光轴与安装基面平行度的检验方法技术

本发明专利技术涉及光轴与安装基面平行度的检验方法：调整平台使平行光管５的光轴、平行光管７的光轴与平板相平行；将被测系统置于平板上，使平行光管十字线及电十字线经被测系统成像在显示器上；当被测系统的光轴与平板不平行时，则这两个十字线图像不重合，调整平台使平行光管７的光轴与被测光学系统的光轴平行；平行光管７的光轴与平行光管５的光轴不再平行，测出两个光轴偏离的角度，则完成了光学系统光轴与其安装基面平行度的检验。本发明专利技术采用的平板将被测光学系统的安装平面转换到平板上；利用棱镜将光学系统的光轴与平板的平行度的测量转换为两个平行光管光轴平行度的测量。可广泛应用于航天、航空光学系统光轴与其安装基面平行度的检验。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学仪器检验
，尤其涉及一种对光学系统光轴与其安装基面平行度的检验方法。
技术介绍
随着航空、航天事业的发展，对许多光学系统(如无人机侦察光学系统等)提出了光轴对安装基面平行度的要求。为保证光学系统在使用过程中保持稳定，设计时往往不加调整机构，而是通过机械加工和装调的手段使二者的平行度达到要求，并具有防震抗冲击的性能，确保在使用中不发生变化。这项指标在使用前应进行严格的检查，保证其达到设计要求。光学系统的光轴对安装基面平行度是光学系统一项新的测量指标，目前没有查到关于这项指标的可供参考和借鉴的测量方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是将要提供一种用于光学系统的，如图1、图2所示(a)调整平台1与平板(如图1a)首先将平面度较好的平板2置于平台1上，调整平台1使平板2的平面处于水平状态，在平板上放置棱镜；(b)调整平台4与平行光管5调整平台4使其上的平行光管5发出的平行光经棱镜反射后自准成像(如图2a)，从而使平行光管5的光轴与平板的平面相平行；(c)调整平台6与平行光管7取下棱镜(如图1b)，调整平台6上的平行光管7，平行光管7焦面上的十字线成像在平行光管5焦面上本文档来自技高网...

【技术保护点】
光轴与安装基面平行度的检验方法，其特征在于：其检验步骤如下：（ａ）调整平台（１）与平板（２）：首先将平面度较好的平板（２）置于平台（１）上，调整平台（１）使平板（２）的平面处于水平状态，在平板（２）上放置棱镜（３）；（ｂ）调 整平台（４）与平行光管（５）：调整平台（４）使其上的平行光管（５）发出的平行光经棱镜（３）反射后自准成像，从而使平行光管（５）的光轴与平板（２）的平面相平行；（ｃ）调整平台（６）与平行光管（７）：取下棱镜（３），调整平台（６）上的平 行光管（７），平行光管（７）焦面上的十字线成像在平行光管（５）焦面上，使平行光管（７）焦面上的十...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：叶露，马军，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：82[中国|长春]