测试结构和测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种测试结构和测试系统，所述测试结构包括：第一连接部，设置于第一电路板上；第二连接部，设置于第二电路板上，与所述第一连接部的位置相对应，以在所述第一电路板和所述第二电路板绑定后，与所述第一连接部连接；第一测试点组，与所述第一连接部或所述第二连接部连接，所述第一测试点组用于连接测试设备，以获取所述第一电路板和所述第二电路板之间的第一绑定状态。通过设置第一测试点组，测试设备可以获取第一连接部与第二连接部连接后的电学性能参数，并可以根据电学性能参数获取第一连接部和第二连接部之间的重合面积，从而根据重合面积准确地获取第一绑定状态，即提供了一种测试结果准确的测试结构。

【技术实现步骤摘要】
测试结构和测试系统
本专利技术涉及显示
，特别是涉及一种测试结构和测试系统。
技术介绍
在显示
中，通常需要通过异方性导电胶(AnisotropicConductiveFilm，ACF)实现柔性印制电路板(FlexiblePrintedCircuitboard，简称FPC)和玻璃、硬质电路板等结构之间的电性连接。进一步地，异方性导电胶通过绑定(bonding)工艺将柔性印制电路板和其他结构连接在一起。绑定工艺的准确度直接决定了显示设备的显示质量和可靠性，因此，需要在绑定工艺后，对绑定结果进行检测，以筛选出绑定不合格的产品，从而及时进行修复，提高绑定质量。目前常用的绑定检测手段是自动光学检测(AutomaticOpticInspection，AOI)或人工检测，自动光学检测是基于光学原理对绑定结果进行检测的手段，因此，若检测的光学环境发生变化或被绑定结构的光学透光率等特性发生变化，极易导致检测结果错误，从而影响显示设备的生产良率，因此，现有的绑定工艺的检测手段已无法满足测试的准确度需求。专利
技术实现思路
基于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试结构，其特征在于，包括：/n第一连接部，设置于第一电路板上；/n第二连接部，设置于第二电路板上，与所述第一连接部的位置相对应，以在所述第一电路板和所述第二电路板绑定后，与所述第一连接部连接；/n第一测试点组，与所述第一连接部或所述第二连接部连接，所述第一测试点组用于连接测试设备，以获取所述第一电路板和所述第二电路板之间的第一绑定状态。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试结构，其特征在于，包括：
第一连接部，设置于第一电路板上；
第二连接部，设置于第二电路板上，与所述第一连接部的位置相对应，以在所述第一电路板和所述第二电路板绑定后，与所述第一连接部连接；
第一测试点组，与所述第一连接部或所述第二连接部连接，所述第一测试点组用于连接测试设备，以获取所述第一电路板和所述第二电路板之间的第一绑定状态。


2.根据权利要求1所述的测试结构，其特征在于，还包括：
第三连接部，设置于第三电路板上，与所述第二连接部的位置相对应，以使所述第三电路板和所述第二电路板绑定后，与所述第二连接部的远离所述第一连接部的一端连接；
第二测试点组，与所述第一连接部、所述第二连接部和所述第三连接部中的一个连接，所述第二测试点组用于连接所述测试设备，以获取所述第三电路板和所述第二电路板之间的第二绑定状态。


3.根据权利要求2所述的测试结构，其特征在于，所述第一连接部包括第一连接线和第二连接线，所述第二连接部用于在所述第一电路板和所述第二电路板绑定后，导通所述第一连接线和所述第二连接线；
所述第一测试点组包括第一测试点和第二测试点，所述第一测试点与所述第一连接线连接，所述第二测试点与所述第二连接线连接，所述第一测试点和第二测试点共同用于连接所述测试设备。


4.根据权利要求3所述的测试结构，其特征在于，所述第一连接部还包括第三连接线，所述第三连接部用于在所述第一电路板和所述第二电路板绑定后，经由所述第二连接部导通所述第二连接线和所述第三连接线；
所述第二测试点组与所述第一测试点组共用所述第二测试点，所述第二测试点组还包括第三测试点，所述第三测试点与所述第三...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨宏琳，
申请(专利权)人：业成光电无锡有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32