数码显微镜匀光罩制造技术

本实用新型专利技术涉及显微镜技术领域，且公开了数码显微镜匀光罩，包括匀光罩上盖、匀光罩底座和透明罩，所述匀光罩底座位于所述匀光罩上盖的内部，所述匀光罩上盖的顶部开设有通孔，且通孔处设置有与数码相机镜筒旋转卡住的卡位，所述匀光罩底座的顶部延伸至所述通孔的内部，所述匀光罩底座的边缘处与匀光罩上盖的内壁之间设有定位机构，所述透明罩位于所述匀光罩上盖的下方，所述透明罩的顶部与匀光罩上盖的底部固定安装连接。本实用新型专利技术能有效解决因观测物体表面比较光滑的造成的反光、光晕、眩光问题，使入射光经由数码显微镜匀光罩后分布更均匀，更柔和以达到最佳观测效果。

【技术实现步骤摘要】
数码显微镜匀光罩
本技术涉及数码显微镜
，尤其涉及数码显微镜匀光罩。
技术介绍
数码显微镜又叫视频显微镜，它是将显微镜看到的实物图像通过数模转换，使其成像在显微镜自带的屏幕上或计算机上，主要用于工业电路板检测、钟表维修、珠宝鉴定、教研工具、肤质检测和印刷校验等领域。现有的数码显微镜在观测物体时，由于物体表面比较光滑的容易造成反光、光晕、眩光，严重影响观测效果。为此，本技术提出了数码显微镜匀光罩。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中数码显微镜在观测物体时，由于物体表面比较光滑的容易造成反光、光晕、眩光，严重影响观测效果的问题，而提出的数码显微镜匀光罩。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：数码显微镜匀光罩，包括匀光罩上盖、匀光罩底座和透明罩，所述匀光罩底座位于所述匀光罩上盖的内部，所述匀光罩上盖的顶部开设有通孔，且通孔处设置有与数码相机镜筒旋转卡住的卡位，所述匀光罩底座的顶部延伸至所述通孔的内部，所述匀光罩底座的边缘处与匀光罩上盖的内壁之间设有定位机构，所述透明罩位于所述匀光罩上盖的下方，所述透明罩的顶部与匀光罩上盖的底部固定安装连接。优选的，所述定位机构包括包括定位柱，所述定位柱呈环绕均匀分布固定设置于所述匀光罩底座的边缘处，所述匀光罩上盖的内壁开设有与定位柱相配合的定位孔。优选的，所述定位柱与匀光罩底座之间采用一体成型设置，且定位柱的数目为三个。优选的，所述透明罩的顶部开口处设置有第一插接部位，所述匀光罩上盖的底部开口处设置有第二插接部位，所述第一插接部位和第二插接部位之间过盈配合设置。优选的，所述匀光罩上盖的内侧斜面采用磨砂工艺处理。与现有技术相比，本技术提供了数码显微镜匀光罩，具备以下有益效果：1、该数码显微镜匀光罩，通过设有的匀光罩上盖、匀光罩底座和透明罩，可通过旋转使数码显微镜匀光罩的匀光罩上盖处的卡位卡住倒扣在数码显微镜镜筒，防止数码显微镜匀光罩掉落，入射光经由匀光罩上盖和匀光罩底座之间的间隙再经匀光罩底座反射到匀光罩上盖内侧斜面部分，数码显微镜匀光罩将入射光进行折射和漫反射处理后能有效解决因观测物体表面比较光滑的造成的反光、光晕、眩光问题，使入射光经由数码显微镜匀光罩后分布更均匀，更柔和以达到最佳观测效果。该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本技术能有效解决因观测物体表面比较光滑的造成的反光、光晕、眩光问题，使入射光经由数码显微镜匀光罩后分布更均匀，更柔和以达到最佳观测效果。附图说明图1为本技术提出的数码显微镜匀光罩的爆炸图；图2为本技术提出的数码显微镜匀光罩的结构示意图；图3为本技术提出的数码显微镜匀光罩的配合图。图中：1匀光罩上盖、2匀光罩底座、3透明罩、4定位柱、5第一插接部位、6第二插接部位、7卡位。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。参照图1-3，数码显微镜匀光罩，包括匀光罩上盖1、匀光罩底座2和透明罩3，匀光罩底座2位于匀光罩上盖1的内部，匀光罩上盖1的顶部开设有通孔，且通孔处设置有与数码相机镜筒旋转卡住的卡位7，可通过旋转使数码显微镜匀光罩的匀光罩上盖1处的卡位7卡住倒扣在数码显微镜镜筒，匀光罩底座2的顶部延伸至通孔的内部，匀光罩底座2的边缘处与匀光罩上盖1的内壁之间设有定位机构，透明罩3位于匀光罩上盖1的下方，透明罩3的顶部与匀光罩上盖1的底部固定安装连接。定位机构包括包括定位柱4，定位柱4呈环绕均匀分布固定设置于匀光罩底座2的边缘处，匀光罩上盖1的内壁开设有与定位柱4相配合的定位孔(图中未示出)，因此此处为现有的技术，本领域技术人员应当知晓，定位柱4与匀光罩底座2之间采用一体成型设置，且定位柱4的数目为三个。透明罩3的顶部开口处设置有第一插接部位5，匀光罩上盖1的底部开口处设置有第二插接部位6，第一插接部位5和第二插接部位6之间过盈配合设置。匀光罩上盖1的内侧斜面采用磨砂工艺处理，能够使入射光产生漫反射照射在观测物上。本技术中，使用时，数码显微镜镜筒处安装有光学镜头和led光源，数码显微镜匀光罩安装在数码显微镜镜筒底部位置，可通过旋转使数码显微镜匀光罩的匀光罩上盖1处的卡位7卡住倒扣在数码显微镜镜筒，防止数码显微镜匀光罩掉落，入射光经由匀光罩上盖1和匀光罩底座2之间的间隙再经匀光罩底座2反射到匀光罩上盖1内侧斜面部分，由于匀光罩上盖1内侧斜面经过磨砂工艺处理，使入射光产生漫反射照射在观测物上，另透明罩3可通过外部部分光源，在数码显微镜匀光罩将观测物罩住的时候仍然可以对观测物进行观测，数码显微镜匀光罩将入射光进行折射和漫反射处理后，能有效解决因观测物体表面比较光滑的造成的反光、光晕、眩光问题，使入射光经由数码显微镜匀光罩后分布更均匀，更柔和以达到最佳观测效果。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.数码显微镜匀光罩，包括匀光罩上盖(1)、匀光罩底座(2)和透明罩(3)，其特征在于，所述匀光罩底座(2)位于所述匀光罩上盖(1)的内部，所述匀光罩上盖(1)的顶部开设有通孔，且通孔处设置有与数码相机镜筒旋转卡住的卡位(7)，所述匀光罩底座(2)的顶部延伸至所述通孔的内部，所述匀光罩底座(2)的边缘处与匀光罩上盖(1)的内壁之间设有定位机构，所述透明罩(3)位于所述匀光罩上盖(1)的下方，所述透明罩(3)的顶部与匀光罩上盖(1)的底部固定安装连接。/n

【技术特征摘要】
1.数码显微镜匀光罩，包括匀光罩上盖(1)、匀光罩底座(2)和透明罩(3)，其特征在于，所述匀光罩底座(2)位于所述匀光罩上盖(1)的内部，所述匀光罩上盖(1)的顶部开设有通孔，且通孔处设置有与数码相机镜筒旋转卡住的卡位(7)，所述匀光罩底座(2)的顶部延伸至所述通孔的内部，所述匀光罩底座(2)的边缘处与匀光罩上盖(1)的内壁之间设有定位机构，所述透明罩(3)位于所述匀光罩上盖(1)的下方，所述透明罩(3)的顶部与匀光罩上盖(1)的底部固定安装连接。


2.根据权利要求1所述的数码显微镜匀光罩，其特征在于，所述定位机构包括定位柱(4)，所述定位柱(4)呈环绕均匀分布固定设置于所述匀光罩底座...

【专利技术属性】
技术研发人员：王善林，
申请(专利权)人：深圳市海威讯电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44