传感器测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种传感器测试装置，其包括测试治具、发热组件、输出检测装置以及上位机；测试治具设有测试腔体，其用于安装至少部分延伸至测试腔体内的待测元件；发热组件固定于测试治具且至少部分收容于测试腔体内，其用于产生热量以模拟热源；输出检测装置用于与待测元件电连接以检测该待测元件是否产生触发电信号，且用于将该触发电信号进行二值化处理后并发送；上位机分别电连接于发热组件和输出检测装置，用于控制发热组件产生热量，且用于接收经二值化处理后的触发电信号，并根据该经二值化处理后的触发电信号输出测试结果。与相关技术相比，本实用新型专利技术的传感器测试装置操作简单、测试效率高且测试可靠性高。

【技术实现步骤摘要】
传感器测试装置
本技术涉及传感器领域，尤其涉及一种运用于PIR传感器测试的传感器测试装置。
技术介绍
随着投影仪亮度的提高，在出光路径进行人体检测以保护人眼的需要越来越重要。目前，由于PIR(PassiveInfraRed，中文称为被动红外)传感器的成本低，在投影仪中通常采用PIR传感器以实现人体检测。由于具有超短焦结构的投影仪的流行，其中PIR传感器的应用场景多为近距离检测。相关技术中，利用PIR传感器的热释电效应以实现对其人体检测的性能，在对PIR传感器的性能进行测试时，通常需要设置与PIR传感器对应的模拟人体热源的靶装置，并通过机械结构移动将PIR传感器在靶装置附近进行移动，直至PIR传感器检测靶装置的热量以产生电信号，最终根据电信号进行数据分析以获得该PIR传感器性能测试结果。然而，相关技术中，由于PIR传感器在一个开放的环境中进行测试，由于外部环境中存在流动热风，使得PIR传感器容易受到流动热风的影响，从而导致测试结果不准确，降低了测试的可靠性；而且需要通过人工或者机械结构对PIR传感器进行多次的移动，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种传感器测试装置，其特征在于，其包括：/n测试治具，所述测试治具设有测试腔体，其用于安装至少部分延伸至所述测试腔体内的待测元件；/n发热组件，所述发热组件固定于所述测试治具且至少部分收容于所述测试腔体内，其用于产生热量以模拟热源；/n输出检测装置，所述输出检测装置用于与待测元件电连接以检测该待测元件是否产生触发电信号，且用于将该触发电信号进行二值化处理后并发送；以及，/n上位机，所述上位机分别电连接于所述发热组件和所述输出检测装置，用于控制所述发热组件产生热量，且用于接收经二值化处理后的触发电信号，并根据该经二值化处理后的触发电信号输出测试结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种传感器测试装置，其特征在于，其包括：
测试治具，所述测试治具设有测试腔体，其用于安装至少部分延伸至所述测试腔体内的待测元件；
发热组件，所述发热组件固定于所述测试治具且至少部分收容于所述测试腔体内，其用于产生热量以模拟热源；
输出检测装置，所述输出检测装置用于与待测元件电连接以检测该待测元件是否产生触发电信号，且用于将该触发电信号进行二值化处理后并发送；以及，
上位机，所述上位机分别电连接于所述发热组件和所述输出检测装置，用于控制所述发热组件产生热量，且用于接收经二值化处理后的触发电信号，并根据该经二值化处理后的触发电信号输出测试结果。


2.根据权利要求1所述的传感器测试装置，其特征在于，所述发热组件包括信号发生器、功率放大器以及发热元件；所述信号发生器分别电连接于所述输出检测装置和所述上位机，所述功率放大器电连接于所述信号发生器，所述发热元件固定于所述测试治具并电连接于所述功率放大器，且所述发热元件收容于所述测试腔体内。


3.根据权利要求2所述的传感器测试装置，其特征在于，所述发热元件为低热熔发热丝。


4.根据权利要求1所述的传感器测试装置，其特征在于，所述测试治具包括具有开口的保温罩以及橡胶塞，所述橡胶塞安装于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪昀，陈保林，刘颖，
申请(专利权)人：深圳光峰科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44