒或组分可以通过用光谱特性不同的荧光染料标记来同时加以检测。在一些实施方案中，所述分析仪包括多台光电检测器，适用于待测定的每个散射参数，一台或更多台适用于待检测的每种不同染料。例如，一些实施例包括光谱结构，其中针对每种染料使用一台以上的传感器或检测器。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种计算机实现的方法，其包含：/n受一台或更多台处理设备控制，/n从颗粒分析仪接收有关第一部分实验相关颗粒的测量值；/n至少部分基于所述测量值来生成表示相关颗粒组的树，其中所述树包括至少三个分组；/n至少部分基于所述测量值来生成所述树的第一分组与第二分组之间的相关性度量；以及/n将颗粒分析仪配置成将实验相关后续颗粒归类为所述第一分组，其中所述后续颗粒未包括在所述第一部分颗粒内。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180426 US 62/663,1061.一种计算机实现的方法，其包含：
受一台或更多台处理设备控制，
从颗粒分析仪接收有关第一部分实验相关颗粒的测量值；
至少部分基于所述测量值来生成表示相关颗粒组的树，其中所述树包括至少三个分组；
至少部分基于所述测量值来生成所述树的第一分组与第二分组之间的相关性度量；以及
将颗粒分析仪配置成将实验相关后续颗粒归类为所述第一分组，其中所述后续颗粒未包括在所述第一部分颗粒内。


2.根据权利要求1所述的计算机实现的方法，进一步包含：
接收门信息，所述门信息确定用于所述后续颗粒分类的测量值范围，其中所述第一分组由所述门信息定义。


3.根据权利要求1或2所述的计算机实现的方法，进一步包含：
无监督学习，其中所述第一分组由所述门信息定义。


4.根据权利要求3所述的计算机实现的方法，进一步包含：
接收门信息，所述门信息确定用于所述后续颗粒分类的测量值范围，其中所述第一分组由所述门信息定义；
确定所述无监督学习结果与所述门信息之间的差异与阈值相对应；以及
导致显示识别所述差异的警报。


5.根据前述任一项权利要求所述的计算机实现的方法，进一步包含：
至少部分基于概率密度函数来生成所述第一分组与所述第二分组之间的相关性度量，以表征所述第一分组与所述第二分组中包括的事件之间的事件距离，其中所述概率密度函数优选地包含欧氏距离函数或马氏距离函数。


6.根据权利要求5所述的计算机实现的方法，进一步包含：
接收所述第一分组的包括阈值，其中所述包括阈值相对于所述第一分组确定第一测量值范围，以包括所述第一分组中的未分类颗粒；以及
接收所述第一分组的排除阈值，其中所述排除阈值相对于所述第二分组确定第二测量值范围，以排除所述第一分组中的未分类颗粒；
其中至少部分基...

【专利技术属性】
技术研发人员：约瑟夫·特罗特，巴克利·珀塞尔，
申请(专利权)人：贝克顿·迪金森公司，
类型：发明
国别省市：美国;US