一种检验芯片功能是否正常的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种检验芯片功能是否正常的检测装置，所述检测装置包括:位于待测芯片和两个USB连接器之间的以GPIO设置的一开关；所述的GPIO开关通过数据线将待测芯片的两个引脚分别与两个USB连接器连接；所述待测芯片的两个引脚分别为USB_D+和USB_D‑两根差分线；所述的两个USB连接器分别为连接PC的第一USB连接器和连接U盘的第二USB连接器；所述两个USB连接器分别各有两个引脚引出的两根数据线能够与所述GPIO开关中的第一位置或第二位置相连接，通过控制GPIO开关决定连通两个USB连接器中的一个；当开关打到第一位置时，连通待测芯片与第一USB连接器进而通过数据线与PC连接，当开关打到第二位置时，连通待测芯片与第二USB连接器进而与U盘连接。本实用新型专利技术的结构简单。

【技术实现步骤摘要】
一种检验芯片功能是否正常的检测装置
本技术涉及芯片检测领域，特别涉及一种检验芯片功能是否正常的检测装置。
技术介绍
随着科技的发展，芯片的应用越来越广泛。在芯片制作过程中，每一个芯片在出厂前都要进行功能测试,其中芯片要放到系统功能测试板进行功能测试，测试芯片的USB功能时，通常是将USB_D+和USB_D-连接到USBconnector，再通过USBcable与PC机连接，PC机作为host(主设备)，芯片作为slave(外设)，测试芯片和PC机通讯是否正常来验证芯片的USB功能。如图1所示。然而，USBOTG设备不管是做host还是slave，传输数据都是用USB_D+和USB_D-这两根差分数据线，上述测试方案是芯片接PC机测试，PC机是host，芯片是slave，测试芯片和PC机通讯，来验证芯片作为slave的功能是否正常。而对于支持USBOTG功能的芯片，还要测试芯片的host功能，需要接一个U盘作为slave，但是芯片测试在系统功能测试机上是自动化测试，不可能人工手动去插入U盘测试，这就导致芯片作为host与slave本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检验芯片功能是否正常的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括:两个USB连接器；位于待测芯片和两个USB连接器之间设置为GPIO的一开关；所述的开关通过数据线将待测芯片的两个引脚分别与两个USB连接器连接；所述待测芯片的两个引脚分别为USB_D+和USB_D-两根差分线；所述的两个USB连接器分别为连接PC的第一USB连接器和连接U盘的第二USB连接器；所述两个USB连接器分别各有两个引脚引出的两根数据线能够与所述GPIO开关中的第一位置或第二位置相连接，通过控制所述的开关决定连通两个USB连接器中的一个；当开关打到第一位置时，连通待测芯片与第一USB连接器进而通过数据线与PC连接，当...

【技术特征摘要】
1.一种检验芯片功能是否正常的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括:两个USB连接器；位于待测芯片和两个USB连接器之间设置为GPIO的一开关；所述的开关通过数据线将待测芯片的两个引脚分别与两个USB连接器连接；所述待测芯片的两个引脚分别为USB_D+和USB_D-两根差分线；所述的两个USB连接器分别为连接PC的第一USB连接器和连接U盘的第二USB连接器；所述两个USB连接器分别各有两个引脚引出的两根数据线能够与所述GPIO开关中的第一位置或第二位置相连接，通过控制所述的开关决定连通两个USB连接器中的一个；当开关打到第一位置时，连通待测芯片与第一USB连接器进而通过数据线与PC连接，当开关打到第二位置时，连通待测芯片与第二USB连接器进而与U盘连接。


2.根据权利要求1所述的一种检验芯片功能是否正常的检测装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：任科飞，
申请(专利权)人：北京君正集成电路股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11