相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质制造方法及图纸

一种相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质，所述方法包括：计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值。上述方案能够降低对相位信号进行升采样时存在的信号失真，减少发射功率谱带外杂散，提升发射信号质量。

【技术实现步骤摘要】
相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质
本专利技术涉及无线通信
，尤其涉及一种相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质。
技术介绍
极性(Polar)发射系统在将复信号转换为幅度信号和相位信号之后，由于相位信号的非带限特性，使用常规升采样和线性插值方法对相位信号进行处理时，会导致信号失真，发射功率谱恶化。
技术实现思路
本专利技术实施例解决的是对相位信号进行升采样时存在信号失真较大的技术问题。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种相位升采样方法，包括：计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值。可选的，所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述当前采样点之本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种相位升采样方法，其特征在于，包括：/n计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；/n当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；/n根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值。/n

【技术特征摘要】
1.一种相位升采样方法，其特征在于，包括：
计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；
当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；
根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值。


2.如权利要求1所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：
当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；
获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；
根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定所述第一多项式系数。


3.如权利要求1所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：
当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；
获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；
根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定所述第一多项式系数。


4.如权利要求1所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点被划分为第一子集与第二子集，且所述第一子集与所述第二子集无交集，所述第一子集与所述前一采样点相邻，所述第二子集与所述当前采样点相邻；所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：
当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；
获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值；
根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定第一子多项式系数；
获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；
根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定第二子多项式系数。


5.如权利要求4所述的相位升采样方法，其特征在于，所述根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值，包括：
根据所述第一子多项式系数与所述第一多项式模型，构建第一子多项式；
根据所述第二子多项式系数与所述第一多项式模型，构建第二子多项式；
采用所述第一子多项式计算所述第一子集中各升采样点的相位值，采用所述第二子多项式计算所述第二子集中各升采样点的相位值。


6.如权利要求1所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点被划分为第一子集、第二子集与第三子集，且所述第一子集、所述第二子集、所述第三子集两两之间无交集，所述第一子集与所述前一采样点相邻，所述第二子集与所述当前采样点相邻，所述第三子集位于所述第一子集与所述第二子集之间；所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：
当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；
获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；
根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定第一子多项式系数；获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值；
根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定第二子多项式系数。


7.如权利要求6所述的相位升采样方法，其特征在于，所述根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第...

【专利技术属性】
技术研发人员：栾亦夫，李开，罗丽云，
申请(专利权)人：锐迪科创微电子北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11