安全芯片SPI接口测试方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术实施方式涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种安全芯片SPI接口测试方法、装置及系统。所述方法包括：所述安全芯片的SPI接口与测试设备的对应接口相连，接收输入的第一测试指令，所述第一测试指令包括打开函数、收发函数或关闭函数；通过API函数库解析所述第一测试指令，生成所述测试设备能够执行的且与所述第一测试指令功能对应的第二测试指令；获取所述测试设备响应于所述第二测试指令，对所述SPI接口进行操作并返回的操作结果；基于所述操作结果确定所述安全芯片的SPI接口是否正常。同时还提供了对应的装置和系统。本发明专利技术提供的实施方式，能够提升安全芯片SPI接口的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
安全芯片SPI接口测试方法、装置及系统
本专利技术涉及芯片测试
，特别涉及一种安全芯片SPI接口测试方法、一种安全芯片SPI接口测试装置及一种安全芯片SPI接口测试系统。
技术介绍
随着智能电网与智能电表的广泛应用，安全芯片对于保护智能电网与智能电表的通信数据起到了至关重要的作用。同时，交互数据量的增大，对于通信测试的要求越来越高。SPI通信协议由于其高速、同步串行以及全双工等优点，已经广泛应用于智能电表安全芯片的数据交互中。这时，对于芯片评价人员带来的问题就是，如何使安全芯片能够达到高速通信并且保证其稳定性。这就是考量芯片评价人员在具体测试工作中，尽可能全面的兼容SPI通信的测试设备。面对繁多的符合SPI协议的通信设备，不同的测试设备商家提供的实现SPI通信的测试设备的API函数是通过动态链接库（文件尾缀*.dll）实现的，具有API函数较多、名称各异、形参种类复杂等特点，尤其对于指针形式的形参的调用很可能出现错误。SPI（SerialPeripheralInterface），串行外设接口；API（Application本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种安全芯片SPI接口测试方法，所述安全芯片的SPI接口与测试设备的对应接口相连，其特征在于，所述测试方法包括：/n接收输入的第一测试指令，所述第一测试指令包括打开函数、收发函数或关闭函数；/n通过API函数库解析所述第一测试指令，生成所述测试设备能够执行的且与所述第一测试指令功能对应的第二测试指令；/n获取所述测试设备响应于所述第二测试指令，对所述SPI接口进行操作并返回的操作结果；/n基于所述操作结果确定所述安全芯片的SPI接口是否正常。/n

【技术特征摘要】
1.一种安全芯片SPI接口测试方法，所述安全芯片的SPI接口与测试设备的对应接口相连，其特征在于，所述测试方法包括：
接收输入的第一测试指令，所述第一测试指令包括打开函数、收发函数或关闭函数；
通过API函数库解析所述第一测试指令，生成所述测试设备能够执行的且与所述第一测试指令功能对应的第二测试指令；
获取所述测试设备响应于所述第二测试指令，对所述SPI接口进行操作并返回的操作结果；
基于所述操作结果确定所述安全芯片的SPI接口是否正常。


2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，
所述打开函数用于建立与所述安全芯片的SPI通信连接；
所述收发函数用于在所述SPI通信连接已建立后，传递与所述安全芯片的交互信息；
所述关闭函数用于断开与所述安全芯片的所述SPI通信连接。


3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述API函数库包括：
调用接口，用于提供所述打开函数、所述收发函数和所述关闭函数供外部调用，以此获取所述第一测试指令；
API函数集合，包括多种不同类型的测试设备能够执行的API函数的集合；以及
对应关系，所述对应关系为所述第一测试指令与API函数之间的对应关系。


4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述通过API函数库解析所述第一测试指令，生成所述测试设备能够执行的且与所述第一测试指令功能对应的第二测试指令，包括：
基于所述对应关系、第一测试指令的功能和第一测试指令的输入参数，从所述API函数集合中匹配确定对应的API函数；
基于所述第一测试指令的输入参数确定所述对应的API函数中的参数；
将确定参数后的所述对应的API函数作为所述第二测试指令。

【专利技术属性】
技术研发人员：王栋，魏斌，成嵩，胡晓波，窦志军，徐靖林，
申请(专利权)人：北京智芯微电子科技有限公司，国网信息通信产业集团有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11