一种用于检测零件表面缺陷的光源成像系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于检测零件表面缺陷的光源成像系统，包括用于承载并带动待检测零件旋转的旋转平台、若干光源、第一图像传感器和第二图像传感器；若干所述光源环绕设置在所述旋转平台周围，若干所述光源的发光面均朝向所述旋转平台；所述第一图像传感器设置在任意一个所述光源的顶部，以采集所述待检测零件的侧视图；所述第二图像传感器设置在所述旋转平台的正上方，以采集所述待检测零件的俯视图。本发明专利技术，在应用到反光复杂的零件的场景中，能够有效的凸显待检测零件的表面缺陷，从而使得图像传感器采集到高品质的图像，从而便于对反光复杂的零件进行表面缺陷检测。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测零件表面缺陷的光源成像系统
本专利技术涉及机器视觉
，特别涉及一种用于检测零件表面缺陷的光源成像系统。
技术介绍
当今社会随着科技发展，机械自动化在制造业中起着举足轻重的作用。其中机器视觉越来越多地运用于产品质量监控中。例如在流水线生产某零件后，为保证产品质量，出场工件不存在表面瑕疵，生产商可以在最后一个工位使用机器视觉进行质检。然而，现有技术中用于机器视觉的光源成像系统，只针对表面规则(通常为平面或尺寸、结构固定型面)、瑕疵特征明显、瑕疵出现位置分布单一的零件。对于结构复杂、缺陷种类繁多、反光复杂的零件，在进行图像获取时，阴影与反光会引起附加噪声，导致获取的图片质量低，从而增加检测难度或直接阻碍检测。因此，现有技术中亟需一种能够用于检测复杂形貌的反光零件表面瑕疵的光源成像系统，用于检测复杂形貌的反光零件表面瑕疵。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术可以解决现有成像系统，无法检测复杂形貌的反光零件表面瑕疵的难题。(二)技术方案为了实现上述目的，本专利技术采用以下技本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测零件表面缺陷的光源成像系统，包括用于承载并带动待检测零件(5)旋转的旋转平台(1)、若干光源(2)、第一图像传感器(3)和第二图像传感器(4)，其特征在于：/n若干所述光源(2)环绕设置在所述旋转平台(1)周围，若干所述光源(2)的发光面均朝向所述旋转平台；/n所述第一图像传感器(3)设置在任意一个所述光源(2)的顶部，以采集所述待检测零件(5)的侧视图；/n所述第二图像传感器(4)设置在所述旋转平台(1)的正上方，以采集所述待检测零件(5)的俯视图。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于检测零件表面缺陷的光源成像系统，包括用于承载并带动待检测零件(5)旋转的旋转平台(1)、若干光源(2)、第一图像传感器(3)和第二图像传感器(4)，其特征在于：
若干所述光源(2)环绕设置在所述旋转平台(1)周围，若干所述光源(2)的发光面均朝向所述旋转平台；
所述第一图像传感器(3)设置在任意一个所述光源(2)的顶部，以采集所述待检测零件(5)的侧视图；
所述第二图像传感器(4)设置在所述旋转平台(1)的正上方，以采集所述待检测零件(5)的俯视图。


2.根据权利要求1所述的一种用于检测零件表面缺陷的光源成像系统，其特征在于：所述旋转平台(1)包括驱动装置(101)、转轴(102)和平面载体(103)；所述转轴(102)安装于所述驱动装置(101)的输出端，以在所述驱动装置(101)的驱动下旋转；所述平面载体(103)的中心安装于所述转轴(102)的上端，所述待检测零件(5)设置于所述平面载体(103)的上部中心。


3.根据权利要求1所述的一种用于检测零件表面缺陷的光源成像系统，其特征在于：若干所述光源(2)包括若干上层光源(201)和若干下层光源(202)；若干所述上层光源(201)一一对应设置在若干所述下层光源(202)的上部，若干所述上层光源(201)的下壁与若干所述下层光源(202)的上壁相贴合；所述下层光源(202)的发光面和与其对应的所述上层光源(201)的发光面位于同一平面。


4.根据权利要求3所述的一种用于检测零件表面缺陷的光源成像系统，其特征在于：所...

【专利技术属性】
技术研发人员：贡亮，郑慧峰，孙亚滨，
申请(专利权)人：无锡文声智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32