【技术实现步骤摘要】
一种基于高光谱的叶片无损检测装置
本专利技术属于高光谱检测领域，特别涉及一种基于线光源、推扫式成像光谱仪，以及精密位移台的高光谱无损检测叶片的分析装置及方法。
技术介绍
高光谱图像包含了丰富的图像信息及光谱信息，通过高光谱技术可以实现无损叶片的光谱分析和图像处理，因此在农业食品检测等领域得到了广泛应用。成像光谱仪，在20世纪80年代由美国喷气推进实验室提出，其在光谱仪的基础上，加入了成像技术，改变了传统探测仪器只能获取被测目标单一信息的缺点，可以得到物体的光谱信息和空间分布信息。按其扫描方式不同，成像光谱仪可以分为摆扫式，推扫式，凝视型三种。摆扫式成像光谱仪在x方向，用机械结构完成扫描，在y轴上，利用装置的移动完成扫描，瞬时视场角较小，容易获得高质量的图像，但是机械装置比较笨重。凝视型成像光谱仪，一般利用声光可调滤波片或者渐变滤波片来分光，可以同时进行二维视场扫描，结构简单，但是不能同时提取空间信息和光谱信息，其空间分辨率和光谱分辨率也有限。推扫式成像光谱仪，一般由狭缝、准直透镜、分光模块、聚焦透镜，消高阶衍射滤光片...
【技术保护点】
1.一种基于高光谱的叶片无损检测装置，其特征在于：包括光源(1)、物镜或者透镜(2)、位移台(3)、滤波片(5)，聚焦透镜(6)、成像光谱仪(7),待测样品(4)放置在所述的位移台(3)上，光源(1)发出的光依次通过物镜或者透镜(2)、位移台(3)、待测样品(4),待测样品(4)辐射的光通过滤波片(5)，聚焦透镜(6)进入成像光谱仪(7)中。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于高光谱的叶片无损检测装置，其特征在于：包括光源(1)、物镜或者透镜(2)、位移台(3)、滤波片(5)，聚焦透镜(6)、成像光谱仪(7),待测样品(4)放置在所述的位移台(3)上，光源(1)发出的光依次通过物镜或者透镜(2)、位移台(3)、待测样品(4),待测样品(4)辐射的光通过滤波片(5)，聚焦透镜(6)进入成像光谱仪(7)中。
2.根据权利要求1所述的一种基于高光谱的叶片无损检测装置，其特征在于：光源(1)为宽谱光源或是激光器。
3.根据权利要求1所述的一种基于高光谱的叶片无损检测装置，其特征在于：还包括驱动控制器(9)与位移台(3)相连驱动位移台(3)移动。
4.一种使用权利要求1所述的一种基于高光谱的叶片无损检测装置的检测方法，其特征在于按照如下步骤进行：1)将光谱带的个数*面阵相机横向像素点的个数*步进的步数的数据立方转变为(面阵相机横向像素点的个数*步进的步数的数据)*光谱带的个数二维矩阵；2)对所述的步骤1)中的二维矩阵进行主成分分析法分解；3)根据主成分分析法中的载荷矩阵判断判断异常组织的光谱形状，根据对应相应主成分的空间分布可以辅助判断异常组织的空间形状。
5.一种基于高光谱的叶片无损检测装置，其特征在于：包括光源(1)、位移台(3)、滤波片(5)，聚焦透镜(6)、成像光谱仪(7)；还包括二向色镜(10)、透镜(11)；所述的光源(1)位于成像光谱仪的侧面设置，发出的光束经过二向色镜(10)反射，然后经过透镜(11)聚焦到待测样...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁晓辉，李东野，
申请(专利权)人：嘉兴古奥基因科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。