光纤剩余应力的测量系统技术方案

一种光纤剩余应力的测量系统，其特征在于，它包括：　　　　光源，用于产生光；　　　　透镜单元，用于将所产生的光转换成平面波；　　　　偏振计，用于将所转换的光变换成输入的偏振光；　　　　旋转测量部分，用以旋转所述光纤，以便能使偏振光沿各种方向穿过所述光纤；以及　　　　探测器，用于根据透过光纤的光的相移检测具有非对称圆形应力分布的剩余应力。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤剩余应力测量系统，具体地说，涉及一种测量保持在光纤中并具有不对称圆形应力分布之剩余应力的测量系统。
技术介绍
一般地说，光纤内会保持有拉制光纤制作阶段所产生的剩余应力。这种剩余应力对光纤折射率方面会引起所不希望有的变化，并因此而增大光纤中因光弹性效应所引致的光损耗。同样地，必须精确地测量光纤中的剩余应力及其分布，然后对它们做相应的调节。通常利用光弹性效应测量光纤中的剩余应力，所谓光弹性效应是光纤的折射率沿着透明的固态介质，如光纤中剩余应力的方向变化的现象。于是，光纤或预成型光纤的折射率沿偏振方向变化，观察这种变化，可以测量光纤中的剩余应力。图1是常规测量光纤中剩余应力系统的示意图，图2表示沿光路的相移。如图1所示，常规的剩余应力测量系统包括光源10，如激光器；用于准直所产生的光的透镜单元30；用于使准直光偏振的偏振计50；剩余应力测量部分60，以及光探测器70，用于测量由光纤中所保持的剩余应力引起的光弹性效应所产生的相移。在运行过程中，由光源10，如氦氖激光器投射的光受到反射镜20的反射，穿过透镜单元30，转换成平面波，所述透镜单元30包括光束漫射体31、透镜3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：卢成仁，金现哲，朴用雨，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：