【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】复合体及复合体的制造方法
本专利技术涉及复合体及其制造方法,所述复合体包含由金属成型体和粘接剂形成的复合体。
技术介绍
已知有下述专利技术:对金属成型体的表面连续照射连续波激光光线而进行粗糙化从而形成为多孔结构之后,隔着粘接剂层与树脂成型体、其它金属成型体接合而制造复合成型体(参照日本专利第5959689号公报(专利文献1)、日本专利第5860190号公报(专利文献2))。上述粘接剂层由进入金属成型体的经粗糙化后的多孔结构部分的粘接剂形成,可认为,其孔结构越复杂,则由粘接剂层带来的接合效果越高,如果为相同孔结构,则孔深度越深,则由粘接剂层带来的接合强度越高。
技术实现思路
本专利技术的课题在于提供一种复合体及其制造方法,其通过使金属成型体所具有的多孔结构部的孔深度的平均最大高低差与现有技术相比更浅、并且减小孔深度(孔深度的最大高低差)的偏差,从而可以得到更高的接合强度和耐久性。本专利技术提供一种复合体,其包含金属成型体和粘接剂层,上述金属成型体具有形成于表层部的多孔结构部,上述粘接 ...
【技术保护点】
1.一种复合体,其包含金属成型体和粘接剂层,/n所述金属成型体具有形成于表层部的多孔结构部,/n所述粘接剂层形成于包含所述多孔结构部的部分,/n通过下述方法测定的所述金属成型体的所述多孔结构部的最大高低差的平均值为30~200μm的范围,并且,以所述平均最大高低差为基准时,成为计算所述平均最大高低差的依据的最大高低差的范围在±40%的范围内,/n平均最大高低差的测定方法:/n对于所述金属成型体的多孔结构部中的20mm×20mm的面积区域(在小于20mm×20mm的情况下为全部面积区域),随机地选择最多10处长度500μm的范围,由SEM的截面照片测量所述最多10处长度500 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180511 JP 2018-092176;20181130 JP 2018-2249511.一种复合体,其包含金属成型体和粘接剂层,
所述金属成型体具有形成于表层部的多孔结构部,
所述粘接剂层形成于包含所述多孔结构部的部分,
通过下述方法测定的所述金属成型体的所述多孔结构部的最大高低差的平均值为30~200μm的范围,并且,以所述平均最大高低差为基准时,成为计算所述平均最大高低差的依据的最大高低差的范围在±40%的范围内,
平均最大高低差的测定方法:
对于所述金属成型体的多孔结构部中的20mm×20mm的面积区域(在小于20mm×20mm的情况下为全部面积区域),随机地选择最多10处长度500μm的范围,由SEM的截面照片测量所述最多10处长度500μm的范围内的多孔结构物的孔的最大高低差,求出所述最大高低差的平均值。
2.根据权利要求1所述的复合体,其中,
所述金属成型体的多孔结构部的平均最大高低差为40~150μm的范围,并且,以所述平均最大高低差为基准时,成为计算所述平均最大高低差的依据的最大高低差的范围在±35%的范围内。
3.根据权利要求1所述的复合体,其中,
所述金属成型体的多孔结构部的平均最大高低差为60~125μm的范围,并且,以所述平均最大高低差为基准时,成为计算所述平均最大高低差的依据的最大高低差的范围在±35%的范围内。
4.根据权利要求1所述的复合体,其中,
所述金属成型体的多孔结构部的平均最大高低差为70~100μm的范围,并且,以所述平均最大高低差为基准时,成为计算所述平均最大高低差的依据的最大高低差的范围在±35%的范围内。
5.一种复合体,其包含金属成型体及非金属成型体,
其中,权利要求1~4中任一项所述的复合体与非金属成型体经由所述复合体的粘接剂层而被一体化。
6.一种复合体,其在第1金属成型体与第2金属成型体的接合面具有粘接剂层,其中,
所述第1金属成型体具有形成于表层部的第1多孔结构部,所述第2金属成型体具有形成于表层部的第2多孔结构部,
所述粘接剂层形成于包含所述第1多孔结构部的部分和包含所述第2多孔结构部的部分中的至少一者,
通过下述方法测定的所述第1金属成型体的第1多孔结构部与所述第2金属成型体的第2多孔结构部各自的最大高低差的平均值为30~200μm的范围,并且,以所述平均最大高低差为基准时,成为计算所述平均最大高低差的依据的各个最大高低差的范围在±40%的范围内,
平均最大高低差的测定方法:
对于所述金属成型体的第1多孔结构部和第2多孔结构部中的20mm×20mm的面积区域(在小于20mm×20mm的情况下为全部面积区域),随机地选择最多10处长度500μm的范围,由SEM的截面照片测量所述最多10处长度500μm的范围内的多孔结构物的孔的最大高低差,求出所述最大高低差的平均值。
7.根据权利要求6所述的复合体,其中,
所述第1金属成型体的第1多孔结构部和所述第2金属成型体的第2多孔结构部各自的平均最大高低差为40~150μm的范围,并且,以所述平均最大高低差为基准时,成为计算所述平均最大高低差的依据的最大高低差的范围在±35%的范围内。
8.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员:板仓雅彦,清水洁,宇野孝之,片山昌广,
申请(专利权)人:大赛璐美华株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。