【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种光学器件，尤其是指一种消除读数视差的光学器件。技术背景在测量读数时，为了消除视差带来的读数误差，通常要将指标刻线与读数 刻线尽可能的重合。若受条件限制，指标与读数刻线之间有较大间隙时，随着 人眼观察位置的不同将造成读数的差异。为此需要采用各种手段消除读数的视 差，以保证测量的准确性。
技术实现思路
本技术的目的在于设计一种消除读数视差的光学器件，采用一个单一 的简单零件即可消除读数时的视差。按照本技术提供的技术方案，所述消除读数视差的光学器件包括光学 底平面与光学后平面及光学上表面，其特征是在光学底平面上设置指标刻线， 在光学后平面上设置校准刻线；光学底平面与光学后平面相交，光学上表面与 光学后平面相交，指标刻线与校准刻线相交。所述指标刻线与校准刻线均为直线，并且指标刻线及校准刻线分别与光学 底平面和光学后平面的交线垂直相交。光学底平面与光学后平面垂直相交。所 述光学上表面为倾斜的表面，光学上表面与光学后平面相交的一侧高于光学上 表面的另一侧。或者，所述光学上表面为倾斜的光学球面，光学球面与光学后 平面相交的一侧高于光学球面的另一侧。本技术的优点是采用单一零件结构紧凑简单，可靠性好，读数清晰 准确。附图说明图l为本技术的立体图。图2为本技术的另一个方向的立体图。具体实施方式如图所示所述消除读数视差的光学器件包括光学底平面2与光学后平面3及光学上表面，在光学底平面2上设置指标刻线4,在光学后平面3上设置校准 刻线5;光学底平面2与光学后平面3相交，光学上表面与光学后平面3相交， 指标刻线4与校准刻线5相交。一种比较好的方案是指标刻线4与校准...
【技术保护点】
一种消除读数视差的光学器件，包括光学底平面（２）与光学后平面（３）及光学上表面，其特征是：在光学底平面（２）上设置指标刻线（４），在光学后平面（３）上设置校准刻线（５）；光学底平面（２）与光学后平面（３）相交，光学上表面与光学后平面（３）相交，指标刻线（４）与校准刻线（５）相交。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：徐毅刚，
申请(专利权)人：无锡市星迪仪器有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]
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