检测判级方法技术

一种检测判级方法，其是用以检测并判级一光学元件，且包括接收一光学仪器测量光学元件所输出的一光学数据、依据光学数据产生一检测数据、比较检测数据与一预设的标准数据以产生一判级数据、以及储存检测数据及判级数据。本发明专利技术亦揭露一种记录让计算机实施上述方法的程序的记录媒体。本发明专利技术的检测判级方法直接透过数据接口接收光学元件的光学数据，所以能够利用自动化方式来检测并判级光学元件，以减少人为操作所导致的时间浪费及人为疏失。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测判级方法及记录媒体，特别关于一种用以检测并判级一光学元件的检测判级方法及记录媒体。在光学元件制造完成之后，通常必须利用一光学仪器来测量光学元件的光学性质，并透过光学检测判级装置或系统来检测及判级所制得的光学元件，然后才能够顺利进行光学元件的储存管理等程序。在现有的光学元件检测判级过程中，通常是利用人工方式来操作仪器，然后利用手抄方式来记录光学元件的检测结果。然而，利用人工来操作仪器及记录数据不但耗费时间过长，而且还会因为人的因素而增加了出错的机率。因此，如何能够减少人为操作浪费的时间及出错的机率，实是当前光电技术的重要课题之一。为达上述目的，依本专利技术的检测判级方法包括接收一光学仪器测量一光学元件所输出的一光学数据、依据光学数据产生一检测数据、比较检测数据与一预设的标准数据以产生一判级数据、以及储存检测数据及判级数据。在本专利技术中，光学数据自光学仪器并透过一数据接口被接收。如上所述，由于依本专利技术的检测判级方法直接透过数据接口接收光学元件的光学数据，所以能够利用自动化方式来检测并判级光学元件，以减少人为操作所导致的时间浪费及人为疏失。附图说明图1为一流程图，显示依本专利技术较佳实施例的检测判级方法的流程图；图2为一示意图，显示光学仪器测量出光学元件的光谱图；图3为一流程图，显示在本专利技术较佳实施例的检测判级方法中，依据光学数据产生pass band数据的流程图；图4为一流程图，显示在本专利技术较佳实施例的检测判级方法中，比较检测数据与预设的标准数据以产生判级数据的流程图；图5为一流程图，显示依本专利技术另一较佳实施例的检测判级方法的流程图。图中符号说明1 检测判级方法101～104本专利技术较佳实施例的检测判级方法的流程2 检测判级方法201～206本专利技术另一较佳实施例的检测判级方法的流程31～36 程序102的流程41a～45 程序103的流程首先，程序101接收一光学仪器测量一光学元件所输出的一光学数据。在本实施例中，光学仪器可以是一光谱仪，而光学元件可以是薄膜滤光镜、高密度多任务分合器等光学产品。因此，当光学元件置于光学仪器中进行光谱扫描分析时，光学仪器能够测量出光学元件的一些光学性质，例如图2所示的光谱图中每一点的波长值与level值，此即为前述的光学数据。另外，在本实施例中，程序101可以透过一GPIB(general-purpose instrument bus)接口、并列数据接口、串行数据接口(如USB接口)、可编程规划周边接口(programmable peripheralinterface)、单芯片微电脑控制IC(如8051、8048等)、IEEE接口(如IEEE488.2、IEEE1394)等自光学仪器接收光学数据。在程序102中，接着依据所接收到的光学数据产生一检测数据。凡本领域技术人员都了解，光学数据显示光学元件在不同波长下的光学性质(如level值)，而检测数据是为了方便使用者快速了解光学元件的光学性质的一些特定数据，例如中心波长(λc)、pass band、stopband、峰值(peak)等等。以下举例说明程序102的流程。如图3所示，在本实施例中，依据光学数据产生pass band数据的流程包括以下多个步骤。首先步骤31分析光谱图(如图2所示)以取得一峰值波长。接着在步骤32中取得于光谱图中单次送出数据的一间距波长。然后分别进行步骤33a～35a以及33b～35b，以计算得到测量波长(+)以及测量波长(-)。详言之，步骤33a是计算峰值波长与间距波长之和，步骤34a从光谱图中取得峰值波长与间距波长之和所对应的level值，步骤35a判断步骤34a所取得的level值是否大于所需的范围，而当level值未大于所需的范围时，重复进行步骤33a～35a，当level值大于所需的范围时，则输出峰值波长与间距波长之和以进行步骤36，从光谱图中取得与峰值波长与间距波长之和相对应的level值；另外，步骤33b是计算峰值波长与间距波长之差，步骤34b从光谱图中取得峰值波长与间距波长之差所对应的level值，步骤35b判断步骤34b所取得的level值是否大于所需的范围，而当level值未大于所需的范围时，重复进行步骤33b～35b，当level值大于所需的范围时，则输出峰值波长与间距波长之差以进行步骤36。最后，步骤36将步骤33a～35a所得的和减去步骤33b～35b所得的差，而所计算求得的值即为光学元件的pass band。凡本领域技术人员应当了解，上述的步骤同样能够应用于其它检测数据的取得。请再参考图1所示，程序103比较检测数据与一预设的标准数据，以便产生一判级数据。在本实施例中，标准数据乃是厂商依据所需的光学元件的部分特性所制定出来的标准值，举例而言，标准数据可以规范所需光学元件的中心波长的标准值为1562.8nm，且其pass band为0.5nm等。需注意的是，标准数据所规范的标准值可以是光学元件的任意一种特性。而由于检测数据可以是中心波长、pass band、stop band、峰值等，因此，判级数据是相对地可以是中心波长、pass band、stop band、峰值等数据的判级结果。此外，程序103还可以对检测数据的平坦度进行分析判级，以便判断光学元件的光学特性是否合乎平坦度的标准。以下举例说明程序103的流程。如图4所示，在本实施例中，比较检测数据与预设的标准数据以产生判级数据的流程包括以下多个步骤。首先分别进行步骤41a～42a、步骤41b～42b、步骤41c～42c以及步骤41d～42d，以分别取得检测数据中的峰值、中心波长、pass band以及测量平坦度与标准数据中的峰值、中心波长、pass band以及平坦度的标准值。接着步骤43分别判断检测数据中的峰值是否合乎标准数据中的峰值、检测数据中的中心波长是否合乎标准数据中的中心波长、检测数据中的pass band是否合乎标准数据中的pass band、以及测得的平坦度是否合乎平坦度的标准值。而当步骤43的判断结果皆为通过(pass)时，进行步骤44以便为所检测的光学元件产生一良品的判级数据；另外，当步骤43判断检测数据中的任一光学特性未合乎标准数据中订定的条件时，进行步骤45以便为所检测的光学元件产生一不良品的判级数据。凡本领域技术人员应当了解，上述的步骤同样能够应用于其它检测数据的判级。程序104是储存检测数据及判级数据。在本实施例中，检测数据及判级数据可以储存于一般的电子数据库中，因此，厂商能够非常容易地从电子数据库中取得光学元件的检测数据及判级数据，进而从检测数据中可以检视光学元件的光学特性，从判级数据中更可以直接判断光学元件是合乎所需的光学产品的标准。此外，请参照图5所示，依本专利技术另一较佳实施例的检测判级方法2包括以下所述的程序201～206。首先，在程序201中，一使用者输入一使用者数据，以便在本程序中接收并储存使用者数据。在本实施例中，使用者可以透过使用者输入接口，如鼠标、键盘等，输入使用者数据。接着，程序202输出一控制信号至光学仪器，以控制光学仪器测量光学元件。在本实施例中，可以透过前述的GPIB接口输出控制信号至光学仪器，而光学仪器能够依据所接收到的控制信号执行光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测判级方法，其用以检测、判级一光学元件，包含：接收一光学仪器测量该光学元件所输出的一光学数据；依据该光学数据产生一检测数据；比较该检测数据与一预设的标准数据以产生一判级数据；以及储存该检测数据及该判级数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张光华，林金霖，
申请(专利权)人：精碟科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]