一种碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法技术

本发明专利技术涉及一种碱熔‑原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，该方法采用碱对样品进行碱熔处理，然后加入浓磷酸进行水浴处理。本发明专利技术提供的碱熔‑原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，处理分取溶液时水浴操作简单，易于控制，同时节约了成本，提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法
本专利技术涉及环境工程
，尤其涉及一种碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法。
技术介绍
在多目标地球化学配套方案中锗一般采用硝酸-氢氟酸-高氯酸熔矿，磷酸浸取后原子荧光测定，或者硝酸-氢氟酸-高氯酸-磷酸熔矿，质谱测定，酸溶溶矿时间长，酸气污染大，操作比较繁琐。目前锗也可采用碱熔，后加树脂或电热板浓缩处理，树脂处理较繁琐，电热板不易控制。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，该方法操作简单，易于控制，同时节约了成本，提高了工作效率。本专利技术实施例提供一种碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，采用碱对样品进行碱熔处理，然后加入浓磷酸进行水浴反应。该方法处理分取溶液时水浴操作简单，易于控制，同时节约了成本，提高了工作效率。而且在多目标地球化学配套方案中钨、钼、氟的前处理均可采用碱熔法，与锗可同时测出。在一些优选实施例中，所述碱为氢氧化钠和过氧化钠。在一些优选实施例中，所述碱与所述样品的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，其特征在于，采用碱对样品进行碱熔处理，然后加入浓磷酸进行水浴处理。/n

【技术特征摘要】
1.一种碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，其特征在于，采用碱对样品进行碱熔处理，然后加入浓磷酸进行水浴处理。


2.根据权利要求1所述的碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，其特征在于，所述碱为氢氧化钠和过氧化钠。


3.根据权利要求2所述的碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，其特征在于，所述碱与所述样品的质量比为8.5～9.5:1。


4.根据权利要求2所述的碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，其特征在于，所述氢氧化钠和所述过氧化钠的质量比为7～8.5:1。


5.根据权利要求1所述的碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，其特征在于，所述水浴处理的时间为20～60min，所述水浴处理的温度为90～100℃。


6.根据权利要求1任一项所述的碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，其特征在于，所述碱熔处理中，先升温至442～455℃，保温23～34min，再继续升温至695～705℃，保温9～11min。


7.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：王艳超，刘金龙，张成信，
申请(专利权)人：中化地质矿山总局地质研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11