IC卡测试方法、设备、系统和计算机可读存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种IC卡测试方法，该方法包括：获取目标交易设备对应的测试用例；按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作；根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数。本发明专利技术还公开了一种测试设备、IC卡测试系统和计算机可读存储介质。本发明专利技术旨在提高不同的IC卡与交易设备兼容性的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
IC卡测试方法、设备、系统和计算机可读存储介质
本专利技术涉及智能卡检测
，尤其涉及IC卡测试方法、测试设备、IC卡测试系统和计算机可读存储介质。
技术介绍
随着经济技术的发展，人们对智能化的需求越来越高，IC卡在日常交易中的应用也越来越广泛，发卡机构所发行的IC卡的种类也越来越多。在IC卡正式发行之前一般需要与其所应用的交易设备进行兼容性测试，以保证IC卡的可在后续交易过程中正常使用。然而，每开发一种新的卡片均需安排人员到交易设备的现场进行刷卡以完成IC卡的兼容性测试，而IC卡所应用的交易设备分布在不同的地方，导致测试效率十分低下。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种IC卡测试方法，旨在提高不同的IC卡与交易设备兼容性的测试效率。为实现上述目的，本专利技术提供一种IC卡测试方法，应用于测试设备，所述IC卡测试方法包括以下步骤：获取目标交易设备对应的测试用例；按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作；根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数。可选地，所述获取目标交易设备对应的测试用例的步骤之前，还包括：获取目标交易设备的交易流程数据，获取所述目标交易设备的读卡参数；根据所述交易流程数据和所述读卡参数生成所述测试用例。可选地，所述获取所述目标交易设备的读卡参数的步骤包括：获取所述目标交易设备的射频模块在设定交易状态下的第一射频参数；根据所述第一射频参数生成对应的第一调制波形参数；确定所述第一调制波形参数为所述读卡参数；其中，所述设定交易状态为所述目标交易设备读取样本IC卡的第二交易信息、且采用所述第二交易信息执行交易操作的状态，所述样本IC卡为与所述目标交易设备兼容的IC卡，所述射频模块设置为读取其射频范围内IC卡的信息。可选地，所述获取所述目标交易设备的射频模块在设定交易状态下的第一射频参数的步骤包括：获取多个设定读卡距离分别对应的所述第一射频参数；所述设定读卡距离为所述样本IC卡与所述目标交易设备的距离；所述根据所述第一射频参数生成对应的第一调制波形参数的步骤包括：根据每个所述设定读卡距离对应的第一射频参数生成对应的第一调制波形参数。可选地，所述根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数的步骤包括：在所述多个设定读卡距离中，确定所述目标交易设备对应的目标读卡距离；若所述目标读卡距离对应的测试用例输出的交易结果为交易成功，则确定所述兼容性评价参数为所述待测IC卡与所述目标交易设备兼容；若所述目标读卡距离对应的测试用例输出的交易结果为交易失败，则确定所述兼容性评价参数为所述待测IC卡与所述目标交易设备不兼容。可选地，所述根据所述交易流程数据和所述读卡参数生成所述测试用例的步骤之前，还包括：按照所述读卡参数读取所述样本IC卡的信息，获取所述测试设备的射频模块的第二射频参数；根据所述第二射频参数生成对应的第二调制波形参数；若所述第一调制波形参数与所述第二调制波形参数匹配，则执行所述根据所述交易流程数据和所述读卡参数生成所述测试用例的步骤。可选地，所述获取目标交易设备的交易流程数据的步骤包括：获取所述目标交易设备在所述设定交易状态下的流程信息和协议层数据；根据所述流程信息和所述协议层数据生成协议层的数据脚本；确定所述数据脚本为所述交易流程数据。此外，为了实现上述目的，本申请还提出一种测试设备，所述测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的IC卡测试程序，所述IC卡测试程序被所述处理器执行时实现如上任一项所述的IC卡测试方法的步骤。此外，为了实现上述目的，本申请还提出一种IC卡测试系统，所述IC卡测试系统包括如上所述的测试设备和数据采集设备，所述数据采集设备包括：探测天线，所述探测天线设置为抓取目标交易设备的交易流程数据和读卡参数；样本IC卡，所述样本IC卡为与目标交易设备兼容的IC卡；垫片，所述垫片设于所述探测天线与所述样本IC卡之间。此外，为了实现上述目的，本申请还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有IC卡测试程序，所述IC卡测试程序被处理器执行时实现如上任一项所述的IC卡测试方法的步骤。本专利技术提出的一种应用于测试设备的IC卡测试方法，该方法获取目标交易设备对应的测试用例，按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作，根据测试用例输出的交易操作的交易结果来确定待测IC卡与目标交易设备的兼容性评价参数，通过此方式，即使需要对不同的IC卡进行测试，无需安排人员到交易设备的现场，只需通过测试设备运行目标交易设备的测试用例便可完成不同IC卡与交易设备的兼容性测试，有利于提高不同的IC卡与交易设备兼容性的测试效率。附图说明图1为本专利技术测试设备一实施例运行涉及的硬件结构示意图；图2为本专利技术数据采集设备一实施例的结构示意图；图3为本专利技术IC卡测试方法一实施例的流程示意图；图4为本专利技术IC卡测试方法另一实施例的流程示意图；图5为图4中获取目标交易设备的交易流程数据的细化流程示意图；图6为图4中获取所述目标交易设备的读卡参数的细化流程示意图；图7为本专利技术IC卡测试方法又一实施例的流程示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术实施例的主要解决方案是：获取目标交易设备对应的测试用例；按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作；根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数。由于现有技术中，每开发一种新的卡片均需安排人员到交易设备的现场进行刷卡以完成IC卡的兼容性测试，而IC卡所应用的交易设备分布在不同的地方，导致测试效率十分低下。本专利技术提供上述的解决方案，旨在提高不同的IC卡与交易设备兼容性的测试效率。本专利技术实施例提出一种测试设备，可应用于对IC卡与交易设备之间的兼容性进行测试。在本实施例中，IC卡具体为用于交易（如支付、充值等）的金融电子卡片。在本专利技术实施例中，参照图1，测试设备具体包括：处理器1001（例如CPU），存储器1002，数据接口1003，射频模块1004等。存储器1002可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器（non-volatilememory），例如磁盘存储器。存储器1002可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。存储器1002、数据接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种IC卡测试方法，应用于测试设备，其特征在于，所述IC卡测试方法包括以下步骤：/n获取目标交易设备对应的测试用例；/n按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作；/n根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种IC卡测试方法，应用于测试设备，其特征在于，所述IC卡测试方法包括以下步骤：
获取目标交易设备对应的测试用例；
按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作；
根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数。


2.如权利要求1所述的IC卡测试方法，其特征在于，所述获取目标交易设备对应的测试用例的步骤之前，还包括：
获取目标交易设备的交易流程数据，获取所述目标交易设备的读卡参数；
根据所述交易流程数据和所述读卡参数生成所述测试用例。


3.如权利要求2所述的IC卡测试方法，其特征在于，所述获取所述目标交易设备的读卡参数的步骤包括：
获取所述目标交易设备的射频模块在设定交易状态下的第一射频参数；
根据所述第一射频参数生成对应的第一调制波形参数；
确定所述第一调制波形参数为所述读卡参数；
其中，所述设定交易状态为所述目标交易设备读取样本IC卡的第二交易信息、且采用所述第二交易信息执行交易操作的状态，所述样本IC卡为与所述目标交易设备兼容的IC卡，所述射频模块设置为读取其射频范围内IC卡的信息。


4.如权利要求3所述的IC卡测试方法，其特征在于，所述获取所述目标交易设备的射频模块在设定交易状态下的第一射频参数的步骤包括：
获取多个设定读卡距离分别对应的所述第一射频参数；所述设定读卡距离为所述样本IC卡与所述目标交易设备的距离；
所述根据所述第一射频参数生成对应的第一调制波形参数的步骤包括：
根据每个所述设定读卡距离对应的第一射频参数生成对应的第一调制波形参数。


5.如权利要求4所述的IC卡测试方法，其特征在于，所述根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数的步骤包括：
在所述多个设定读卡距离中，确定所述目标交易设备对应的目标读卡距离；

【专利技术属性】
技术研发人员：王欢，甄永峰，赵红宇，荣丽芳，
申请(专利权)人：深圳市深圳通有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44