可提高准确率的共模滤波器绝缘电阻测试方法技术

一种可提高准确率的共模滤波器绝缘电阻测试方法，其包含下列步骤：准备共模滤波器步骤：准备共模滤波器，该共模滤波器具有一第一待测电感、一第二待测电感。连接比对电阻步骤：该比对电阻连接于共模滤波器的对角点。连接绝缘电阻表步骤：该绝缘电阻表连接于该共模滤波器与该比对电阻连接对角点的另一对角点。测量比对步骤：藉由绝缘电阻表测量出绝缘电阻值。藉由得到绝缘电阻值判定该共模滤波器是否为合格品，不仅可以有效测出漏接及故障的情形，还可达到提高准确率的效果。

【技术实现步骤摘要】
可提高准确率的共模滤波器绝缘电阻测试方法
本专利技术为共模滤波器的绝缘电阻测试方法，尤指一种可提高准确率的共模滤波器绝缘电阻测试方法的方法。
技术介绍
一般用于共模滤波器的绝缘电阻测试方法，请参阅图1所示，其主要设有一共模滤波器1，该共模滤波器1设有一第一待测电感11、一第二待测电感12，该第一待测电感11设有第一端13、第二端14，又该第二待测电感12设有第三端15、第四端16，该第一待测电感11的第二端14与该第二待测电感12的第四端16可经由一绝缘电阻表2测量，藉以达到共模滤波器1的绝缘电阻测量的效能。该一般的绝缘电阻测试方法，其虽可达到测量共模滤波器1的绝缘电阻，而当测量物与绝缘电阻表2连接时，往往因未确实接触连接时，导致绝缘电阻不合格的共模滤波器1误判成正常，导致其产品的测试结果不准确，致使绝缘电阻不合格的共模滤波器1安装于产品上，因而造成设备损坏的不良影响。因此，本案专利技术人提出一种可提高准确率的共模滤波器绝缘电阻测试方法。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种可提高准确率的共模滤波器绝缘电阻测试方法，其包含下列步骤：准备共模滤波器步骤：准备共模滤波器，该共模滤波器具有一第一待测电感、一第二待测电感，该第一待测电感具有一电阻值RL1，且该第一待测电感具有第一端、第二端，该第二待测电感具有一电阻值RL2，且该第二待测电感具有第三端、第四端。连接比对电阻步骤：一比对电阻(ComparisonResistance，简称CR)，该比对电阻连接于共模滤波器的对角点如第一端及第四端，或该比对电阻连接于共模滤波器的另一对角点如第二端及第三端，该比对电阻须大于该第一待测电感的电阻值RL1及该第二待测电感的电阻值RL2。连接绝缘电阻表步骤：一绝缘电阻表，该绝缘电阻表连接于该共模滤波器与该比对电阻连接对角点的另一对角点如第二端及第三端，或该绝缘电阻表连接于第一端及第四端。测量比对步骤：藉由该共模滤波器的第一待测电感与第二待测电感其对角点接设一比对电阻，再藉由另一对角点接设绝缘电阻表，该共模滤波器的第一待测电感与该比对电阻及该第二待测电感形成一串联，藉由绝缘电阻表对串联进行绝缘电阻(InsulationResistance，简称IR)测量，该绝缘电阻值(简称IR值)，可测量出如下述情形。1.IR值≒CR，即该绝缘电阻值近似于该比对电阻值，因CR>>RL1且CR>>RL2，故IR值＝CR+RL1+RL2CR，可判定该共模滤波器为绝缘电阻正常的合格品。2.IR值≒∞，即该绝缘电阻值趋近于无限大，为某部分漏接或该共模滤波器故障判定为不合格品。3.IR值<CR，即该绝缘电阻值小于该比对电阻值，因为共模滤波器绝缘电阻不合格致使产生一无法忽略的绝缘电阻，且该无法忽略的绝缘电阻会与比对电阻形成并联致使IR值＝CR//IR，得到IR值<CR，该共模滤波器判定为不合格品。该本专利技术于该共模滤波器的第一待测电感与第二待测电感接设比对电阻与绝缘电阻表，再通过绝缘电阻表测量出绝缘电阻值判定该共模滤波器是否为合格品，不仅可以有效测出漏接及故障的情形，还达到提高准确率的效果。附图说明图1为现有的共模滤波器的绝缘电阻测试方法。图2为本专利技术的绝缘电阻测试示意图。图2A为本专利技术的绝缘电阻测试另一实施例示意图。图3为本专利技术的方块流程判定示意图。图4为本专利技术的测试示意图。图5为本专利技术的漏接示意图。图6为本专利技术的共模滤波器绝缘电阻不合格测试示意图。附图标记说明：1-共模滤波器；11-第一待测电感；12-第二待测电感；13-第一端；14-第二端；15-第三端；16-第四端；2-绝缘电阻表；3-比对电阻；4-串联；41-并联；5-绝缘电阻；S1-准备共模滤波器步骤；S2-连接比对电阻步骤；S3-连接绝缘电阻表步骤；S4-测量比对步骤；S4a-IR值≒CR；S4b-IR值≒∞；S4c-IR值<CR。具体实施方式请参阅图2、图3所示，本专利技术的主要目的在于提供一种可提高准确率的共模滤波器绝缘电阻测试方法，其包含下列步骤：准备共模滤波器步骤S1：准备共模滤波器1，该共模滤波器1具有一第一待测电感11、一第二待测电感12，该第一待测电感11具有一电阻值RL1，且该第一待测电感11具有第一端13、第二端14，该第二待测电感12具有一电阻值RL2，且该第二待测电感12具有第三端15、第四端16。连接比对电阻步骤S2：一比对电阻3(ComparisonResistance，简称CR)，该比对电阻3连接于共模滤波器1的对角点如第一端13及第四端16，如图2所示，或该比对电阻3连接于共模滤波器1的对角点如第二端14及第三端15，如图2A所示，该比对电阻3须大于该第一待测电感11的电阻值RL1及该第二待测电感12的电阻值RL2。连接绝缘电阻表步骤S3：一绝缘电阻表2，该绝缘电阻表2连接于该共模滤波器1与该比对电阻3连接对角点的另一对角点如第二端14及第三端15，如图2A所示，或该绝缘电阻表2连接于第一端13及第四端16，如图2所示。测量比对步骤S4：请继续参阅图4，藉由该共模滤波器1的第一待测电感11与第二待测电感12其对角点接设一比对电阻3，再藉由另一对角点接设绝缘电阻表2，该共模滤波器1的第一待测电感11与该比对电阻3及该第二待测电感12形成一串联4，藉由绝缘电阻表2对串联4进行绝缘电阻5(InsulationResistance，简称IR)测量，该绝缘电阻5值(简称IR值)，可测量出如下述情形。1.IR值≒CR，即该绝缘电阻值近似于该比对电阻值，因CR>>RL1且CR>>RL2，故IR值＝CR+RL1+RL2CR，可判定该共模滤波器1为绝缘电阻5正常的合格品。2.IR值≒∞，即该绝缘电阻值趋近于无限大，为某部分漏接或该共模滤波器1故障判定为不合格品，如图5所示。3.IR值<CR，即该绝缘电阻值小于该比对电阻值，因为共模滤波器1绝缘电阻5不合格致使产生一无法忽略的绝缘电阻5，如图6所示，且该无法忽略的绝缘电阻5会与比对电阻3形成并联致使IR值＝CR//IR，得到IR值<CR，该共模滤波器1判定为不合格品。该本专利技术于该共模滤波器1的第一待测电感11与第二待测电感12接设比对电阻3与绝缘电阻表2，再通过绝缘电阻表2测量出绝缘电阻值判定该共模滤波器1是否为合格品，不仅可以有效测出漏接及故障的情形，还达到提高准确率的效果。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可提高准确率的共模滤波器绝缘电阻测试方法，其特征在于，包含下列步骤：/n准备共模滤波器步骤：准备一共模滤波器，该共模滤波器具有一第一待测电感、一第二待测电感，该第一待测电感具有第一端、第二端，该第二待测电感具有第三端、第四端；/n连接比对电阻步骤：一比对电阻，该比对电阻连接于该共模滤波器的对角点，该比对电阻须大于该第一待测电感的电阻值及该第二待测电感的电阻值；/n连接绝缘电阻表步骤：一绝缘电阻表，该绝缘电阻表连接于该比对电阻与该共模滤波器的另一对角点；/n测量比对步骤：藉由绝缘电阻表进行绝缘电阻测量，得到一绝缘电阻值。/n

【技术特征摘要】
1.一种可提高准确率的共模滤波器绝缘电阻测试方法，其特征在于，包含下列步骤：
准备共模滤波器步骤：准备一共模滤波器，该共模滤波器具有一第一待测电感、一第二待测电感，该第一待测电感具有第一端、第二端，该第二待测电感具有第三端、第四端；
连接比对电阻步骤：一比对电阻，该比对电阻连接于该共模滤波器的对角点，该比对电阻须大于该第一待测电感的电阻值及该第二待测电感的电阻值；
连接绝缘电阻表步骤：一绝缘电阻表，该绝缘电阻表连接于该比对电阻与该共模滤波器的另一对角点；
测量比对步骤：藉由绝缘电阻表进行绝缘电阻测量，得到一绝缘电阻值。


2.如权利要求1所述的可提高准确率的共模滤波器绝缘电阻测试方法，其特征在于，该连接比对电阻步骤连接于该共模滤波器的对角点的第二端和第三端，且该连接绝缘电阻表...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶秀发，陈品榆，吕航军，杨雅雯，黄世凯，梁泓智，许玉婷，吴妍女匀，
申请(专利权)人：美磊电子科技昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32